存储器和存储器的测试方法技术

本发明专利技术实施例提供一种存储器和存储器的测试方法，其中，存储器包括：存储模块，用于存储数据信息，存储模块包括主存储模块和校验位存储模块，主存储模块用于存储有效数据，校验位存储模块用于存储校验位数据；读写驱动模块，与存储模块连接，用于从存储模块中读取数据信息，或将数据信息写入存储模块；数据处理模块，与读写驱动模块连接，用于对读写驱动模块输出的数据信息进行检错纠错的解码操作，或用于对输入到读写驱动模块的数据信息进行检错纠错的编码操作，本发明专利技术实施例目的在于实现高效测试存储器中用来存储有效数据的存储区域和用来存储ECC校验位数据的存储区域。域和用来存储ECC校验位数据的存储区域。域和用来存储ECC校验位数据的存储区域。

【技术实现步骤摘要】
存储器和存储器的测试方法


[0001]本专利技术涉及半导体领域，特别涉及一种存储器和存储器的测试方法。

技术介绍

[0002]目前对存储器的应用中，通过引入错误检查和纠正技术(Error checking and correcting，ECC)能够检测并纠正存储器的存储数据出现的一比特错误。
[0003]引入ECC的存储器中需要在存储区域额外设置一存储区域用于存储ECC校验位数据，因此在对存储器的存储区域进行测试时，存储ECC校验位数据的存储区域也需要进行测试，以防止存储器制造过程中存储ECC校验位数据的存储区域也出现错误。
[0004]然而，相关技术中对存储器中用来存储有效数据的存储区域(即存储器外部输入的数据)和用来存储ECC校验位数据的存储区域的测试是分开的，即分别测试有效数据的存储区域和ECC校验位数据的存储区域，现有测试流程复杂，测试效率低。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种存储器和存储器的测试方法，实现高效测试存储器中用来存储有效数据的存储区域和用来存储ECC校验位数据的存储区域。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器，其特征在于，包括：存储模块，用于存储数据信息，所述存储模块包括主存储模块和校验位存储模块，所述主存储模块用于存储有效数据，所述校验位存储模块用于存储校验位数据；读写驱动模块，与所述存储模块连接，用于从所述存储模块中读取所述数据信息，或将所述数据信息写入所述存储模块；数据处理模块，与所述读写驱动模块连接，用于对所述读写驱动模块输出的所述数据信息进行检错纠错的解码操作，或用于对输入到所述读写驱动模块的所述数据信息进行检错纠错的编码操作。2.根据权利要求1所述的存储器，其特征在于，还包括：数据焊盘，与外部控制器交互第一写有效数据和第四读有效数据；写入数据转换单元，与所述数据焊盘和所述数据处理模块均连接，用于将所述第一写有效数据进行串并转换，并输出第二写有效数据至所述数据处理模块；读取数据转换单元，与所述数据焊盘和所述数据处理模块均连接，用于将所述数据处理模块输出的第三读有效数据进行并串转换，并输出所述第四读有效数据至所述数据焊盘。3.根据权利要求2所述的存储器，其特征在于，所述数据处理模块包括：写入编码单元，与所述读写驱动模块和所述写入数据转换单元均连接，用于对所述第二写有效数据执行所述检错纠错的编码操作，所述写入编码单元输出第三写有效数据和第一写校验位数据；读取解码单元，与所述读写驱动模块和所述读取数据转换单元均连接，用于对所述读写驱动模块输出的第二读有效数据和第二读校验位数据执行所述检错纠错的解码操作，所述读取解码单元输出所述第三读有效数据。4.根据权利要求3所述的存储器，其特征在于，所述读写驱动模块包括：写入驱动单元，用于将所述第三写有效数据和所述第一写校验位数据的驱动能力进行增强，输出第四写有效数据和第二写校验位数据，并分别将所述第四写有效数据和第二写校验位数据写入所述主存储模块和校验位存储模块；读取驱动单元，用于将所述存储模块输出的第一读有效数据和第一读校验位数据的驱动能力进行增强，输出所述第二读有效数据和所述第二读校验位数据。5.根据权利要求4所述的存储器，其特征在于，还包括：压缩读取模块，与所述读取驱动单元和所述读取数据转换单元均连接，用于在测试模式将所述数据信息进行压缩处理，以输出压缩处理数据至所述读取数据转换单元。6.根据权利要求5所述的存储器，其特征在于，当所述检错纠错的解码操作没有发现错误时，所述第一写有效数据等于所述第四读有效数据；当所述检错纠错的解码操作发现一比特错误时，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳，孙圆圆，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：