基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置及方法制造方法及图纸

技术编号:33135816 阅读:32 留言:0更新日期:2022-04-17 01:00
本发明专利技术公开了基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置及方法,涉及电缆缺陷判断技术领域;装置包括获得特征库模块和检测模块,获得特征库模块,用于处理器获得由电缆电场分布线图组成的特征库,特征库包括正常电缆电场分布线图和缺陷电缆电场分布线图,检测模块,用于处理器获得待检测电缆电场分布线图,基于特征库将待检测电缆电场分布线图分类并获得待检测电缆的状态,方法包括S1获得特征库和S2检测,其通过处理器获得待检测电缆电场分布线图,基于特征库将待检测电缆电场分布线图分类并获得待检测电缆的状态,实现判断电缆缺陷的效率较高。效率较高。效率较高。

【技术实现步骤摘要】
基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置及方法


[0001]本专利技术涉及电缆缺陷判断
,尤其涉及一种基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置及方法。

技术介绍

[0002]高压直流电缆输电是电力输送的主要形式之一,交联聚乙烯,英文名称为cross

linkedpolyethylene,缩写为XLPE,电缆凭借其良好的电气及机械性能,成为高压直流电力电缆的主流。近年来,高压直流电缆制造技术发展迅猛,但关于其绝缘状态检测及故障诊断等运维技术的研究相对滞后。局部放电,英文名称为Partial Discharges,缩写为PD,是导致电力电缆绝缘劣化和老化的主要形式之一。同时,局部放电检测是重要的电缆绝缘状况检测和早期故障诊断手段之一。关于交流XLPE电缆局部放电特征分析、检测标准及辨识技术的研究已日趋完善,但针对直流XLPE电缆的该方面研究极少。一方面,直流电缆研究相较交流电缆起步较晚,另一方面,由于直流局放缺少相位信息,其特征规律方面的研究相比交流局放更加复杂。
[0003]申请公布号为CN 104698355 A,名称为高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:包括获得特征库模块和检测模块,所述获得特征库模块为程序模块,用于处理器获得由电缆电场分布线图组成的特征库,特征库包括正常电缆电场分布线图和缺陷电缆电场分布线图;所述检测模块为程序模块,用于处理器获得待检测电缆电场分布线图,基于特征库将待检测电缆电场分布线图分类并获得待检测电缆的状态。2.根据权利要求1所述的基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:所述获得特征库模块包括获得正常电缆电场分布线图模块,获得正常电缆电场分布线图模块为程序模块,用于处理器获得电缆模型,基于静电场添加激励,处理器获得电缆模型的电场分布线图,该电场分布线图为正常电缆电场分布线图。3.根据权利要求2所述的基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:所述获得特征库模块还包括获得缺陷电缆电场分布线图模块,获得缺陷电缆电场分布线图模块为程序模块,用于通过处理器将杂质放置在电缆模型上,处理器获得电缆模型的电场分布线图,该电场分布线图为缺陷电缆电场分布线图。4.根据权利要求2所述的基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:所述电缆模型包括从内到外依次分布的缆芯、第一半导体层、第一绝缘层、第二半导体层、屏蔽层和第二绝缘层,所述待检测电缆的状态包括正常。5.根据权利要求3所述的基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:所述杂质包括导体颗粒、半导体颗粒和水滴,所述缺陷电缆电场分布线图包括第一至第三类缺陷电场分布线图,所述第一类缺陷电场分布线图为由导体颗粒影响电缆模型获得的电场分布线图,所述第二类缺陷电场分布线图为由半导体颗粒影响电缆模型获得的电场分布线图,所述第三类缺陷电场分布线图为由水滴影响电缆模型获得的电场分布线图,所述待检测电缆的状态包括第一至第三类缺陷,所述第一类缺陷为由导体颗粒导致的缺陷并与第一类缺陷电场分布线图相对应,所述第二类缺陷为由半导体颗粒导致的缺陷并与第二类缺陷电场分布线图相对应,所述第三类缺陷为由水滴导致的缺陷并与第三类缺陷电场分布线图相对应。6.根据权利要求1所述的基于电场分析的输电电缆缺陷判断装置,其特征在于:还包括频谱分析仪和计算机以及有限单元模块,所述频谱分析仪与计算机连接并通信,所述获得特征库模块和检测模块运行于计算机上,所述获得特征库模块,还用于计算机的处理器获得特征库;所述检测模块,还用于频谱分析仪获得待检测电缆电场分布线图并发往处理器;所述有限单元模块为程序模块,用于建...

【专利技术属性】
技术研发人员:李乾刘玲玉段志国韩广冯俊国孙晓云张珺刘保安郑海清刘浩然郭康王思莹吴灏王淇锋
申请(专利权)人:国家电网有限公司石家庄铁道大学
类型:发明
国别省市:

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