光通讯器件的测试装置制造方法及图纸

技术编号:33068266 阅读:23 留言:0更新日期:2022-04-15 09:59
本发明专利技术公开一种光通讯器件的测试装置,包括安装于机架上的基板,所述机架外部安装有壳体,所述基板上表面设置有至少一个用于放置待测试产品的温控座,若干个所述待测试产品通过一夹具安装于温控座上;所述夹具包括用于放置待测试产品的基座,所述基座的下表面上间隔开设有若干个条形长槽,每个所述条形长槽内安装有一PCB板;所述温控座上方还设置有一安装板,所述安装板上间隔安装有第一探头和第二探头;所述安装板上装有与第一探头和第二探头对应的第一探针座和第二探针座。本发明专利技术提高了测试过程中仪表的使用效率,同时降低测试故障的评率,缩短单次测试的时间,提高测试的效率。提高测试的效率。提高测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
光通讯器件的测试装置


[0001]本专利技术涉及一种光通讯器件的测试装置,属于光通信


技术介绍

[0002]作为20世纪最重要的专利技术之一,激光器在各行各业发挥了日益重要的作用;和自然的普通光源不同,激光是一种相干光,即具有频率相同、振动方向相同、相位相同(或者说相位相差保持恒定)的特性;现在的光通信系统,很大程度上就依赖高质量的激光光源。
[0003]激光器在封装完成后,需要利用测试装置对其进行多项测试,在对激光器芯片进行测试时,通常需要对激光器芯片进行长时间加温加电老化,并在激光器芯片老化之前和之后需要对激光器芯片进行测试。在现有的激光器芯片测试流程中,需要对激光器芯片进行多次转场,每次转场都需要在装载好芯片后对设备重新启动,大大增加了测试时间,降低了测试效率。要完成一批激光器芯片的测试,需要耗费大量测试时间。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种光通讯器件的测试装置,其提高了测试过程中仪表的使用效率,同时降低测试故障的评率,缩短单次测试的时间,提高测试的效率。
>[0005]为达到本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光通讯器件的测试装置,包括安装于机架(1)上的基板(2),所述机架(1)外部安装有壳体(3),所述基板(2)将壳体(3)内的区域分隔为位于基板(2)上方的测试腔和位于基板(2)下方的仪表腔,其特征在于:所述基板(2)上表面设置有至少一个用于放置待测试产品(4)的温控座(5),若干个所述待测试产品(4)通过一夹具(6)安装于温控座(5)上,还具有一第一探头(9)和一第二探头(10),所述第一探头(9)和第二探头(10)通过一安装板(8)可移动地设置于温控座(5)上方;所述夹具(6)包括用于放置待测试产品(4)的基座(21),所述基座(21)的下表面上间隔开设有若干个条形长槽(22),每个所述条形长槽(22)内安装有一PCB板(23),所述基座(21)的上表面上间隔开设有若干个与条形长槽(22)贯通的第一安装槽(24)、第二安装槽(25),对应设置的第一安装槽(24)与第二安装槽(25)在条形长槽(22)的方向上交错设置,所述待测试产品(4)嵌入第一安装槽(24)内并与PCB板(23)电接触,所述第二安装槽(25)内安装有一PIN针座(26),当所述PIN针座(26)内的PIN针下移时,其与PCB板(23)电导通;所述安装板(8)上间隔安装有一第一电机(12)和一第二电机(18),一安装有所述第一探头(9)的第一安装板(11)可以在第一电机(12)的驱动下上下移动,所述安装板(8)上安装有一水平设置的第二安装板(13),所述第二安装板(13)上方平行叠置有第一活动板(14)和第二活动板(15),所述第一活动板(14)可沿第一方向移动,所述第二活动板(15)可沿垂直于第一方向的第二方向移动,所述第二活动板(15)上竖直安装有一用于固定第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭孝明朱晶王勇许鹏王泽炜李军丽徐鹏嵩胡海洋黄建军
申请(专利权)人:苏州联讯仪器有限公司
类型:发明
国别省市:

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