一种DCIR测试值的校准方法技术

本发明专利技术公开了一种DCIR测试值的校准方法，包括：获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值；获取锂离子电芯的温度值，并设定温度基准值；根据DCIR测试值、电芯的温度值和温度基准值，获取校准后的DCIR测试值。本发明专利技术提供一种DCIR测试值的校准方法，结合DCIR测试值与环境温度值和锂离子电芯的温度值T1之间的关系，对DCIR测试值进行校准，避免了因锂离子电芯的放置以及环境温度值所产生的漂移，得到了校准后的DCIR测试值。本发明专利技术能够获取准确的DCIR测试值，降低了对测试环境的要求，使测试更加方便。使测试更加方便。使测试更加方便。

【技术实现步骤摘要】
一种DCIR测试值的校准方法


[0001]本专利技术属于锂离子电芯DCIR测试领域，具体涉及一种DCIR测试值的校准方法。

技术介绍

[0002]在锂离子电芯的生产过程中，必须对每只锂离子电芯的DCIR(Direct Current Internal Resistance，直流内阻)值进行检测。DCIR值表征了锂离子电芯的内阻大小，且DCIR值为锂离子电芯分档配组的一项重要筛选指标，因此需要准确地测量DCIR值。
[0003]DCIR值包括了欧姆内阻和电化学内阻，因为电化学内阻受锂离子电芯的本身温度影响很大(温度越高，电化学内阻越小)，所以在锂离子电芯的生产过程中，由于锂电芯放置和测试环境温度波动大，测量得到的DCIR值波动也会很大，导致测量得到的DCIR值不是真实的DCIR值，影响了工作人员对锂离子电芯真实品质的判断，且造成产品良率降低。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供的一种DCIR测试值的校准方法解决了现有技术中存在的问题。
[0005]为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：一种DCIR测试值的校准方法，包括：
[0006]获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值；
[0007]获取锂离子电芯的温度值，并设定温度基准值；
[0008]根据DCIR测试值、电芯的温度值和温度基准值，获取校准后的DCIR测试值。
[0009]进一步地，所述获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值，包括：
[0010]获取待测量锂离子电芯的第一电压值V1；
[0011]将待测量锂离子电芯恒流放电，且恒流放电的电流为I1；
[0012]获取恒流放电时的待测量锂离子电芯的第二电压值V2；
[0013]根据第一电压值V1、电流I1以及第二电压值V2，获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值。
[0014]进一步地，所述待测量锂离子电芯的DCIR测试值为：
[0015][0016]进一步地，所述电流I1的取值范围为1.5C至3C。
[0017]进一步地，所述获取锂离子电芯的温度值，包括：
[0018]获取恒流放电时的待测量锂离子电芯的第二电压值V2时，通过红外测温装置获取待测量锂离子电芯的温度值T1。
[0019]进一步地，所述根据DCIR测试值、电芯的温度值和温度基准值，获取校准后的DCIR测试值，包括：
[0020]根据温度值T1和温度基准值，获取DCIR修正值；
[0021]根据DCIR测试值和DCIR修正值，获取校准后的DCIR测试值。
[0022]进一步地，所述DCIR修正值为：
[0023]ΔDCIR＝
‑
0.0174*(T1
‑
T2)
[0024]其中，ΔDCIR表示DCIR修正值，T2表示温度基准值。
[0025]进一步地，所述校准后的DCIR测试值为：
[0026]DCIR'＝DCIR
‑
ΔDCIR＝DCIR+0.0174*(T1
‑
T2)
[0027]其中，DCIR'表示校准后的DCIR测试值。
[0028]本专利技术的有益效果为：
[0029](1)本专利技术提供一种DCIR测试值的校准方法，结合DCIR测试值与设定的温度基准值T2和锂离子电芯的温度值T1之间的关系，对DCIR测试值进行校准，避免了因锂离子电芯的放置以及测试环境温度值所产生的漂移，得到了校准后的DCIR测试值。
[0030](2)本专利技术能够获取准确的DCIR测试值，降低了对测试环境的要求，使测试更加方便。
附图说明
[0031]图1为本申请实施例提供的一种DCIR测试值的校准方法的流程图。
[0032]图2为本申请实施例提供的一种DCIR测试值的校准装置的结构图。
[0033]图3为本申请实施例提供的一种DCIR测试值的校准设备的结构图。
[0034]其中，21
‑
DCIR测量模块、22
‑
温度测量模块、23
‑
校准模块、30
‑
校准设备、31
‑
存储器、32
‑
处理器、33
‑
总线。
具体实施方式
[0035]下面对本专利技术的具体实施方式进行描述，以便于本
的技术人员理解本专利技术，但应该清楚，本专利技术不限于具体实施方式的范围，对本
的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本专利技术的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本专利技术构思的专利技术创造均在保护之列。
[0036]下面结合附图详细说明本专利技术的实施例。
[0037]实施例1
[0038]如图1所示，一种DCIR测试值的校准方法，包括：
[0039]S1、获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值。
[0040]待测量锂离子电芯表示需要测量DCIR的锂离子电芯，先获取其DCIR测试值，再对DCIR测试值进行校准，从而对待测量锂离子电芯进行正确分级。
[0041]S2、获取锂离子电芯的温度值，并设定温度基准值。
[0042]测量电芯的温度值可以采用红外温度传感装置、红外温度传感器或者其他温度传感器进行测量，优选为红外温度传感装置，保证准确测量电芯的温度值的同时，拥有一个比较大的测量范围。
[0043]S3、根据DCIR测试值、电芯的温度值和温度基准值，获取校准后的DCIR测试值。
[0044]本专利技术提供一种DCIR测试值的校准方法，结合DCIR测试值与设定的温度基准值T2和锂离子电芯的温度值T1之间的关系，对DCIR测试值进行校准，避免了因锂离子电芯的放
置以及测试环境温度值所产生的漂移，得到了校准后的DCIR测试值。
[0045]在一种可能的实施方式中，所述获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值，包括：
[0046]获取待测量锂离子电芯的第一电压值V1；
[0047]将待测量锂离子电芯恒流放电，且恒流放电的电流为I1；
[0048]获取恒流放电时的待测量锂离子电芯的第二电压值V2；
[0049]根据第一电压值V1、电流I1以及第二电压值V2，获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值。
[0050]在一种可能的实施方式中，所述待测量锂离子电芯的DCIR测试值为：
[0051][0052]在一种可能的实施方式中，所述电流I1的取值范围为1.5C至3C。
[0053]通过上述待测量锂离子电芯的DCIR测试值的获取方法，可以获取一个被环境温度影响的待测量锂离子电芯的DCIR测试值，然后对DCIR测试值进行校准，从而获取真实的DCIR测试值。
[0054]在一种可能的实施方式中，所述获取锂离子电芯的温度值，包括：
[0055]获取恒流放电时的待测量锂离子电芯的第二电压值V2时，通过红外测温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DCIR测试值的校准方法，其特征在于，包括：获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值；获取锂离子电芯的温度值，并设定温度基准值；根据DCIR测试值、电芯的温度值和温度基准值，获取校准后的DCIR测试值。2.根据权利要求1所述的DCIR测试值的校准方法，其特征在于，所述获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值，包括：获取待测量锂离子电芯的第一电压值V1；将待测量锂离子电芯恒流放电，且恒流放电的电流为I1；获取恒流放电时的待测量锂离子电芯的第二电压值V2；根据第一电压值V1、电流I1以及第二电压值V2，获取待测量锂离子电芯的DCIR测试值。3.根据权利要求2所述的DCIR测试值的校准方法，其特征在于，所述待测量锂离子电芯的DCIR测试值为：4.根据权利要求2或3所述的DCIR测试值的校准方法，其特征在于，所述电流I1的取值范围为1.5C至3C。5.根据权利要求1所述的DCIR测试值的校准方法，其特征在于，所述获取锂离子电芯的温度值，包括：获取恒流放电时...

【专利技术属性】
技术研发人员：李灯鹏，
申请(专利权)人：华鼎国联四川动力电池有限公司，
类型：发明
国别省市：