单基线InSAR轨道误差参数化建模与估计方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种单基线InSAR轨道误差参数化建模与估计方法、装置、设备及介质，方法包括：对双站模式下的单基线干涉数据进行预处理获取干涉相位；基于外部DEM数据和干涉几何参数对干涉相位进行模拟计算，得到模拟干涉相位；对得到的干涉相位用模拟干涉相位进行差分，然后进行解缠处理得到解缠的差分干涉相位，将其作轨道误差的观测值；基于外部DEM数据和干涉几何参数，逐行构建轨道误差的参数化模型；利用加权迭代最小二乘估计方法求解轨道误差参数化模型中的未知参数，进而得到轨道误差。本发明专利技术可以应用于高精度、高分辨率数字高程模型(DEM)的重建。程模型(DEM)的重建。程模型(DEM)的重建。

【技术实现步骤摘要】
单基线InSAR轨道误差参数化建模与估计方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术属于基于影像大地测量领域，具体涉及一种双站模式下的单基线InSAR轨道误差参数化建模与估计方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]近些年来，合成孔径雷达干涉测量(InSAR)技术已经具备了大范围高精度地形测绘的能力，比如目前已经发布了覆盖全球的高精度DEM数据，如STRM DEM、TanDEM
‑
X DEM等，并在大范围灾害监测和资源调查等方面得到了广泛的应用。而由于双站InSAR系统或InSAR组网系统对大气延迟以及时间失相干误差的抗干扰能力，比如德国宇航局的TanDEM
‑
X系统、我国的天绘2号以及即将发射的TanDEM
‑
L系统，它们为InSAR全球高精度、高分辨率DEM生产以及为局部地区更高分辨率、更高精度DEM反演作出了极大贡献。
[0003]由于SAR系统平台搭载的惯导系统的定位定姿精度有限、SAR天线中心与GPS定位系统的天线中心间的设计偏差、脉冲时间延迟、距离向路径延迟以及成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双站模式下的单基线InSAR轨道误差参数化建模与估计方法，其特征在于，包括：步骤1，对双站模式下的单基线干涉数据进行预处理获取干涉相位；步骤2，基于外部DEM数据和干涉几何参数模拟计算得到模拟干涉相位；步骤3，对得到的干涉相位用模拟干涉相位进行差分，然后解缠处理得到解缠的差分干涉相位，将其作为轨道误差的观测值；步骤4，基于外部DEM数据和干涉几何参数，逐行构建轨道误差的参数化模型；步骤5，根据轨道误差的观测值和参数化模型构建观测方程，求解轨道误差参数化模型中的未知参数，进而得到轨道误差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，轨道误差参数化模型中的未知参数，仅包括基线长度误差和基线倾角误差。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述轨道误差的参数化模型的表达式为：3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述轨道误差的参数化模型的表达式为：式中，表示轨道误差；p代表干涉模式，重轨模式时p＝2，双天线模式时p＝1；λ代表微波波长；表示差分干涉相位；B代表基线长度的测量值，ΔB为基线长度误差，即基线长度测量值与实际值之间的差值；α代表基线倾角的测量值，Δα为基线倾角误差，即基线倾角测量值与实际值之间的差值；R
10
代表主天线中心到地面目标的斜距的测量值；代表基于几何参数和外部DEM数据计算的副天线中心到地面目标之间的斜距值；
“±”
或代表干涉几何中主副天线的相对位置变化，正号代表副天线在主天线的右侧，而负号代表副天线在主天线的左侧；θ代表照射地面目标高为h时的视角，它是主天线中心设计视角θ0和地面目标与雷达波视线方向的夹角Δθ之和。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，模拟干涉相位的计算式为：式中，表示模拟干涉相位，p代表干涉模式，重轨模式时p＝2，双天线模式时p＝1；λ代表微波波长；R
1...

【专利技术属性】
技术研发人员：付海强，王会强，朱建军，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：