用于合并光路的光学主体系统技术方案

本公开描述了一种用于合并光路的光学主体系统，包括：光学主体座、测距模块和光路调节模块，测距模块至少包括第一测距模块和第二测距模块，第一测距模块包括生成第一光束的第一发生单元和使第一光束出射的第一发射单元，第二测距模块包括生成第二光束的第二发生单元和使第二光束出射的第二发射单元；光路调节模块包括合并单元和多个反射单元，多个反射单元包括用于反射第一光束至预设路径的第一反射单元和用于反射第二光束至预设路径的第二反射单元，合并单元设置于预设路径，并配置为透射第一光束的同时反射第二光束以合并第一光束和第二光束。根据本公开，能够提供一种优化坐标测量仪器的结构尺寸并且简化光路结构的光学主体系统。光学主体系统。光学主体系统。

【技术实现步骤摘要】
用于合并光路的光学主体系统


[0001]本公开涉及一种智能制造装备产业，具体涉及一种用于合并光路的光学主体系统。

技术介绍

[0002]近年来，激光跟踪仪、激光绝对测距仪等坐标测量仪器受到了工业测量行业的广泛重视，并且逐渐成为工业测量行业中应用较为广泛的测量工具。由于坐标测量仪的机械部件过多、结构复杂等因素，坐标测量仪器的结构尺寸一般较大。
[0003]在坐标测量仪器中，通常采用绝对测距模块和相对测距模块测量仪器与辅助测量装置的距离和/或辅助测量装置的空间坐标。在现有的坐标测量仪器中，绝对测距模块和相对测距模块通常被集成为一个模块并固定安装在光学主体的一侧，或者分别集成为两个模块安装于光学主体的两侧。上述结构的设计会使得坐标测量仪器的尺寸过大，不易移动或携带。同时绝对测距模块和相对测距模块在空间位置上的设计使得激光光束在出射前需要经过更长的路径，激光光束的路径容易发生较大的漂移，从而导致坐标测量仪器的测量精度有所降低，难以满足高精度测量的需求，并且坐标测量仪器的结构尺寸过大也会降低测量时的灵敏度。
专利技术内容
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于合并光路的光学主体系统，其特征在于，包括：光学主体座、设置于所述光学主体座的测距模块和光路调节模块，所述测距模块至少包括第一测距模块和第二测距模块，所述第一测距模块包括生成第一光束的第一发生单元和使所述第一光束出射的第一发射单元，所述第二测距模块包括生成第二光束的第二发生单元和使所述第二光束出射的第二发射单元；所述光路调节模块包括合并单元和多个反射单元，所述多个反射单元包括用于反射所述第一光束至预设路径的第一反射单元和用于反射所述第二光束至所述预设路径的第二反射单元，所述合并单元设置于所述预设路径，并配置为透射所述第一光束的同时反射所述第二光束以合并所述第一光束和所述第二光束。2.根据权利要求1所述的光学主体系统，其特征在于，所述第一反射单元包括第一反射镜和第二反射镜，所述第一反射镜配置为反射所述第一光束以使所述第一光束到达所述第二反射镜，所述第二反射镜配置为反射所述第一光束以使所述第一光束以第一方向到达所述合并单元。3.根据权利要求2所述的光学主体系统，其特征在于，所述第一反射镜设置于沿着所述第一发射单元的发射方向的延长线处，所述第二反射镜设置于所述预设路径的延长线处。4.根据权利要求2或3所述的光学主体系统，其特征在于，所述第一反射镜与所述第一光束的夹角和所述第二反...

【专利技术属性】
技术研发人员：张和君，冯福荣，陈源，廖学文，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：