芯片转盘检测分选一体机制造技术

本实用新型专利技术公布了一种芯片转盘检测分选一体机，包括回转机构、震动盘、相机一、相机二以及分选机构，回转机构包括回转工作台和驱动回转工作台旋转的驱动部件；震动盘配置在回转机构的上料工位，用于将芯片输送至回转工作台；相机一配置在回转工作台的上端，用于对回转工作台上芯片的正面进行检测；相机二配置在回转工作台的下端，用于对回转工作台上芯片的背面进行检测；分选机构包括分选箱和吹料组件，分选箱具有与衔接在回转工作台外缘的数个分选仓，吹料组件对应数个分选仓分别设置，用于将回转工作台上的不同类型的芯片吹入对应的分选仓；本实用新型专利技术提出一种芯片转盘检测分选一体机，旨在解决现有技术中芯片分类耗时长导致效率低的问题。导致效率低的问题。导致效率低的问题。

【技术实现步骤摘要】
芯片转盘检测分选一体机


[0001]本申请涉及芯片的分类，具体是涉及一种芯片转盘检测分选一体机。

技术介绍

[0002]随着电子技术的日新月异，高科技电子产品的相继问世，各种产品无不朝向轻、簿、短、小的趋势设计，以提供更便利的使用。而芯片则在电子产品中扮演者非常重要的角色，而芯片在加工过程中，需要依据客户或使用者需求规格进行分类，在分类机上将所需的芯片一颗一颗的拣出。
[0003]现有的分类机进行分类的过程中，分类机的机械手臂需在芯片及分类平台之间往返，耗费了许多时间，极大的影响了生产制造效率。

技术实现思路

[0004]本技术主要针对以上问题，提出了一种芯片转盘检测分选一体机，旨在解决现有技术中芯片分类耗时长导致效率低的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了一种芯片转盘检测分选一体机，包括：
[0006]回转机构，所述回转机构包括回转工作台和驱动所述回转工作台旋转的驱动部件；
[0007]震动盘，其配置在所述回转机构的上料工位，用于将芯片输送至所述回转工作台；
[0008]相机一，其配置在所述回转工作台的上端，用于对所述回转工作台上芯片的正面进行检测；
[0009]相机二，其配置在所述回转工作台的下端，用于对所述回转工作台上芯片的背面进行检测；以及
[0010]分选机构，所述分选机构包括分选箱和吹料组件，所述分选箱具有与衔接在所述回转工作台外缘的数个分选仓，所述吹料组件对应所述数个分选仓分别设置，用于将回转工作台上的不同类型的芯片吹入对应的分选仓。
[0011]进一步地，所述数个分选仓内分别设置有可抽离的屉盒，所述屉盒上设置有拉手。
[0012]进一步地，所述一体机还包括储料机构，所述储料机构用于对所述震动盘进行补料。
[0013]进一步地，所述储料机构包括动力部件、装料斗、走料盒，所述走料盒具有走料槽，所述装料斗的外壁设置有拦截物料进入所述震动盘内的阀门，所述阀门可抽离的伸出所述走料槽。
[0014]进一步地，所述震动盘包括脉冲电磁铁、料仓、直线送料器，所述直线送料器的出料端位于所述回转工作台的上端；在所述出料端和所述相机一之间设置有定位物料的规整机构，其中，所述规整机构包括支撑杆、可在支撑杆长度方向可调的固定板，所述固定板上设置有规整块一和规整块二，所述规整块一和规整块二之间形成容物料通过的规整通道。
[0015]进一步地，所述震动盘的底部设置有支撑板，所述支撑板上穿设有调节杆，所述支
撑板在所述调节杆的长度方向上可调。
[0016]进一步地，所述相机一和相机二结构大致相同，均包括支撑座，所述支撑座上设置有升降滑台，所述升降滑台上设置有滑杆、丝杆以及驱动所述丝杆转动的调节轮，所述升降滑台上设置有与所述滑杆活动设置以及与所述丝杆螺纹连接的滑块，所述滑块上设置有安装板，所述安装板设置有CCD检测相机和补光罩。
[0017]进一步地，所述相机一和相机二还均包括容所述丝杆穿设的锁紧块，所述锁紧块的一侧设有锁紧丝杆的夹口，且所述锁紧块上设置有调节所述夹口大小的锁紧阀手。
[0018]进一步地，所述分选箱上开设有容所述回转工作台旋转通过的避位槽，所述避位槽为弧形槽。
[0019]进一步地，所述吹料组件包括吹料头、安装所述吹料头的固定块一、安装所述固定块一的固定块二，其中，所述固定块一设有连接所述固定块二的高度调节孔以及连接气源装置的接头，所述固定块二上设置有调节吹料头至芯片之间距离的长度调节孔。
[0020]与现有技术相比，本技术提供的一种芯片转盘检测分选一体机，
附图说明
[0021]图1为本申请披露的一种芯片转盘检测分选一体机立体结构。
[0022]图2为本申请披露的一种芯片转盘检测分选一体机的内部结构示意图。
[0023]图3为本申请披露的一种震动盘和储料机构的立体结构示意图。
[0024]图4为本申请披露的一种震动盘上料至回转工作台的结构示意图。
[0025]图5为回转工作台的俯视结构示意图。
[0026]图6为相机一的立体结构示意图。
[0027]图7为相机二的立体结构示意图。
[0028]图8为图7中相机二的部分结构示意图。
[0029]图9为回转工作台与分选机构连接的结构示意图。
[0030]图10为分选机构的立体结构示意图。
[0031]图11为吹料组件的立体结构示意图。
[0032]图中所示的附图标记：
[0033]10、回转机构；11、回转工作台；12、驱动部件；13、芯片；
[0034]20、震动盘；21、脉冲电磁铁；22、料仓；23、直线送料器；24、支撑板；25、调节杆；
[0035]30、相机一；40、相机二；41、支撑座；42、升降滑台；43、滑杆；44、丝杆；45、调节轮；46、滑块；47、安装板；48、CCD检测相机；49、补光罩；401、锁紧块；402、锁紧阀手；
[0036]50、相机三；
[0037]60、规整机构；61、支撑杆；62、固定板；63、规整块一；64、规整块二；601、规整通道；
[0038]70、分选机构；71、分选箱；72、吹料组件；73、屉盒；701、分选仓；702、避位槽；720、吹料头；721、固定块一；722、固定块二；723、接头；730、拉手；7210、高度调节孔；7220、长度调节孔；
[0039]80、储料机构；81、动力部件；82、装料斗；83、走料盒；84、阀门；
[0040]90、监测机构；91、传感模组；
[0041]100、一体机。
具体实施方式
[0042]下面将结合附图对本技术进行详细说明，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0043]根据本公开的示例，由装配图图1以及各部件结构图2
‑
图11可知，本技术提供了一种芯片转盘检测分选一体机100，包括：回转机构10、震动盘20、相机一30、相机二40、相机三50以及分选机构70。
[0044]回转机构10由回转工作台11和驱动回转工作台11旋转的驱动部件12组成，由驱动部件12驱动回转工作台11旋转。
[0045]震动盘20配置在回转机构10的上料工位，用于将芯片13输送至回转工作台11的板面进行后续的检测和分选，由驱动部件12驱动回转工作台11旋转持续上料，通过回转的方式有利于提高分选效率。
[0046]相机一30、相机二40相机三50可以采用CCD工业相机，其中，相机一30配置在回转工作台11的上端，用于对由震动盘20输送至回转工作台11上的芯片13进行芯片13的正面检测，检测芯片13的丝印面特征；相机二40配置在回转工作台11的下端，用于对回转工作台11上芯片13的背面进行锡球面良品判断，通过相机一30和相机二40的特征识别，经PLC中对数据复合后，在后续的分选工位进行分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片转盘检测分选一体机，其特征在于，包括：回转机构，所述回转机构包括回转工作台和驱动所述回转工作台旋转的驱动部件；震动盘，其配置在所述回转机构的上料工位，用于将芯片输送至所述回转工作台；相机一，其配置在所述回转工作台的上端，用于对所述回转工作台上芯片的正面进行检测；相机二，其配置在所述回转工作台的下端，用于对所述回转工作台上芯片的背面进行检测；以及分选机构，所述分选机构包括分选箱和吹料组件，所述分选箱具有与衔接在所述回转工作台外缘的数个分选仓，所述吹料组件对应所述数个分选仓分别设置，用于将回转工作台上的不同类型的芯片吹入对应的分选仓。2.根据权利要求1所述的一种芯片转盘检测分选一体机，其特征在于，所述数个分选仓内分别设置有可抽离的屉盒，所述屉盒上设置有拉手。3.根据权利要求1所述的一种芯片转盘检测分选一体机，其特征在于，所述一体机还包括储料机构，所述储料机构用于对所述震动盘进行补料。4.根据权利要求3所述的一种芯片转盘检测分选一体机，其特征在于，所述储料机构包括动力部件、装料斗、走料盒，所述走料盒具有走料槽，所述装料斗的外壁设置有拦截物料进入所述震动盘内的阀门，所述阀门可抽离的伸出所述走料槽。5.根据权利要求1所述的一种芯片转盘检测分选一体机，其特征在于，所述震动盘包括脉冲电磁铁、料仓、直线送料器，所述直线送料器的出料端位于所述回转工作台的上端；在所述出料端和所述相机一之间设置有定位物料的规整机构，其中，所述规整机构包...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄家国，
申请(专利权)人：嘉德川科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：