一种元器件分析试验用工装夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种元器件分析试验用工装夹具，该元器件分析试验用工装夹具包括工装台和滑盖，工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，X射线金属圆壳检测单元和小尺寸表贴开封固定夹具单元，多角度放置工装单元包括一个长方体型凹槽和至少1个的长条形滑块及2个长条形支架，长条形滑块与长方体型凹槽通过底部设置的滑块锯齿和凹槽锯齿实现可拆卸式固定连接，长条形滑块可在接近或远离凹槽斜面的方向上，在凹槽内往复运动；滑盖在闭合套设在工装台外部的状态下，在多角度放置工装单元的凹槽对应位置的滑盖上设置有DIP、金属轴向封装X射线检测单元。本实用新型专利技术的元器件分析试验用工装夹具可以有效缩短因调整元器件角度、位置的耗时。位置的耗时。位置的耗时。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件分析试验用工装夹具


[0001]本技术属于工装夹具制造领域，尤其涉及一种元器件分析试验用工装夹具。

技术介绍

[0002]目前在元器件分析试验中，破坏性物理分析是一种用于判定元器件的制造质量以及设计结构符合性的判断手段，并作为一项重要的实验项目被广泛地应用于元器件的质量保证中。大部分元器件依据相关检测标准可以直接完成检测工作，但是随着元器件型号的不断发展，大量新型结构的元器件、特别是许多微组装级的元器件被选用，而微组装元器件各结构单元布局较紧凑，集成了多种电子装联方式，所以在检测中要求试验检测的稳定性，对元器件的保护也越来越重要。但目前针对元器件破坏性物理分析的试验中，外部目检是用硬板或者泡沫等人为支撑起一个角度对样品进行外观检查；X射线检测为了防止晃动采用插装或者粘双面胶固定样品；开封利用台钳直接固定样品；内部目检部分采用泡沫插装对金属圆壳等封装进行检查，以达到平整效果。试验过程在调整角度、位置、样品保护等方面存在耗时较长，样品损坏等问题，满足不了试验稳定性要求。

技术实现思路

[0003]鉴于上述现有元器件分析试验过程存在的缺陷，本技术的主要目的在于提供一种元器件分析试验用工装夹具，所提供的工装夹具可以有效解决在试验过程中因调整角度、位置耗时较长的问题。
[0004]本技术的目的通过如下技术方案得以实现：
[0005]本技术提供一种元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：
[0006]该元器件分析试验用工装夹具包括工装台，所述工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，所述多角度放置工装单元包括第一凹槽和至少1个的长条形滑块；
[0007]所述第一凹槽为长方体型，其一个侧面为第一斜面，其底部设有凹槽锯齿；
[0008]所述长条形滑块为长条形立方体，在接近或远离所述第一斜面的方向上、在所述第一凹槽内往复运动，所述长条形滑块的底部与所述第一凹槽的底部相贴合，所述长条形滑块的底部设置有与所述凹槽锯齿相匹配的滑块锯齿，所述长条形滑块与所述第一凹槽通过所述凹槽锯齿和所述滑块锯齿实现可拆卸式固定连接；
[0009]所述长条形滑块的一个侧面为第二斜面。
[0010]上述的元器件分析试验用工装夹具中，可拆卸式固定连接的锯齿结构既能够在固定状态下，锯齿相互咬合，将长条形滑块固定在第一凹槽的底部，同时又能通过提起长条形滑块，然后移动，实现长条形滑块在第一凹槽内作往复运动；长条形滑块能够起到支撑的作用，配合第一凹槽的侧面、底部锯齿等固定被检元器件，使被检元器件固定更加稳定，保证被检元器件角度、位置调整更方便。
[0011]上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹槽深度为5mm
‑
15mm，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为15
°‑
80
°
。
[0012]所述长条形滑块的高度为5mm
‑
15mm，第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的为15
°‑
80
°
。第二斜面的角度调整能够有效配合所述凹槽锯齿调整被检元器件的角度、位置。
[0013]上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹槽宽度为10mm
‑
15mm。所述长条形滑块的长度与所述第一凹槽的宽度一致，使其不易脱离所述第一凹槽，提升元器件试验分析稳定性。
[0014]上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述多角度放置工装单元包括2个长条形滑块，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为60
°
；所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的夹角分别为45
°
和30
°
，便于被检元器件放置于第一凹槽内，同时保证被检元器件角度调整有更多更合适的选择，使得检测结果更精确。
[0015]上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述多角度放置工装单元包括2个长条形滑块，所述2个长条形滑块的顶部各自设置有至少2个的第一凹陷，2个长条形滑块至少有两对第一凹陷的连线与所述长条形滑块的运动方向平行；2个所述长条形滑块上还横跨架设有至少2个的长条形支架，在分析试验工作状态时，所述长条形支架通过所述凹陷与所述长条形滑块相卡合连接。上述的第一凹陷有多个，可以架设多个的长条形支架。一般情况下架设2个即可。由2个可移动的长条形滑块，2个可以移动的长条形支架交叉，共同构成一个立体框架，以稳固金属圆壳封装，便于对元器件的金属圆壳封装内部目检。
[0016]上述的元器件分析试验用工装夹具中，优选的，所述第一凹陷的深度为2mm
‑
4mm，宽度为2mm
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5mm；所述长条形支架的高度为5mm
‑
10mm，宽度为2mm
‑
5mm。便于根据被检元器件尺寸调整所述2个长条形支架间距离、支架的升起的高低、支架卡合的牢固程度，使被检元器件固定更稳定，提高元器件试验分析的准确性。
[0017]上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有X射线金属圆壳检测单元，所述X射线金属圆壳检测单元为至少1个的第二凹陷；所述第二凹陷的上口为圆形，深度为5mm
‑
15mm，直径为5mm
‑
12mm；第二凹陷可以是圆柱形、可以是半球形、球面形等，只需要保证第二凹陷的上口为圆形即可，使被检金属圆壳元器件固定放置时长缩短的同时，使其固定更加稳定。
[0018]上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具的工装台的一侧表面上还设置有小尺寸表贴开封固定夹具单元，所述小尺寸表贴开封固定夹具单元包含至少1个的第二凹槽，所述第二凹槽为长方体型，深度为1mm
‑
5mm，宽度为5mm
‑
10mm，长度为5mm
‑
25mm，使被检元器件根据其尺寸能够迅速稳定放置在夹具内进行试验分析，有效缩短因固定被检元器件的耗时。
[0019]上述的元器件分析试验用工装夹具，优选的，所述元器件分析试验用工装夹具还包括滑盖，所述滑盖套设在所述工装台的工作面，并通过导轨与所述工装台滑动连接，所述导轨与所述长条形滑块相平行；
[0020]所述滑盖上设置有DIP和金属轴向封装X射线检测单元，在滑盖在闭合套设在所述工装台外部的状态下，恰好滑入所述多角度放置工装单元的第一凹槽的空隙内，这种DIP、金属轴向封装X射线检测单元的设置，可以在节省空间的同时便于工装台整体收纳整理；
[0021]所述DIP和金属轴向封装X射线检测单元包括至少2组的凸块组合，每组的凸块组合包括对称设置的2个凸块；所述凸块为长条形，其长轴方向与所述长条形滑块相平行；所
述凸块延长轴方向设置有第三凹槽，所述第三凹槽为长方体型，深度为1mm
‑
3mm，宽度为1mm
‑
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：所述元器件分析试验用工装夹具包括工装台，所述工装台的一侧表面上设置有多角度放置工装单元，所述多角度放置工装单元包括第一凹槽和至少1个的长条形滑块；所述第一凹槽为长方体型，其一个侧面为第一斜面，其底部设有凹槽锯齿；所述长条形滑块为长条形立方体，在接近或远离所述第一斜面的方向上、在所述第一凹槽内往复运动，所述长条形滑块的底部与所述第一凹槽的底部相贴合，所述长条形滑块的底部设置有与所述凹槽锯齿相匹配的滑块锯齿，所述长条形滑块与所述第一凹槽通过所述凹槽锯齿和所述滑块锯齿实现可拆卸式固定连接；所述长条形滑块的一个侧面为第二斜面。2.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：所述第一凹槽深度为5mm
‑
15mm，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为15
°‑
80
°
；所述长条形滑块的高度为5mm
‑
15mm，所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的为15
°‑
80
°
。3.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于:所述第一凹槽宽度为10mm
‑
15mm，所述长条形滑块的长度与所述第一凹槽的宽度一致。4.根据权利要求2所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：所述多角度放置工装单元包括2个所述长条形滑块，所述第一斜面与所述第一凹槽的底部所在的平面的夹角为60
°
；所述第二斜面与所述长条形滑块的底部所在的平面的夹角分别为45
°
和30
°
。5.根据权利要求1所述的元器件分析试验用工装夹具，其特征在于：所述多角度放置工装单元包括2个所述长条形滑块，2个所述长条形滑块的顶部各自设置有至少2个的第一凹陷，2个所述长条形滑块上至少有2对第一凹陷的连线与滑块的运动方向平行；2个所述长条形滑块上还横跨架设有至少2个的长条形支架，在分析试验工作状态时，所述长条形支架通过所述第一凹陷与所述长条形滑块相卡合连接。6.根据权利要求5所述的元器件分析试验用工装...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺洋，王坦，田乙杰，郭金青，韩树强，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：