一种多工位测试设备制造技术

本实用新型专利技术旨在提供一种测试工位多、整体体积小、成本低的多工位测试设备。本实用新型专利技术包括底座、载具移动模组、黑卡测试模组以及双卡测试模组，载具移动模组包括Y轴驱动机构以及设置在Y轴驱动机构上的升降载具组件，黑卡测试模组和双卡测试模组设置在载具移动模组的上方且沿Y轴驱动机构的长度方向依次设置，黑卡测试模组包括沿Y轴长度方向依次设置的第一测试工位和第二测试工位，第二测试工位上设置有光学窗口，双卡测试模组包括X轴驱动机构、Z轴驱动机构以及并列设置在Z轴驱动机构上的灰卡测试组件以及补充卡测试组件，Z轴驱动机构设置在X轴驱动组件的活动端上。本实用新型专利技术应用于光学测试的技术领域。应用于光学测试的技术领域。应用于光学测试的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位测试设备


[0001]本技术应用于光学测试的
,特别涉及一种多工位测试设备。

技术介绍

[0002]在图像传感芯片的光学测试中，需要通过黑卡、灰卡和补充卡对图像传感芯片进行测试，而在不同测试卡和不同的测试距离下，图像传感芯片所表现出来的性能并不相同，而传统的测试设备采用转盘式或者并排式的设计。由于需要测试多种卡及多种距离，不同距离测试距离需要卡的大小不一样。如果采用转盘式，不同的测试卡体积不同，有的需要很大的空间，小卡占空间比较小，显得不协调。如果都采用单一方向并排式，则同样也需要占用较大的空间。
[0003]如公开号为208887897U的中国专利，其公开了一种应用于光学元件测试上的灰、黑卡暗箱结构，通过设置在所述暗箱外的灰卡移动装置，实现灰卡和黑卡的切换，进而实现提供一种更紧凑的测试结构，但如果需要兼容更多种类的测试环境，由于单个装置的结构较大，增加多个工位则还是会导致体积大幅增加。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种测试工位多、整体体积小、成本低的多工位测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位测试设备，其特征在于：它包括底座（1）、载具移动模组、黑卡测试模组（3）以及双卡测试模组（4），所述载具移动模组包括Y轴驱动机构（201）以及设置在所述Y轴驱动机构（201）上的升降载具组件，所述黑卡测试模组（3）和所述双卡测试模组（4）设置在所述载具移动模组的上方且沿所述Y轴驱动机构（201）的长度方向依次设置，所述黑卡测试模组（3）包括沿所述Y轴长度方向依次设置的第一测试工位（301）和第二测试工位（302），所述第二测试工位（302）上设置有光学窗口，所述双卡测试模组（4）包括X轴驱动机构、Z轴驱动机构（401）以及并列设置在所述Z轴驱动机构（401）上的灰卡测试组件（402）以及补充卡测试组件（403），所述Z轴驱动机构（401）设置在所述X轴驱动组件的活动端上。2.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述升降载具组件包括移动板（202）、升降架（203）、升降驱动机构（204）以及夹紧组件，所述移动板（202）与所述Y轴驱动机构（201）的活动端连接，所述升降架（203）沿竖直方向滑动配合在所述移动板（202）上，所述升降驱动机构（204）固定在所述移动板（202）上，所述升降架（203）与所述升降驱动机构（204）的活动端上连接，所述升降架（203）上设置有产品限位槽，所述夹紧组件设置在所述产品限位槽的一侧。3.根据权利要求2所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述夹紧组件包括压块（206）、限位板（207）以及复位弹簧（208），所述压块（206）滑动配合在所述升降架（203）上，所述压块（206）的中部设置有活动槽（209），所述限位板（207）固定在所述升降架（203）上且所述限位板（207）与所述活动槽（209）相配合，所述压块（206）的一端设置扳动块（210），所述压块（206）的另一端设置有与所述产品限位槽配合的压头，所述复位弹簧（208）设置在所述压头和所述限位板（207）之间，所述底座（1）上还设置有与所述夹紧组件配合的开合组件，所述开合组件包括开合气缸（211）以及拉钩（212），所述拉钩（212）固定设置在所述开合气缸（211）的活动端，所述拉钩（212）与所述扳动块（210）配合。4.根据权利要求1所述的一种多工位测试设备，其特征在于：所述黑卡测试模组（3）包括第一遮光罩（303）、第一支架（304）以及黑卡（30...

【专利技术属性】
技术研发人员：庞凯尹，宋斌杰，罗昌凌，翁巨贤，梁祖荣，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：