本发明专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种干簧管带负载高速寿命测试装置。其包括机箱组件、控制部分和负载部分。机箱内放置控制部分和负载部分；控制部分包括日本基恩士KV1000PLC控制器，直流稳压24V电源和定制线圈；负载部分包括直流稳压200V可调电源，250欧姆可调电阻和电流通断信号采集模块；人机界面采用威纶通触摸屏，通过触屏，可以设置相关参数，显示报警和测试结果，对历史数据保存；本装置能在干簧管的通断响应最小极限时间内捕捉到其负载通断信号，完成带负载寿命测试，最大限度的减少寿命测试所需时间，并且可靠性，耐用性，安全性同时得到保证。安全性同时得到保证。安全性同时得到保证。
【技术实现步骤摘要】
一种干簧管带负载高速寿命测试装置
[0001]本专利技术涉及一种检测装置，特别是涉及一种干簧管带负载高速寿命测试装置。
技术介绍
[0002]干簧管是一种磁敏元器件，通常由两个软磁性材料做成的、无磁时断开的金属簧片触点，这些簧片触点被封装在充有惰性气体(如氖、氦等)或真空的玻璃管里，玻璃管内平行封装的簧片端部重叠，并留有一定间隙或相互接触以构成开关的常开或常闭触点。只要有磁性物体接近它，干簧管触点就会闭合，磁性物体离开后，干簧管触点就会断开。干簧管闭合、断开寿命一般在数十万次至几百万次。干簧管的寿命是其主要参数之一，通过寿命试验，可以了解产品的寿命特征、失效模式、失效率等，可以对产品的可靠性进行分析，提高产品的可靠性。
[0003]目前市场上测试干簧管寿命的测试装置一般为转动磁性物体，触发干簧管通断来实现，测试周期较长，无负载，制成的干簧管产品可靠性不高。
技术实现思路
[0004]针对上述现有技术中存在的问题，本专利技术提供一种带负载高速寿命测试装置。
[0005]本专利技术测试装置实施方案为：一种带负载高速寿命测试装置包括机箱组件、控制部分和负载部分。
[0006]进一步，所述机箱组件包括顶板、底板、侧板、面板-A、面板-B、支柱和固定支脚。
[0007]进一步，所述面板-B右侧开有一圆孔，通过电源线；四角边开有通孔。
[0008]进一步，所述面板-A中间开有大方孔，方孔左侧开有安装调节按钮的圆孔，四角边开有通孔。
[0009]进一步，所述侧板四角边开有通孔。
[0010]进一步，所述底板四角边开有通孔，中间一个螺纹孔。
[0011]进一步，所述顶板开有通孔，中间一个螺纹孔，中间螺纹孔前面设置有2对3个圆通孔，中间螺纹孔左侧设置有2对3个圆通孔。
[0012]进一步，所述调节底座中间开有2个圆通孔，上端左右两侧开有圆通孔，底面开有2个螺纹孔。
[0013]进一步，所述托板底面开有2个螺纹孔。
[0014]进一步，所述控制部分包括日本基恩士KV1000PLC控制器，直流稳压24V电源和定制线圈；用直流稳压24V电源供电，采用业内标准线圈产生磁场控制簧管通断，采用控制器高速I/O口捕捉负载回路通断信号，同时控制线圈回路的通断，通过高精度电位器调节线圈电流控制磁场强度，在一个测试周期内控制器通过比较收到的负载回路通断信号与发送控制线圈通断信号的一致性判断本次的测试的结果。
[0015]进一步，所述负载部分包括直流稳压200V可调电源， 250欧姆可调电阻和电流通断信号采集模块；所述负载采用直流稳压0—200V可调电源供电，采用0—250欧姆精密可调
电阻调节负载电流，负载回路串入电流通断信号采集模块，该模块采用光耦隔离式，高速响应，低功耗，超长寿命，输出采用门电路导通输出，通过检测负载电流，输出信号给控制器，响应时间小于50ms,过载能力强，每天能测试百万次以上，大幅减少可靠性试验周期，提高了产品开发效率。
[0016]进一步，所述人机界面采用威纶通触摸屏，通过触屏，可以设置相关参数，显示报警和测试结果，对历史数据保存。
附图说明
[0017]图1是本专利技术的测试装置剖视图。
[0018]图2是本专利技术的测试装置面板-B示意图。
[0019]图3是本专利技术的测试装置面板-A示意图。
[0020]图4是本专利技术的测试装置侧板示意图。
[0021]图5是本专利技术的测试装置底板示意图。
[0022]图6是本专利技术的测试装置顶板示意图。
[0023]图7是本专利技术的测试装置调节底座示意图。
[0024]图8是本专利技术的测试装置托板示意图。
[0025]图9是本专利技术的测试装置示意图。
[0026]图10是本专利技术的测试装置触摸屏显示示意图。
[0027]在图中，定制线圈1、干簧管2-A、干簧管2-B、调节底座3、顶板4、托板5、200V可调电源6、侧板7、触摸屏8、支柱9、面板-A10、面板-B11、底板12、固定支脚13、控制器14、250Ω可调电阻15、采集模块16、24V电源17。
具体实施方式
[0028]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清晰，以下结合附图对本专利技术做进一步详细说明。
[0029]如图1-8所示，一种带负载高速寿命测试装置包括机箱组件、控制部分和负载部分。
[0030]进一步，如图1所示，所述机箱组件包括顶板4、底板12、侧板7、面板-A10、面板-B11、支柱9和固定支脚13。
[0031]进一步，如图1、图2所示，所述面板-B10右侧开有一圆孔，通过电源线连接250Ω可调电阻15，四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。
[0032]进一步，如图1、图3所示，所述面板-A11中间开有大方孔，孔内安装有触摸屏8，方孔左侧开有安装调节按钮的圆孔，四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。
[0033]进一步，如图1、图4所示，所述侧板7四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。
[0034]进一步，如图1、图5所示，所述底板12四角边开有通孔，用螺钉连接固定支脚13，中间一个螺纹孔连接控制器14，控制器14前面放置采集模块16，右面放置24V电源17。
[0035]进一步，如图1、图6所示，所述顶板4开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定，中间一个螺纹孔连接200V可调电源6，中间螺纹孔前面设置有2对3个圆通孔，2平行圆通孔用螺钉固定调节底座3，另一个孔通过信号线；左侧设置有2对3个圆通孔，设置安装调节按钮。
[0036]进一步，如图1、图7所示，所述调节底座3中间开有2个圆通孔，连接定制线圈1，上端左右两侧开有圆通孔，连接托板5，底面开有2个螺纹孔，固定在顶板4上。
[0037]进一步，如图1、图8所示，所述托板5底面开有2个螺纹孔，固定在调节底座3上。
[0038]进一步，如图1、图9所示，所述控制部分包括日本基恩士KV1000PLC控制器14，直流稳压24V电源17和定制线圈1；用直流稳压24V电源17供电，采用业内标准定制线圈1产生磁场控制干簧管2-A和干簧管2-B通断，采用控制器14高速I/O口捕捉负载回路通断信号，同时控制定制线圈1回路的通断，通过高精度电位器调节线圈电流控制磁场强度，在一个测试周期内控制器14通过比较收到的负载回路通断信号与发送控制定制线圈1通断信号的一致性判断本次的测试的结果；干簧管2-A和干簧管2-B既可以单独测试，也可以同时测试。
[0039]进一步，如图1、图9所示，所述负载部分包括直流稳压200V可调电源6， 250欧姆可调电阻15和电流通断信号采集模块16；所述负载采用直流稳压0—200V可调电源6供电，采用0—250欧姆精密可调电阻15调节负载电流，负载回路串入电流通断信号采集模块6，该模块采用光耦隔离式，高速响应，低功耗，超长寿命，输出采用门电路导通输出，通过检测负载电流，输出信号给控制器，响应时本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带负载高速寿命测试装置包括机箱组件、控制部分和负载部分；机箱内放置控制部分和负载部分；控制部分包括日本基恩士KV1000PLC控制器14，直流稳压24V电源17和定制线圈1；负载部分包括直流稳压200V可调电源6， 250欧姆可调电阻15和电流通断信号采集模块6。2.如权利要求1所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述机箱组件包括顶板4、底板12、侧板7、面板-A10、面板-B11、支柱9和固定支脚13。3.如权利要求1和2所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述面板-B10右侧开有一圆孔，通过电源线连接250Ω可调电阻15，四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。4.如权利要求1-3所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述面板-A11中间开有大方孔，孔内安装有触摸屏8，方孔左侧开有安装调节按钮的圆孔，四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。5.如权利要求1-4所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述侧板7四角边开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定。6.如权利要求1-5所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述底板12四角边开有通孔，用螺钉连接固定支脚13，中间一个螺纹孔连接控制器14，控制器14前面放置采集模块16，右面放置24V电源17。7.如权利要求1-6所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述顶板4开有通孔，用四个螺钉连接支柱9固定，中间一个螺纹孔连接200V可调电源6，中间螺纹孔前面设置有2对3个圆通孔，2平行圆通孔用螺钉固定调节底座3，另一个孔通过信号线；左侧设置有2对3个圆通孔，设置安装调节按钮。8.如权利要求1-7所述的一种带负载高速寿命测试装置，所述调节底座3中间开有2个圆通...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘显生，郭惠均，陈懿，刘友利，
申请(专利权)人：常德思高技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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