芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：确定芯片中的待验证模块，以及待验证模块的验证相关数据，其中，验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；根据模块配置数据对待验证模块进行配置处理；将参考输入数据输入待验证模块，以获取待验证模块的实际输出数据；根据参考输出数据以及实际输出数据，确定待验证模块的验证结果，从而能够采用同一个验证环境，对芯片中的不同待验证模块进行验证，不需要多个验证环境的部署，减少验证成本，节省验证时间，且提高验证效率。且提高验证效率。且提高验证效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及集成电路
，尤其涉及一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着芯片技术的成熟，芯片的模块级和系统级的验证显得尤为重要。相关技术中的芯片验证方法，由于验证的功能不同，在进行模块级验证时，需要一个验证环境；在进行系统级验证时，又需要一个验证环境，导致芯片验证时成本高，芯片验证效率差。

技术实现思路

[0003]本公开旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0004]本公开提出一种芯片验证方法，以解决相关技术中芯片验证成本高，芯片验证效率差的问题。
[0005]根据本公开的第一方面，提供了一种芯片验证方法，包括：确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，其中，所述验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；根据所述模块配置数据对所述待验证模块进行配置处理；将所述参考输入数据输入所述待验证模块，以获取所述待验证模块的实际输出数据；根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果。
[0006]作为本公开实施例的第一种可能的情况，所述确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，包括：确定芯片中的所述待验证模块；确定所述待验证模块的模块配置数据以及参考输入数据；根据所述模块配置数据以及所述参考输入数据，确定所述参考输出数据。
[0007]作为本公开实施例的第二种可能的情况，所述根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果，包括：将所述参考输出数据与所述实际输出数据进行比对，确定所述参考输出数据与所述实际输出数据是否一致；在所述参考输出数据与所述实际输出数据一致时，确定所述验证结果为验证通过；在所述参考输出数据与所述实际输出数据不一致时，确定所述验证结果为验证不通过。
[0008]作为本公开实施例的第三种可能的情况，所述待验证模块的数量为至少一个；所述待验证模块为所述芯片中的部分模块，或者，所述芯片中的全部模块。
[0009]作为本公开实施例的第四种可能的情况，在所述待验证模块为所述芯片中的所有模块时，所述参考输入数据为所述芯片的参考输入数据，所述参考输出数据为所述芯片的参考输出数据。
[0010]作为本公开实施例的第五种可能的情况，所述待验证模块包括安全模块；所述安全模块的数量为至少一个；所述芯片中的全部模块或者部分模块设置有对应的安全模块；所述安全模块通过AXI总线与所述芯片中的各个模块连接。
[0011]作为本公开实施例的第六种可能的情况，所述安全模块为所述芯片中DDR内存的
指定区域对应的安全模块；针对所述安全模块的每个功能，设置有对应的参考输入数据和参考输出数据。
[0012]根据本公开实施例的第二方面，提供了一种芯片验证装置，包括：第一确定模块，用于确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，其中，所述验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；配置模块，用于根据所述模块配置数据对所述待验证模块进行配置处理；获取模块，用于将所述参考输入数据输入所述待验证模块，以获取所述待验证模块的实际输出数据；第二确定模块，用于根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果。
[0013]作为本公开实施例的第一种可能的情况，所述第一确定模块，具体用于，确定芯片中的所述待验证模块；确定所述待验证模块的模块配置数据以及参考输入数据；根据所述模块配置数据以及所述参考输入数据，确定所述参考输出数据。
[0014]作为本公开实施例的第二种可能的情况，所述第二确定模块，具体用于，将所述参考输出数据与所述实际输出数据进行比对，确定所述参考输出数据与所述实际输出数据是否一致；在所述参考输出数据与所述实际输出数据一致时，确定所述验证结果为验证通过；在所述参考输出数据与所述实际输出数据不一致时，确定所述验证结果为验证不通过。
[0015]作为本公开实施例的第三种可能的情况，所述待验证模块的数量为至少一个；所述待验证模块为所述芯片中的部分模块，或者，所述芯片中的全部模块。
[0016]作为本公开实施例的第四种可能的情况，在所述待验证模块为所述芯片中的所有模块时，所述参考输入数据为所述芯片的参考输入数据，所述参考输出数据为所述芯片的参考输出数据。
[0017]作为本公开实施例的第五种可能的情况，所述待验证模块包括安全模块；所述安全模块的数量为至少一个；所述芯片中的全部模块或者部分模块设置有对应的安全模块；所述安全模块通过AXI总线与所述芯片中的各个模块连接。
[0018]作为本公开实施例的第六种可能的情况，所述安全模块为所述芯片中DDR内存的指定区域对应的安全模块；针对所述安全模块的每个功能，设置有对应的参考输入数据和参考输出数据。
[0019]根据本公开的第三方面，提供了一种芯片验证平台，包括：通过总线分别与芯片中待验证模块连接的模块配置组件、参考模型组件和比较组件；其中，所述模块配置组件，通过总线配置所述待验证模块的模块配置数据和参考输入数据；所述参考模型组件，基于所述待验证模块中的模块配置数据和所述参考数据输出，确定参考输出数据；所述比较模块，基于所述待验证模块的实际输出数据和所述参考输出数据，确定验证结果。
[0020]根据本公开的第四方面，提供了一种电子设备，包括：处理器；用于存储所述处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现本公开第一方面实施例提出的芯片验证方法。
[0021]根据本公开的第五方面，提供了一种计算机可读存储介质，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行本公开上述中提出的芯片验证方法。
[0022]根据本公开的第六方面，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，当所述计算机程序由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行本公开上述中提出的芯
片验证方法。
[0023]本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0024]本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0025]图1是根据一示例性实施例所示出的一种芯片验证方法的流程示意图；
[0026]图2是安全模块与指定的DDR区域以及其它模块的连接示意图；
[0027]图3是本公开实施例的验证平台架构示意图；
[0028]图4是根据一示例性实施例所示出的一种芯片验证装置的结构示意图；
[0029]图5是根据一示例性实施例示出的一种芯片验证方法的电子设备的框图。
具体实施方式
[0030]下面详细描述本公开的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，其中，所述验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；根据所述模块配置数据对所述待验证模块进行配置处理；将所述参考输入数据输入所述待验证模块，以获取所述待验证模块的实际输出数据；根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，包括：确定芯片中的所述待验证模块；确定所述待验证模块的模块配置数据以及参考输入数据；根据所述模块配置数据以及所述参考输入数据，确定所述参考输出数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果，包括：将所述参考输出数据与所述实际输出数据进行比对，确定所述参考输出数据与所述实际输出数据是否一致；在所述参考输出数据与所述实际输出数据一致时，确定所述验证结果为验证通过；在所述参考输出数据与所述实际输出数据不一致时，确定所述验证结果为验证不通过。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述待验证模块的数量为至少一个；所述待验证模块为所述芯片中的部分模块，或者，所述芯片中的全部模块。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述待验证模块为所述芯片中的所有模块时，所述参考输入数据为所述芯片的参考输入数据，所述参考输出数据为所述芯片的参考输出数据。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述待验证模块包括安全模块；所述安全模块的数量为至少一个；所述芯片中的全部模块或者部分模块设置有对应的安全模块；所述安全模块通过AXI总线与所述芯片中的各个模块连接。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述安全模块为所述芯片中DDR内存的指定区域对应的安全模块；针对所述安全模块的每个功能，设置有对应的参考输入数据和参考输出数据。8.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：第一确定模块，用于确定芯片中的待验证模块，以及所述待验证模块的验证相关数据，其中，所述验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；配置模块，用于根据所述模块配置数据对所述待验证模块进行配置处理；获取模块，用于将所述参考输入数据输入所述待验证模块，以获取所述待验证模块的实际输出数据；第二确定模块，用于根据所述参考输出数据以及所述实际输出数据，确定所述待验证模块的验证结果。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：索健，王正，
申请(专利权)人：北京爱芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：