一种平面缺陷检测装置制造方法及图纸

技术编号:33053549 阅读:13 留言:0更新日期:2022-04-15 09:39
本实用新型专利技术提供了一种平面缺陷检测装置,包括相机、平面折射棱镜及载物台;相机、所述平面折射棱镜及所述载物台在同一轴向上依次设置;平面折射棱镜的一侧为平面,另一侧为曲折面,所述曲折面设置在所述折射棱镜朝向所述相机的一侧;本实用新型专利技术在相机成像时,平面经过曲折面的反射形成明暗相间的条状图,则若存在凸起、凹陷等与平整表面不同的缺陷,都会被折射后的图像放大偏差显得更加突出,使得平面上的缺陷易于定位,实现平面上缺陷的准确检测,特别适用于各种范围的凸起、凹陷及鼓包的缺陷检测。检测。检测。

【技术实现步骤摘要】
一种平面缺陷检测装置


[0001]本技术涉及缺陷检测领域,尤其涉及一种平面缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]近年来,随着智能手机无线充电功能的逐渐普及,无线充电技术以惊人的速度发展。其中纳米晶因有着较高的磁导率和饱和磁感应强度,是较为理想的导磁和电磁屏蔽材料,但是纳米晶的电阻率小,损耗高,在充电过程中会降低材料的充电效率;因此需要对纳米晶进行进一步处理,引入碎磁工艺,将纳米晶分割成一个个小的单元,从而减少充电过程中的损耗,提高效率。
[0003]纳米晶带材经过碎磁辊碾压后,会有少量碎屑颗粒产生。纳米晶成品由多层复合而成,中间夹杂异物颗粒后会出现表面鼓包,纳米晶颗粒鼓包潜在的危害有:1、刺破接收端线圈的绝缘层,导致充电效率降低;2、厚度超标,在充电过程中造成电池爆炸;目前的检测手段是使用3D探针检测物料厚度,2D相机检测物料表面不良。3D探针是点接触,检测一定数量的点位针对整体物料厚度不良有较好的效果,异物颗粒导致的鼓包不良是随机分别在物料表面,有一定的随机性,使用3D探针不能高效彻底的检测此项不良。2D相机使用正投影的方式拍摄物料表面,对色彩差异存在对比度的异物有较好的效果,当物料表面有小的鼓包凸起,相机从正投影无法检测出单色表面凸点与背景的差异,也就无法检测出此项不良。

技术实现思路

[0004]本技术所要解决的技术问题是:提供一种平面缺陷检测装置,准确检测出平面上的缺陷。
[0005]为了解决上述技术问题,本技术采用的技术方案为:
[0006]一种平面缺陷检测装置,包括相机、平面折射棱镜及载物台;
[0007]所述相机、所述平面折射棱镜及所述载物台在同一轴向上依次设置;
[0008]所述平面折射棱镜的一侧为平面,另一侧为曲折面;
[0009]所述曲折面设置在所述折射棱镜朝向所述相机的一侧。
[0010]进一步地,所述平面折射棱镜的沿垂直于所述轴向方向的截面由矩形和在所述矩形一边上依次排列的多个三角形组成。
[0011]进一步地,多个所述三角形完全相同。
[0012]进一步地,所述三角形为等腰三角形。
[0013]进一步地,所述等腰三角形的底角的范围为2

4度。
[0014]进一步地,还包括镜头,所述镜头设置在所述相机及所述平面折射棱镜之间。
[0015]进一步地,所述光源设置在所述镜头及所述平面折射棱镜之间。
[0016]进一步地,所述光源为同轴光源。
[0017]进一步地,所述相机为CCD黑白相机。
[0018]本技术的有益效果在于:相机、平面折射棱镜及载物台在同一轴向上依次设
置,载物台用于放置待测物,平面折射棱镜包括曲折面和平面,曲折面靠近相机,则在相机成像时,平面经过曲折面的反射形成明暗相间的条状图,则若存在凸起、凹陷等与平整表面不同的缺陷,都会被折射后的图像放大偏差显得更加突出,使得平面上的缺陷易于定位,实现平面上缺陷的准确检测,特别适用于各种范围的凸起、凹陷及鼓包的缺陷检测。
附图说明
[0019]图1为本技术实施例的一种平面缺陷检测装置的正视图;
[0020]图2为本技术实施例的一种平面折射棱镜的俯视图;
[0021]图3为本技术实施例的一种平面折射棱镜沿垂直于轴向方向的截面图;
[0022]图4为本技术实施例的一种平面折射棱镜的折射原理示意图;
[0023]图5为本技术实施例的截面底角示意图。
[0024]标号说明:
[0025]1、CCD黑白相机;2、镜头;3、同轴光源;4、平面折射棱镜;5、载物台。
具体实施方式
[0026]为详细说明本技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0027]请参照图1,一种平面缺陷检测装置,包括相机、平面折射棱镜及载物台;
[0028]所述相机、所述平面折射棱镜及所述载物台在同一轴向上依次设置;
[0029]所述平面折射棱镜的一侧为平面,另一侧为曲折面,所述曲折面设置在所述折射棱镜朝向所述相机的一侧。
[0030]从上述描述可知,本技术的有益效果在于:相机、平面折射棱镜及载物台在同一轴向上依次设置,载物台用于放置待测物,平面折射棱镜包括曲折面和平面,曲折面靠近相机,则在相机成像时,平面经过曲折面的反射形成明暗相间的条状图,则若存在凸起、凹陷等与平整表面不同的缺陷,都会被折射后的图像放大偏差显得更加突出,使得平面上的缺陷易于定位,实现平面上缺陷的准确检测,特别适用于各种范围的凸起、凹陷及鼓包的缺陷检测。
[0031]进一步地,所述平面折射棱镜的沿垂直于所述轴向方向的截面由矩形和在所述矩形一边上依次排列的多个三角形组成。
[0032]由上述描述可知,平面折射棱镜沿垂直于轴向方向的截面由矩形和在矩形一边上依次排列的多个三角形组成,三角形部分及曲折面的凸起部分,设置为规整图形使得在平面上无瑕疵时所呈的图像为规律图像,则平面上出现瑕疵时图像的变化更容易被发现和定位,提升缺陷检测的准确性。
[0033]进一步地,多个所述三角形完全相同。
[0034]由上述描述可知,设置多个相同的三角形,则在成像时若平面平整,能够得到间隔相同的明暗相间的条纹,则若出现凸起、凹陷等缺陷,条纹将变得不规律,使得缺陷更容易被发现。
[0035]进一步地,所述三角形为等腰三角形。
[0036]由上述描述可知,设置截面的三角形为等腰三角形使得平面平整时所成像的间隔
条纹的明部分亮度相近,且暗部亮度也相近,易于缺陷位置成像明暗不规整被发现。
[0037]进一步地,所述等腰三角形的底角的范围为2

4度。
[0038]由上述描述可知,设置底角范围为2

4度,确保所成像的明部和暗部之间的间隔适中,避免间隔过大或过小从而造成缺陷部分的成像变化不易发现,该角度可根据不同的背景颜色波长、不同折射率的棱镜调整。
[0039]进一步地,还包括镜头,所述镜头设置在所述相机及所述平面折射棱镜之间。
[0040]由上述描述可知,镜头辅助相机成像,能够调整焦距、光圈等保证所得图像的清晰,易于后续进行分析和辨别。
[0041]进一步地,还包括光源,所述光源设置在所述镜头及所述平面折射棱镜之间。
[0042]由上述描述可知,设置光源通过平面折射棱镜照射载物台,为载物台提供充足的亮度,易于最终成像中暴露缺陷部。
[0043]进一步地,所述光源为同轴光源。
[0044]由上述描述可知,设置同轴光源发出平行光,避免了因外部照射光不与平面垂直时使得光线照射在载物台上不垂直,干扰表面缺陷部分漫反射判断的现象,从而提升检测缺陷检测结果的准确性。
[0045]进一步地,所述相机为CCD黑白相机。
[0046]由上述描述可知,使用CCD黑白相机,其体积本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面缺陷检测装置,其特征在于,包括相机、平面折射棱镜及载物台;所述相机、所述平面折射棱镜及所述载物台在同一轴向上依次设置;所述平面折射棱镜的一侧为平面,另一侧为曲折面;所述曲折面设置在所述折射棱镜朝向所述相机的一侧。2.根据权利要求1所述的一种平面缺陷检测装置,其特征在于,所述平面折射棱镜沿垂直于所述轴向方向的截面由矩形和在所述矩形一边上依次排列的多个三角形组成。3.根据权利要求2所述的一种平面缺陷检测装置,其特征在于,多个所述三角形完全相同。4.根据权利要求2或3所述的一种平面缺陷检测装置,其特征在于,所述三角形为等腰三角形。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆宣凯王建中徐毅李少波
申请(专利权)人:信维通信江苏有限公司
类型:新型
国别省市:

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