一种基于图像差分的针孔对准检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于图像差分的针孔对准检测方法及装置，该方法首先在待测元件还未放置的情况下，不断更新基板图像来实时获取基板图像的定位针区域的像素集合，在获取待测图像后将待测图像与基板图像进行差分得到差分图像，根据差分图像确定定位孔区域的像素集合，进而可以通过最小二乘椭圆拟合来计算二者中心距离差值或者统计定位针在定位孔内的像素个数占比来判断针孔是否对准。本发明专利技术能准确检测出待检测元件定位孔与基板定位针的相对位置，实时性较高，且能够大幅提升生产效率。且能够大幅提升生产效率。且能够大幅提升生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像差分的针孔对准检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及视觉检测领域，具体是涉及一种基于图像差分的针孔对准检测方法及装置。

技术介绍

[0002]在精密加工过程中，工件对准环节至关重要。随着机械运动误差的不断积累，导致定位不准确；亟需可靠性高，实时性好的工件对准检测方法及装置；
[0003]现有的基于机器视觉的工件对准的检测方法对于光照以及环境变化适应性较差，检测方法误检率较高，可靠性较低，实时性较差；

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于图像差分的针孔对准检测方法及装置，以能准确检测出待检测元件定位孔与基板定位针的相对位置，以实现两个工件对准与否的可靠检测，从而能提高检测的实时性，并能够大幅提升生产效率。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用了以下技术措施：
[0006]本专利技术一种基于图像差分的针孔对准检测方法的特点在于，包括以下步骤：
[0007]S1：获取基板灰度图像B和待测灰度图像F，并根据式(1)计算基板灰度图像B和待测灰度图像F的差本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像差分的针孔对准检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取基板灰度图像B和待测灰度图像F，并根据式(1)计算基板灰度图像B和待测灰度图像F的差分图像D；在所述差分图像D中确定定位孔区域的像素坐标集合U＝{(u
r1
,u
c1
),(u
r2
,u
c2
)
…
(u
rk
,u
ck
)}以及定位孔的边缘像素坐标集合C＝{(c
r1
,c
c1
),(c
r2
,c
c2
)
…
(c
rt
,c
ct
)
…
(c
rm
,c
cm
)}，其中，(u
rk
,u
ck
)表示定位孔区域第k个像素点的坐标，(c
rt
,c
ct
)表示定位圆孔边缘第t个像素点的坐标，k为定位孔区域的像素点个数，m为定位圆孔边缘的像素点个数；t∈[1,m]；式(1)中，F(x,y)表示待测灰度图像F中(x,y)处的像素点，B(x,y)表示基板灰度图像B中(x,y)处的像素点，D(x,y)表示差分图像D中(x,y)处的像素点，T为非负阈值，t1为差分图像D中前景点像素灰度值，t2为差分图像D中背景点像素灰度值；S2：对基板灰度图像B依次进行形态学开操作、形态学闭操作、高斯滤波以及双边滤波，再通过OTSU全局阈值分割，确定定位针区域的像素坐标集合A＝{(a
r1
,a
c1
),(a
r2
,a
c2
)
…
(a
ri
,a
ci
)}以及定位针的边缘像素坐标集合N＝{(n
r1
,n
c1
),(n
r2
,n
c2
)
…
(n
rs
,n
cs
)
…
(n
rj
,n
cj
)}，其中，(a
ri
,a
ci
)表示第i个定位针区域的像素点的坐标，(n
rs
,n
cs
)表示定位针边缘第s个像素点的坐标，i为定位针区域的像素点个数，j为定位针边缘的像素点个数；s∈[1,j]；S3：根据像素坐标集合U、C、A、N判断定位针与定位孔是否对准；S31：根据定位孔的像素坐标集合C，利用式(2)建立定位孔目标优化函数H；式(2)中，X1,X2,X3,X4,X5为根据椭圆一般方程设定的定位孔的五个参数；根据定位针的像素坐标集合N，利用式(3)建立定位针目标优化函数G；式(3)中，Y1,Y2,Y3,Y4,Y5为根据椭圆一般方程设定的定位针的五...

【专利技术属性】
技术研发人员：储昭碧，于振磊，胡竞杰，陈波，
申请(专利权)人：合肥工业大学，
类型：发明
国别省市：