【技术实现步骤摘要】
一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置
[0001]本申请主要涉及光模块测试
，具体涉及一种Lens耦合前COB光模块的测试方法及装置。
技术介绍
[0002]光模块的封装工艺有TO，BOX，COB（chip on board）等，高速光模块通常采用的工艺是COB。目前采用COB工艺的COB光模块生产流程是：1）贴片；2）打线；3）等离子清洗；4）Lens耦合；5）老化；6）结构件组装；7）升级固件；8）测试。Lens耦合是在COB光模块的PCBA上耦合贴设一Lens透镜，现阶段采用将Lens透镜置于贴合面后、点胶，并通过调整其耦合位置，耦合完成后，通过UV点光源进行固化。现有的生产流程中Lens耦合工艺极为重要，但是在Lens耦合前未对COB光模块进行测试，在Lens耦合后如出现不良品需要拆除Lens，在拆除Lens过程中极易损坏COB光模块，现有生产流程检测环节在Lens耦合工艺后面，这会导致不良品也会被耦合Lens，使得COB光模块制造成本变高。
[0003]也即，现有技术中COB光模块的制造成本...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，应用于COB光模块测试系统，所述COB光模块测试系统包括计算机设备和与所述计算机设备连接的光模块检测设备，所述光模块检测设备包括机柜，所述机柜设有老化板、所述老化板上方的至少两个光检测装置，所述光检测装置包括设置于所述机柜上的驱动装置和光探测器，所述驱动装置用于驱动所述光探测器移动，所述老化板上阵列设置有多个插座，所述COB光模块通过插入所述插座与所述老化板可拆卸连接，所述计算机设备用于执行所述Lens耦合前COB光模块的测试方法，所述Lens耦合前COB光模块的测试方法包括：获取测试指令；判断所述老化板上是否插置有COB光模块；若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，其中，所述目标检测结果为异常或正常。2.根据权利要求1所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述若所述老化板上插置有COB光模块，则控制所述光探测器对所述老化板上的多个COB光模块分别进行检测，得到多个COB光模块的目标检测结果，包括：若所述老化板上插置有COB光模块，将老化板上插置有COB光模块的插座分别确定目标插座；控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果；获取各个目标插座上COB光模块的目标检测结果，得到多个COB光模块的目标检测结果。3.根据权利要求2所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述机柜的内部设有驱动板卡和电源控制模块，所述控制所述光探测器对所述目标插座上COB光模块进行检测，得到目标插座上COB光模块的目标检测结果，包括：获取目标插座上COB光模块的目标检测位置，其中，目标插座上不同类型的COB光模块具有不同的目标检测位置；通过所述驱动装置驱动所述光探测器移动至所述COB光模块的上方的目标检测位置；控制所述电源控制模块向所述COB光模块输入预设驱动电流Iop，其中，所述COB光模块在输入驱动电流Iop时发光并照射在所述光探测器的探测面上，所述光探测器通过光电效应生成光电流，生成的光电流经过所述驱动板卡转换成光功率；基于所述驱动电流和所述驱动板卡采集的光功率确定所述COB光模块的第一测试参数；若所述第一测试参数不满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为异常；若所述第一测试参数满足第一预设参数范围，则确定所述COB光模块的第一检测结果为正常；基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果。4.根据权利要求3所述的Lens耦合前COB光模块的测试方法，其特征在于，所述COB光模块测试系统还包括老化设备，所述基于各个COB光模块的第一检测结果确定各个COB光模块的目标检测结果，包括：
控制所述老化设备对所述老化板和所述老化板上的COB光模块老化，得到老化后的COB光模块；在检测到老化板和老化板上经过老化的COB光模块放入所述老化板收容位时；对老化后的COB光模块进行检测，得到老化后的COB光模块的第二测试参数；若所述第二测试参数不满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块的第二检测结果为异常；若所述第二测试参数满足第二预设参数范围，则确定所述COB光模块...
【专利技术属性】
技术研发人员：马超，徐畅，黄秋元，周鹏，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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