触发信号的发生装置、方法和芯片测试系统制造方法及图纸

本申请提供一种触发信号的发生装置、方法和芯片测试系统，能够提高芯片分析测试的全面性和准确性。该触发信号的发生装置包括：采集模块，用于采集芯片的侧信道信号；触发模块，用于根据侧信道信号产生触发信号，触发信号用于触发芯片测试设备测试芯片。通过该技术方案，单独提供一种触发信号的发生装置向芯片测试设备提供触发信号，因此不需要对芯片的接口进行配置，可以适用于芯片的黑盒分析，从而提升芯片分析的全面性。在此基础上，由于芯片的侧信道信号能够表征芯片的运行状态，因而，发生装置采集并根据该侧信道信号产生触发信号，以触发芯片测试设备对芯片进行测试，能够得到较为准确的测试结果，以提高芯片的分析测试性能。能。能。

【技术实现步骤摘要】
触发信号的发生装置、方法和芯片测试系统


[0001]本申请涉及电子
，并且更为具体地，涉及一种触发信号的发生装置、方法和芯片测试系统。

技术介绍

[0002]触发信号是指一种能够控制设备操作的使能信号，只有当设备接收特定的触发信号时，该设备用于执行特定的操作，并完成特定的功能。
[0003]在芯片的分析测试中，触发信号可应用于故障注入分析平台和侧信道采集分析平台，作为故障注入操作和侧信道采集操作的使能信号。对于目前一些常规的故障注入分析平台及侧信道采集分析平台，触发信号一般由芯片自身产生，故障注入分析平台和侧信道采集分析平台接收到芯片产生的触发信号后，对芯片执行相应的故障注入操作和侧信道采集操作。在该技术方案中，需要通过芯片的接口连接至故障注入分析平台和侧信道采集平台，该方式不仅只适合于白盒分析而不能应用于黑盒分析，而且对芯片的正常运行也造成一定的影响，因此，该技术方案不仅会限制芯片分析的全面性，且也会影响分析结果。
[0004]鉴于此，如何提高芯片分析测试的全面性和准确性，是一项亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种触发信号的发生装置、方法和芯片测试系统，能够提高芯片分析测试的全面性和准确性。
[0006]第一方面，提供一种触发信号的发生装置，连接于芯片和芯片测试设备，该发生装置包括：采集模块，用于采集芯片的侧信道信号；触发模块，用于根据侧信道信号产生触发信号，触发信号用于触发芯片测试设备测试芯片。
[0007]通过本申请实施例的技术方案，单独提供一种触发信号的发生装置向芯片测试设备提供触发信号，因此不需要通过芯片的自身接口输出触发信号，进而不需要对芯片的接口进行配置。本申请实施例的方案可以适用于芯片的黑盒分析，从而提升芯片分析的全面性。另外，本申请实施例中触发信号的生成也不会对芯片的正常运行造成影响，保证芯片分析结果的准确性。在此基础上，由于芯片的侧信道信号能够表征芯片的运行状态，因而，发生装置采集并根据该侧信道信号产生触发信号，以触发芯片测试设备对芯片进行测试，能够得到较为准确的测试结果，以提高芯片的分析测试性能。
[0008]在一些可能的实施方式中，触发模块用于对比侧信道信号和预设目标信号；在侧信道信号与预设目标信号的对比结果满足预设条件时，产生触发信号。
[0009]通过该实施方式的技术方案，可以根据分析者的经验或其它方式设定预设目标信号，并对比采集得到芯片的侧信道信号与该预设目标信号，在该侧信道信号与预设目标信号的对比结果满足预设条件时，该侧信道信号与预设目标信号的相似度较高或者侧信道信号与预设目标信号相同。因此，在该侧信道信号与预设目标信号的对比结果满足预设条件时产生触发信号，能够更有针对性的触发芯片测试设备对芯片进行测试，该测试得到的相
关信号为分析者感兴趣，且有利于得到测试结果的信号，通过该实施方式的技术方案，可以进一步提高芯片的测试准确性和测试效率。
[0010]在一些可能的实施方式中，触发模块用于对比侧信道信号的波形参数和预设目标信号的波形参数；在侧信道信号中第一侧信道信号的波形参数与预设目标信号的波形参数的对比结果为一致时，产生触发信号；其中，波形参数包括以下参数中的至少一项：波数、波形类型，波形的幅值参数和时间参数。
[0011]通过该实施方式的技术方案，通过对比侧信道信号的波形参数和预设目标信号的波形参数，并根据对比结果，可以确定侧信道信号中的第一侧信道信号与预设目标信号是否相同或相近。当第一侧信道信号与预设目标信号相同或相近时，触发模块产生触发信号以触发芯片测试设备对芯片进行测试。该实施方式下，侧信道信号与预设目标信号的相互对比较为直观，在采集芯片的侧信道信号的过程中，每出现一个与预设目标信号相同的第一侧信道信号时，即产生一个触发信号，以触发芯片测试设备对芯片进行测试，从而实现芯片可持续且有效的大量测试。
[0012]在一些可能的实施方式中，触发模块用于对侧信道信号进行模数转换形成数字信号；对比数字信号与预设目标信号对应的目标数字信号；在数字信号中第一数字信号与目标数字信号的相似度满足预设条件时，产生触发信号。
[0013]通过该实施方式的技术方案，触发模块对侧信道信号和预设目标信号进行模数转换后，再对该侧信道信号和预设目标信号对应的数字信号进行处理，有利于提升信号处理的性能和速率，也有利于对该侧信道信号和预设目标信号对应的数字信号进行存储。在采集模块采集芯片的侧信道信号的过程中，触发模块对该侧信道信号进行模数转换处理形成数字信号，在该数字信号中，每出现与预设目标信号对应的目标数字信号相似度较高的第一数字信号时，即产生一个触发信号，以触发芯片测试设备对芯片进行测试，从而实现芯片可持续且有效的大量测试。
[0014]在一些可能的实施方式中，在采集芯片的侧信道信号之前，采集模块还用于预先采集芯片在执行目标操作时的目标侧信道信号以作为预设目标信号。
[0015]通过本申请实施例的技术方案，预设目标信号能够与待测的芯片具有更好的对应性，在芯片的实际测试过程中，当采集模块采集到与预设目标信号相同或相似的第一侧信道信号时，说明芯片正在执行目标操作，此时触发模块产生触发信号以触发芯片测试设备对芯片进行测试，能够更为精准的获取芯片中的有效信息，提高芯片的测试准确度以及测试效率。
[0016]在一些可能的实施方式中，预设目标信号包括：芯片执行密码算法时产生的侧信道信号，其中，密码算法包括以下算法中的一种或多种：加密算法、解密算法、签名算法、验证签名算法、密钥生成算法或完整性校验。
[0017]在一些可能的实施方式中，预设目标信号包括以下信号中的一种或多种：芯片执行数学运算时产生的侧信道信号，芯片执行条件判断操作时产生的侧信道信号，或芯片执行循环操作时产生的侧信道信号。
[0018]通过本申请实施例的技术方案，预设目标信号可以为芯片执行目标功能操作时产生的侧信道信号，例如：芯片执行密码算法时产生的侧信道信号。或者，预设目标信号也可以为芯片执行目标程序操作时产生的侧信道信号，例如：芯片执行数学运算时产生的侧信
道信号，芯片执行条件判断操作时产生的侧信道信号，或者芯片执行循环操作时产生的侧信道信号。因此，分析者可以根据实际需求，灵活选择不同的功能操作以及程序操作对应的侧信道信号以作为预设目标信号，以使得分析者能够更具针对性的对芯片执行不同功能操作或者不同程序操作时的泄露的相关信息进行分析，提高芯片的测试准确度以及测试效率。
[0019]在一些可能的实施方式中，触发模块包括：信号处理单元和信号发生单元，信号处理单元用于根据侧信道信号确定指示信号，指示信号用于指示产生触发信号；信号发生单元用于根据指示信号生成触发信号。
[0020]在一些可能的实施方式中，信号发生单元能够生成多种触发信号，多种触发信号具有不同波形参数，且能够适配于多种类型的芯片测试设备。
[0021]通过本申请实施例的技术方案，触发模块包括独立的信号处理单元和信号发生单元，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触发信号的发生装置，其特征在于，连接于芯片和芯片测试设备，所述发生装置包括：采集模块，用于采集所述芯片的侧信道信号；触发模块，用于根据所述侧信道信号产生触发信号，所述触发信号用于触发所述芯片测试设备测试所述芯片。2.根据权利要求1所述的发生装置，其特征在于，所述触发模块用于对比所述侧信道信号和预设目标信号；在所述侧信道信号与所述预设目标信号的对比结果满足预设条件时，产生所述触发信号。3.根据权利要求2所述的发生装置，其特征在于，所述触发模块用于对比所述侧信道信号的波形参数和所述预设目标信号的波形参数；在所述侧信道信号中第一侧信道信号的波形参数与所述预设目标信号的波形参数的对比结果为一致时，产生所述触发信号；其中，所述波形参数包括以下参数中的至少一项：波数、波形类型，波形的幅值参数和时间参数。4.根据权利要求2所述的发生装置，其特征在于，所述触发模块用于对所述侧信道信号进行模数转换形成数字信号；对比所述数字信号与所述预设目标信号对应的目标数字信号；在所述数字信号中第一数字信号与所述目标数字信号的相似度满足预设条件时，产生所述触发信号。5.根据权利要求2至4中任一项所述的发生装置，其特征在于，在采集所述芯片的侧信道信号之前，所述采集模块还用于预先采集所述芯片在执行目标操作时的目标侧信道信号以作为所述预设目标信号。6.根据权利要求5所述的发生装置，其特征在于，所述预设目标信号包括：所述芯片执行密码算法时产生的侧信道信号，其中，所述密码算法包括以下算法中的一种或多种：加密算法、解密算法、签名算法、验证签名算法、密钥生成算法或完整性校验。7.根据权利要求5所述的发生装置，其特征在于，所述预设目标信号包括以下信号中的一种或多种：所述芯片执行数学运算时产生的侧信道信号；所述芯片执行条件判断操作时产生的侧信道信号；或所述芯片执行循环操作时产生的侧信道信号。8.根据权利要求1至4中任一项所述的发生装置，其特征在于，所述触发模块包括：信号处理单元和信号发生单元，所述信号处理单元用于根据所述侧信道信号确定指示信号，所述指示信号用于指示产生所述触发信号；所述信号发生单元用于根据所述指示信号生成所述触发信号。9.根据权利要求8所述的发生装置，其特征在于，所述信号发生单元能够生成多种所述触发信号，多种所述触发信号具有不同波形参数，且能够适配于多种类型的所述芯片测试设备。
10.根据权利要求1至4中任一项所述的发生装置，其特征在于，所述芯片测试设备包括：故障注入设备和/或侧信道分析设备；所述触发信号用于触发所述故障注入设备对所述芯片进行故障注入，以对所述芯片进行测试分析，和/或，所述触发信号用于触发所述侧信道分析设备采集所述芯片的侧信道信号，以对所述芯片进行测试分析。11.根据权利要求1至4中任一项所述的发生装置，其特征在于，所述侧信道信号包括：所述芯片的电磁辐射信号和/或功耗信号；所述采集模块包括测量探头，所述测量探头用于采集所述芯片的电磁辐射信号；和/或，所述采集模块包括功耗检测接口，所述功耗检测接口用于检测所述芯片的功耗信号。12.一种触发信号的发生方法，其特征在于，包括：采集芯片的侧信道信号；根据所述侧信道信号产生触发信号，所述触发信号用于触发芯片测试设备测试所述芯片。13.根据权利要求12所述的发生方法，其特征在于，所述根据所述侧信道信号产生触发信号，包括：对比所述侧信道信号和预设目标信号；在所述侧信道信号与所述预设目标信号的对比结果满足预设条件时...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭子欣，朱文锋，胡永波，张琪，胡春雅，龚彦昊，龚子超，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：