一种包裹体微区取样系统技术方案

本发明专利技术公开了一种包裹体微区取样系统，包括偏光显微镜、电脑、偏转台、钻针显微操作组件、取样组件、钻机控制器、取样控制器、玻璃毛细管显微操作组件显微操作组件；偏光显微镜顶部设有摄像头，摄像头与电脑电性连接；钻针显微操作组件包括钻机底座，钻机底座上依次设有磁力万向节、三维操作手、钻机装置，钻机装置远离三维操作手的端部设有钻针；偏转台位于偏光显微镜的载物台上，偏转台上设有加热装置。本发明专利技术与现有技术相比的优点在于：能够有效地对单个包裹体取样且不破坏包裹体内部物质的化学性质，还可以封存纯度极高，并可进一步改装电动系统提高工作效率。另外对于取粉末样品是该发明专利技术的基础功能，直接钻取矿物即可获得粉末。末。末。

【技术实现步骤摘要】
一种包裹体微区取样系统


[0001]本专利技术涉及微区取样设备
，具体是指一种包裹体微区取样系统。

技术介绍

[0002]迄今为止,对油气包裹体成分的研究主要有群体包裹体分析法和单体包裹体分析法。群体包裹体成分分析技术采用破坏性分析方法,包括压碎法和热爆裂法。通过压碎(热爆裂)装置和色谱质谱的在线连接,可实现群体包裹体成分分析,主要缺点是在包裹体样品处理中很难准确获取同期次的研究样品,使得群体包裹体样品的分析结果代表性差,地质意义大受影响。
[0003]单体包裹体的研究方法逐渐受到国内外的重视,特别是随着微区微量分析技术的发展,对单体包裹体的成分分析技术有了很快发展。利用激光剥蚀技术打开包裹体,对有机质先进行富集再做色谱质谱定性定量分析,但是由于激光剥蚀系统结构和性能原因收集效率较低，另外激光剥蚀产生的高温对包裹体内的气液产生影响，无法获得针对不同世代、期次矿物和不同期次烃包裹体进行单独取样。
[0004]因此，一种性能优良能够对单体包裹体取样且不破坏气液性质的仪器亟待研究。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是解决
技术介绍
中提到的问题，提供一种包裹体微区取样系统。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供的技术方案为：一种包裹体微区取样系统，包括偏光显微镜、电脑、偏转台、钻针显微操作组件、取样组件、钻机控制器、取样控制器、玻璃毛细管显微操作组件显微操作组件；
[0007]所述偏光显微镜顶部设有摄像头，所述摄像头与电脑电性连接；
[0008]所述钻针显微操作组件包括钻机底座，所述钻机底座上依次设有磁力万向节、三维操作手、钻机装置，所述钻机装置远离所述三维操作手的端部设有钻针；
[0009]所述取样组件包括取样底座，所述取样底座上设有取样装置；
[0010]所述偏转台位于所述偏光显微镜的载物台上，位于所述偏光显微镜的物镜下方，所述偏转台上设有加热装置。
[0011]作为一种优选方案，所述物镜为长焦20x物镜。
[0012]作为一种优选方案，所述摄像头为CCD摄像头。
[0013]作为一种优选方案，所述钻机底座为铁基板。
[0014]作为一种优选方案，所述钻针为铣刀钻针。
[0015]作为一种优选方案，所述钻针显微操作组件与所述钻机控制器电性连接，所述取样组件与所述取样控制器电性连接。
[0016]作为一种优选方案，所述加热装置为直径4mm的金属加热环。
[0017]本专利技术与现有技术相比的优点在于：能够有效地对单个包裹体取样且不破坏包裹体内部物质的化学性质，还可以封存纯度极高，并可进一步改装电动系统提高工作效率。另
外对于取粉末样品是该专利技术的基础功能，直接钻取矿物即可获得粉末。
附图说明
[0018]图1是本专利技术的结构示意图。
[0019]图2是本专利技术取样部分图。
[0020]图3是本专利技术取样后保存的示意图。
[0021]如图所示：1、偏光显微镜，2、摄像头，3、电脑，4、偏转台，5、钻机装置，6、取样装置，7、三维操作手，8、磁力万向节，9、物镜，10、钻针，11、加热装置，12、玻璃毛细管显微操作组件，13、蜡液，14、气液相，15、钻机控制器，16、取样控制器。
具体实施方式
[0022]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0023]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”、“正面”、“背面”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了方便描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所致的方式或原件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，属于“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0024]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，属于“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是点连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0025]结合附图，一种包裹体微区取样系统，包括偏光显微镜1、电脑3、偏转台4、钻针显微操作组件、取样组件、钻机控制器15、取样控制器16、玻璃毛细管显微操作组件12；
[0026]所述偏光显微镜1顶部设有摄像头2，所述摄像头2与电脑3电性连接；
[0027]所述钻针显微操作组件包括钻机底座，所述钻机底座上依次设有磁力万向节8、三维操作手7、钻机装置5，所述钻机装置5远离所述三维操作手7的端部设有钻针10；
[0028]所述取样组件包括取样底座，所述取样底座上设有取样装置6；
[0029]所述偏转台4位于所述偏光显微镜1的载物台上，位于所述偏光显微镜1的物镜9下方，所述偏转台4上设有加热装置11。
[0030]所述物镜9为长焦20x物镜。
[0031]所述摄像头2为CCD摄像头。
[0032]所述钻机底座为铁基板。
[0033]所述钻针10为铣刀钻针。
[0034]所述钻针显微操作组件与所述钻机控制器15电性连接，所述取样组件与所述取样控制器16电性连接。
[0035]所述加热装置11为直径4mm的金属加热环。
[0036]本专利技术在具体实施时，直接钻取薄片即可获取粉末，对粉末取样是本系统的基础功能，不再详细介绍，主要针对难度较高的包裹体取样。
[0037]首先在偏光显微镜下观测取样的样品，在200x下找到待取样的包裹体，并初步调焦通过微调刻度估算包裹体上层厚度，将包裹体颗粒调节至视野中心，倾斜偏转台(目的是让钻针在侧面可以垂直钻取。)，由于载物台中心为焦平面包裹体不会虚焦。根据包裹体的上层岩石厚度，通过三维操作手调节铣刀钻针将包裹体上方岩石铣掉。
[0038]更换钻头，选取坚硬的针头(10微米
‑
50微米)，在包裹体上方滴一滴50
°
c液蜡(该温度不影响包裹体性质)，偏转台上方放置一个直径4mm的小金属加热环保持温度防止蜡液13流走。然后调节操作手刺破包裹体。
[0039]尺寸效应下气液相14被封在蜡液13下，此时选用10微米口径的玻璃毛细管显微操作组件，通过油压显微操作手先吸附微量蜡液13，再精确伸进包裹体内抽取气液相14，抽尽后蜡液13自动补充包裹体腔体，后续进入毛细管，此时毛细管两端为蜡液13中间为气液相14，实现了取样。
[0040]蜡液13凝固后毛细管中端气液相14即为包裹体内的气液相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种包裹体微区取样系统，其特征在于：包括偏光显微镜、电脑、偏转台、钻针显微操作组件、取样组件、钻机控制器、取样控制器、玻璃毛细管显微操作组件；所述偏光显微镜顶部设有摄像头，所述摄像头与电脑电性连接；所述钻针显微操作组件包括钻机底座，所述钻机底座上依次设有磁力万向节、三维操作手、钻机装置，所述钻机装置远离所述三维操作手的端部设有钻针；所述取样组件包括取样底座，所述取样底座上设有取样装置；所述偏转台位于所述偏光显微镜的载物台上，位于所述偏光显微镜的物镜下方，所述偏转台上设有加热装置。2.根据权利要求1所述的一种包裹体微区取样系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：李超，
申请(专利权)人：李超，
类型：发明
国别省市：