数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品制造方法及图纸

本申请涉及一种数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。采用本方法能够提高探测器的响应均匀性。响应均匀性。响应均匀性。

【技术实现步骤摘要】
数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品


[0001]本申请涉及数据校正
，特别是涉及一种数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。

技术介绍

[0002]获得高质量CT(Computed Tomography，计算机断层扫描)图像一直是研究者和放射科医生共同关注的热门方向和研究难题。近年来，光子计数探测器(Photon Counting Detectors，PCD)逐渐在临床前和临床应用中广泛使用。但是，由于晶体材料和专用集成电路存在缺陷，光子计数探测器的响应均匀性并不理想，容易导致CT图像出现伪影和噪声。
[0003]目前，主要采用平场校正(Flat Field Correction)的方式来提高光子计数探测器的响应均匀性，从而消除CT图像中的伪影和噪声。然而，平场校正对光子计数探测器的响应均匀性提高并不突出，仍不能满足某些应用场景下的需求。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高探测器的响应均匀性的数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据校正方法，其特征在于，所述方法包括：控制X射线发射装置在多个发射条件下进行X射线发射；获取目标探测器在各所述发射条件下均进行多次响应得到的多个第一计数数据；基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系；所述目标校正关系用于表征校正后计数数据与校正前计数数据之间的映射关系；利用所述目标校正关系对待校正的第二计数数据进行校正处理，得到校正后的目标计数数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标探测器包括多个探测器像素，所述第一计数数据包括各所述探测器像素得到的像素计数数据；所述基于所述多个发射条件和所述多个第一计数数据进行数据拟合处理，得到目标校正关系，包括：根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系；根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系；根据所述第一线性关系和所述第二线性关系确定所述目标校正关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据单个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合处理，得到像素计数数据随发射条件变化的第一线性关系，包括：计算各所述探测器像素在各所述发射条件下进行多次响应得到的多个像素计数数据的计数平均值；根据各所述发射条件对应的计数平均值进行数据拟合处理，得到所述第一线性关系。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据多个探测器像素多次响应的像素计数数据与对应的发射条件进行数据拟合，得到像素计数数据随发射条件变化的第二线性关系，包括：确定多个所述探测器像素的计数平均值的计数中值；根据各所述发射条件对应的计数中值进行数据拟合处理，得到所述第二线性关系。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述发射条件包括工作电流，所述第一线性关系包括所述探测器像素的计数平均值为...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐探，许文挺，
申请(专利权)人：武汉联影生命科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：