侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置；所述的测量方法如下：将图像探测器设置在LED屏幕外侧，在LED屏幕黑屏条件下，转动图像探测器并保证其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内，采集LED屏幕侧向图像；根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低，如无投影产生则LED屏幕平整度高，否则调试LED屏幕平整度；所述的测量装置中固定杆通过U型固定器固定在屏幕安装架的边缘处，图像探测器位于LED屏幕外侧并通过铰接接头与固定杆连接；图像探测器光轴位于LED屏幕前表面所在的平面内。本发明专利技术能够实现LED屏幕拼接平整度的测量，从而减少拼接屏幕平整度品质差等问题，测试装置结构简单。测试装置结构简单。测试装置结构简单。

【技术实现步骤摘要】
侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置


[0001]本专利技术属于LED显示
,涉及一种侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法及装置。

技术介绍

[0002]LED显示屏通常是由多个LED模块相互进行组装拼接而成，通常在拼接后屏幕之间会出现不同程度的缝隙或拼接面不平整问题，导致拼接平整度品质较差，因此需要对拼接后的产品模块进行平整度检测。目前的平整度测量方法通常使用塞规进行，此方法在测量时不但容易导致划伤屏幕表面，且无法对拼接的实际情况进行准确把握；此外该方法目前只能使用人工进行测量，在进行大量工作时，耗时长，计算方法繁琐。现有的LED屏幕在拼接时大多是将显示屏安装在安装架上，这种方式需要不断的调节显示屏的位置，并且相邻的显示屏之间并没有直接的连接或固定的关系，完全依靠固定架的固定使其相互组合，这种组合方式容易导致LED屏幕拼接平整度没有保障，影响使用者对LED屏幕的观看体验。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的一个技术问题是提供一种侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法，该方法操作简便，不会导致划伤屏幕表面。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法如下：将图像探测器设置在LED屏幕外侧，在LED屏幕黑屏条件下，转动图像探测器，采集LED屏幕侧向图像；图像探测器在转动过程中其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内；根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低，如无投影产生则说明LED屏幕平整度高，否则需调试LED屏幕平整度。
[0005]所述的图像探测器优选红外光采集仪；在LED屏幕黑屏条件下，将红外光采集仪打开，使红外光采集仪发出的光束照射LED屏幕，转动红外光采集仪采集LED屏幕侧向图像。
[0006]分别在红外光采集仪旋转至与LED屏幕侧面形成30
°
、45
°
、60
°
夹角时采集LED屏幕侧向图像，测量并记录LED屏幕投影尺寸，根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低。
[0007]将红外光采集仪缓慢旋转的同时连续采集LED屏幕侧向图像，观测LED屏幕投影尺寸并根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低。
[0008]本专利技术要解决的第二个技术问题是提供一种实现上述侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法的装置，该装置可采用下述两种技术方案：
[0009]技术方案一
[0010]实现上述侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法的装置包括固定杆，U型固定器，角度尺，图像探测器；所述的U型固定器包括U型结构架，第一扳手，第二扳手；U型结构架卡在屏幕安装架的边缘处，第一扳手与U型结构架的一个侧壁螺纹连接，第二扳手与U型结构架的底板螺纹连接，转动第一扳手可将U型结构架与屏幕安装架边缘夹紧固定在一起；固定杆设置在U型结构架内侧，转动第二扳手可将固定杆压紧固定在屏幕安装架侧面；图像
探测器位于LED屏幕外侧并通过铰接接头与固定杆连接；图像探测器可在垂直面内转动且转动过程中其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内；角度尺固定在固定杆上，且图像探测器的转动中心与角度尺的圆心重合。
[0011]实现上述侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法的装置包括固定杆，U型固定器，图像探测器；所述的U型固定器包括U型结构架，第一扳手；U型结构架卡在屏幕安装架的边缘处，第一扳手与U型结构架的一个侧壁螺纹连接，转动第一扳手可将U型结构架与屏幕安装架边缘夹紧固定在一起；固定杆设置在U型结构架内侧并与U型结构架固定在一起；图像探测器位于LED屏幕外侧并通过铰接接头与固定杆连接；图像探测器可在垂直面内转动且转动过程中其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内。
[0012]所述的固定杆可以为四棱柱形、圆柱形或者带有两个平行平面的其他柱形。
[0013]本专利技术用于实现对LED屏幕拼接平整度的测量，测试结果可用于对拼接屏幕调节使用，从而减少拼接屏幕平整度品质差等问题，从而保证LED屏幕显示效果；采用红外采集仪投射光源形式为光束而非光线，能更好的完成屏幕拼接平整度检测，其次采用红外光采集仪其形成的红外光谱可便于后期对屏幕拼接不平整进行校正。本专利技术的测试装置结构简单，使用方便。
附图说明：
[0014]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细说明。
[0015]图1为本专利技术实施例1的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量装置示意图。
[0016]图2为图1的俯视图。
[0017]图3为本专利技术实施例2的侧向光方式LED屏幕拼接平整度旋转光源简易测量装置示意图。
[0018]图中：1.屏幕安装架，2.固定夹，31.固定杆，321.U型结构架，322.第一扳手，323.第二扳手；33.角度尺，34.图像探测器。
具体实施方式：
[0019]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步详细说明，可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0020]在本专利技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”、“固定”应做广义的理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况具体理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0021]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或者仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”、“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示
第一特征水平高度小于第二特征。
[0022]在本实施例的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”等方位或者位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述和简化操作，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅仅用于在描述上加以区分，并没有特殊的含义。
[0023]实施例1
[0024]如图1
‑
2所示，本专利技术的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量装置包括固定杆31，U型固定器，角度尺33，图像探测器34。
[0025]所述的LED屏幕由多个显示单元拼接而成，各显示单元固定安装在屏幕安装架1上；屏幕安装架1包括多个纵向杆和横向杆，纵向杆和横向杆通过固定夹2固定在一起。
[0026]所述的U型固定器包括U型结构架32本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法，其特征在于该方法如下：将图像探测器设置在LED屏幕外侧，在LED屏幕黑屏条件下，转动图像探测器，采集LED屏幕侧向图像；图像探测器在转动过程中其光轴始终位于LED屏幕前表面所在的平面内；根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低，如无投影产生则说明LED屏幕平整度高，否则需调试LED屏幕平整度。2.根据权利要求1所述的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法，其特征在于所述的图像探测器优选红外光采集仪。3.根据权利要求2所述的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法，其特征在于分别在红外光采集仪旋转至与LED屏幕侧面形成30
°
、45
°
、60
°
夹角时采集LED屏幕侧向图像，测量并记录LED屏幕投影尺寸，根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低。4.根据权利要求2所述的侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法，其特征在于将红外光采集仪缓慢旋转的同时连续采集LED屏幕侧向图像，观测LED屏幕投影尺寸并根据LED屏幕投影尺寸判断屏幕平整度高低。5.一种实现如权利要求3所述侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量方法的装置；其特征在于该装置侧向光方式LED屏幕拼接平整度简易测量装置包括固定杆(31)，U型固定器，角度尺(33)，图像探测器(34)；所述的U型固定器包括U型结构架(321)，第一扳手(322)，第二扳手(323)；U型结构架(321)卡在屏幕安装架(1)的边缘处，第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑喜凤，陈宇，汪洋，赵丽婷，李倩影，
申请(专利权)人：长春希达电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：