一种芯片生产用测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片生产用测试装置，包括外壳，所述外壳左侧设置有输送带，且外壳右侧设置有出料带，并且输送带内部设置有芯片槽，所述出料带一侧设置有废料板，且废料板下方设置有线轮，所述外壳内部设置有丝杆，且丝杆外侧设置有移动块，所述移动块下方设置有气缸，且气缸下方连接有吸嘴，所述外壳内部设置有滑竿，且滑竿外侧连接有定位板，所述定位板一侧设置有限位块，且定位板下方设置有检测台。该芯片生产用测试装置，利用设置的吸嘴，通过吸嘴的吸附芯片取代传统的机械手的抓取，能够有效的防止因为机械手抓取导致芯片受到过大的力造成芯片的损坏，从而保证芯片的完整，提高良品率。提高良品率。提高良品率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片生产用测试装置


[0001]本技术涉及芯片
，具体为一种芯片生产用测试装置。

技术介绍

[0002]芯片也称之为微电路或是集成电路，一般具有体积小的特点，通过集成大量的电路结构，从而实现逻辑计算能力，随着移动花联网、云计算、物联网技术的发展，对于芯片的需求也变得越来越大，在进行生产后，由于其内部结构微小，无法通过肉眼观察好坏，此时就需要使用检测装置，通过为芯片的针脚进行通电，从而检测芯片的好坏，但是目前市场上的芯片检测装置还是存在以下的问题：
[0003]1.由于芯片检测时，需要将芯片放置到专门的检测台上，并为其针脚进行通电，从而检测芯片的好坏，而在芯片的移动过程中，现有的检测装置，通过机械手夹持芯片，进行移动，而芯片本身较小，且采用硅材料制成，且强度不高，使用机械手容易造成芯片的损坏，导致良品率下降；
[0004]2.由于芯片的针脚较小，且密集，因此在放置到检测台上需要保证其精度，而现有的检测装置进行检测时，芯片的定位主要通过检测台上设置斜面结构，利用芯片的重力滑到检测槽内，实现定位，而有时机械手放置歪斜时，容易造成芯片定位不准确，导致无法与检测触点接触，导致误判的情况发生。
[0005]针对上述问题，在原有的芯片检测装置上进行创新设计。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种芯片生产用测试装置，以解决上述
技术介绍
提出的由于芯片检测时，需要将芯片放置到专门的检测台上，并为其针脚进行通电，从而检测芯片的好坏，而在芯片的移动过程中，现有的检测装置，通过机械手夹持芯片，进行移动，而芯片本身较小，且采用硅材料制成，且强度不高，使用机械手容易造成芯片的损坏，导致良品率下降，由于芯片的针脚较小，且密集，因此在放置到检测台上需要保证其精度，而现有的检测装置进行检测时，芯片的定位主要通过检测台上设置斜面结构，利用芯片的重力滑到检测槽内，实现定位，而有时机械手放置歪斜时，容易造成芯片定位不准确，导致无法与检测触点接触，导致误判的情况发生的问题。
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片生产用测试装置，包括外壳，所述外壳左侧设置有输送带，且外壳右侧设置有出料带，并且输送带内部设置有芯片槽，所述出料带一侧设置有废料板，且废料板下方设置有线轮，所述外壳内部设置有丝杆，且丝杆外侧设置有移动块，所述移动块下方设置有气缸，且气缸下方连接有吸嘴，所述外壳内部设置有滑竿，且滑竿外侧连接有定位板，所述定位板一侧设置有限位块，且定位板下方设置有检测台，所述检测台内部设置有检测触点，且检测台下方设置有减压弹簧。
[0008]优选的，所述所述外壳与输送带旋转连接，且输送带与芯片槽固定连接，所述输送带与出料带关于外壳竖直中线对称设置，且出料带与外壳旋转连接，并且出料带与芯片槽
固定连接。
[0009]优选的，所述所述外壳与挡块固定连接，且挡块关于外壳竖直中线对称设置，所述外壳与丝杆旋转连接，且丝杆与移动块螺纹连接，并且移动块与外壳滑动连接，所述移动块与气缸固定连接，且气缸与吸嘴一体化设置，并且吸嘴采用橡胶制成，所述气缸与压块固定连接，且压块与挡块构成限位结构，并且压块直径大于气缸下端的直径。
[0010]优选的，所述所述滑竿与外壳固定连接，且滑竿与定位板滑动连接，并且滑竿关于定位板竖直中线对称设置，所述定位板与复位弹簧构成弹簧复位结构，且定位板关于外壳的横向中线对称设置，所述定位板与限位块滑动连接，且限位块关于定位板竖直中线对称设置，所述限位块与磁块固定连接，且磁块与压力弹簧构成弹簧复位结构，并且磁块与电磁铁构成磁吸结构，所述定位板之间间隙宽度等于气缸下端直径。
[0011]优选的，所述检测台与外壳滑动连接，且检测台内部固定设置有检测槽，所述检测槽的尺寸与芯片尺寸相同，且检测槽上部分开口大于下方，所述检测台与检测触点固定连接，且检测触点关于检测台竖直中线对称设置，所述检测台与减压弹簧构成弹簧复位结构，且减压弹簧在检测台下方等间距设置。
[0012]优选的，所述线轮与外壳旋转连接，且线轮与拉绳构成收卷结构，所述拉绳与废料板固定连接，且废料板与外壳旋转连接，并且废料板旋转轴处于废料板左侧，所述废料板左侧处于排废槽上方，且废料板宽度等于出料带的宽度。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该芯片生产用测试装置，
[0014]1.利用设置的吸嘴，通过吸嘴的吸附芯片取代传统的机械手的抓取，能够有效的防止因为机械手抓取导致芯片受到过大的力造成芯片的损坏，从而保证芯片的完整，提高良品率；
[0015]2.通过设置的检测台，利用定位板以及限位块，从而实现对吸嘴的定位，保证每次处于检测台上方，并通过设置的减压弹簧，能够使得通过气缸将芯片压在检测槽内，保证与检测触点的接触，而减压弹簧保证不会因为压力过大导致芯片破碎。
附图说明
[0016]图1为本技术整体三维结构示意图；
[0017]图2为本技术图1中A处放大结构示意图；
[0018]图3为本技术整体右视剖面结构示意图；
[0019]图4为本技术废料槽与废料板连接左视剖面结构示意图；
[0020]图5为本技术气缸三维结构示意图。
[0021]图中：1、外壳；2、芯片槽；3、输送带；4、出料带；5、挡块；6、气缸；7、移动块；8、丝杆；9、限位块；10、滑竿；11、废料板；12、定位板；13、复位弹簧；14、吸嘴；15、压块；16、减压弹簧；17、检测触点；18、检测台；19、检测槽；20、磁块；21、电磁铁；22、压力弹簧；23、线轮；24、排废槽；25、拉绳。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的
实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1和图3，本技术提供一种技术方案：一种芯片生产用测试装置，包括外壳1，为了使得能够移动芯片时不会损坏芯片，在外壳1左侧设置有输送带3，且外壳1右侧设置有出料带4，并且输送带3内部设置有芯片槽2，出料带4一侧设置有废料板11，且废料板11下方设置有线轮23，外壳1内部设置有丝杆8，且丝杆8外侧设置有移动块7，移动块7下方设置有气缸6，且气缸6下方连接有吸嘴14，外壳1与输送带3旋转连接，且输送带3与芯片槽2固定连接，输送带3与出料带4关于外壳1竖直中线对称设置，且出料带4与外壳1旋转连接，并且出料带4与芯片槽2固定连接，外壳1与挡块5固定连接，且挡块5关于外壳1竖直中线对称设置，外壳1与丝杆8旋转连接，且丝杆8与移动块7螺纹连接，并且移动块7与外壳1滑动连接，移动块7与气缸6固定连接，且气缸6与吸嘴14一体化设置，并且吸嘴14采用橡胶制成，气缸6与压块15固定连接，且压块15本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片生产用测试装置，包括外壳（1），其特征在于：所述外壳（1）左侧设置有输送带（3），且外壳（1）右侧设置有出料带（4），并且输送带（3）内部设置有芯片槽（2），所述出料带（4）一侧设置有废料板（11），且废料板（11）下方设置有线轮（23），所述外壳（1）内部设置有丝杆（8），且丝杆（8）外侧设置有移动块（7），所述移动块（7）下方设置有气缸（6），且气缸（6）下方连接有吸嘴（14），所述外壳（1）内部设置有滑竿（10），且滑竿（10）外侧连接有定位板（12），所述定位板（12）一侧设置有限位块（9），且定位板（12）下方设置有检测台（18），所述检测台（18）内部设置有检测触点（17），且检测台（18）下方设置有减压弹簧（16）。2.根据权利要求1所述的一种芯片生产用测试装置，其特征在于：所述外壳（1）与输送带（3）旋转连接，且输送带（3）与芯片槽（2）固定连接，所述输送带（3）与出料带（4）关于外壳（1）竖直中线对称设置，且出料带（4）与外壳（1）旋转连接，并且出料带（4）与芯片槽（2）固定连接。3.根据权利要求1所述的一种芯片生产用测试装置，其特征在于：所述外壳（1）与挡块（5）固定连接，且挡块（5）关于外壳（1）竖直中线对称设置，所述外壳（1）与丝杆（8）旋转连接，且丝杆（8）与移动块（7）螺纹连接，并且移动块（7）与外壳（1）滑动连接，所述移动块（7）与气缸（6）固定连接，且气缸（6）与吸嘴（14）一体化设置，并且吸嘴（14）采用橡胶制成，所述气缸（6）与压块（15）固定连接，且压块（15）与挡块（5）构成限位结构，并且压块（15）直径大于气缸（...

【专利技术属性】
技术研发人员：舒沁，
申请(专利权)人：江苏精芯源能源科技有限公司，
类型：新型
国别省市：