本发明专利技术提供一种图像处理装置、方法、介质及电子设备。所述图像处理装置包括：第一轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第一轨迹，所述第一轨迹是超声扫查设备在对目标对象进行超声扫查过程中的实际扫查轨迹；第二轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第二轨迹，所述第二轨迹是所述目标对象对应的标准扫查轨迹；轨迹相似度获取模块，用于获取所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度。所述图像处理装置能够自动获取所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度。相似度。相似度。
【技术实现步骤摘要】
图像处理装置、方法、介质及电子设备
[0001]本专利技术涉及图像处理领域，特别是涉及图像处理装置、方法、介质及电子设备。
技术介绍
[0002]超声作为临床影像学检查的主要构成部分，也是临床判断和制定合理治疗方案的重要依据。随着超声技术的发展，其在临床疾病诊断中的应用愈发广泛。由于不同地区、不同医院的硬件条件、超声工作人员的经验和水平等方面存在差异，这会导致超声检查报告的质量参差不齐。因此，为了提升超声检查报告的准确性和可信性，有必要对超声检查过程进行质量管控。在质量管控的过程中，如何获取超声工作人员的超声扫查质量已成为相关领域技术人员亟需解决的技术问题之一。
技术实现思路
[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种图像处理装置、方法、介质及电子设备，用于解决现有技术中存在的上述问题。
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术的第一方面提供一种图像处理装置、方法、介质及电子设备，所述图像处理装置包括：第一轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第一轨迹，所述第一轨迹是超声扫查设备在对目标对象进行超声扫查过程中的实际扫查轨迹；第二轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第二轨迹，所述第二轨迹是所述目标对象对应的标准扫查轨迹；轨迹相似度获取模块，用于获取所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度。
[0005]于所述第一方面的一实施例中，所述第一轨迹获取模块包括：目标影像获取单元，用于获取目标影像，所述目标影像是在目标对象的超声扫查过程中超声扫查设备及其周围区域的影像；扫查点位获取单元，用于根据所述目标影像获取超声扫查设备的多个三维扫查点位；第一轨迹获取单元，用于根据所述三维扫查点位获取超声扫查设备的实际扫查轨迹作为所述第一轨迹。
[0006]于所述第一方面的一实施例中，所述扫查点位获取单元包括：关键点检测子单元，用于根据所述目标影像对超声扫查设备及其扫查区域进行关键点检测以获取多个关键点；扫查点位获取子单元，用于根据所述关键点获取所述超声扫查设备的三维扫查点位。
[0007]于所述第一方面的一实施例中，所述第一轨迹获取单元利用拟合算法对所述三维扫查点位进行拟合以获取超声扫查设备的实际扫查轨迹。
[0008]于所述第一方面的一实施例中，所述第二轨迹获取模块通过标准扫查轨迹数据库获取所述目标对象对应的标准扫查轨迹。
[0009]于所述第一方面的一实施例中，所述标准扫查轨迹数据库包括多个参考扫查对象的三维模型及其对应的标准扫查轨迹，所述第一轨迹获取模块还用于获取所述目标对象的三维模型，所述第二轨迹获取模块根据所述目标对象的三维模型从所述标准扫查轨迹数据库中获取匹配的参考扫查对象，并获取该参考扫查对象的标准扫查轨迹作为所述目标对象
对应的标准扫查轨迹。
[0010]于所述第一方面的一实施例中，所述图像处理装置还包括：质控评价模块，用于根据所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度对所述目标对象的超声扫查过程进行评价。
[0011]本专利技术的第二方面提供一种图像处理方法，所述图像处理方法包括：获取超声扫查设备的第一轨迹，所述第一轨迹是超声扫查设备在对目标对象进行超声扫查过程中的实际扫查轨迹；获取超声扫查设备的第二轨迹，所述第二轨迹是所述目标对象对应的标准扫查轨迹；获取所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度。
[0012]本专利技术的第三方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现本专利技术第二方面所述的图像处理方法。
[0013]本专利技术的第四方面提供一种电子设备，所述电子设备包括：存储器，存储有一计算机程序；处理器，与所述存储器通信相连，调用所述计算机程序时执行本专利技术第二方面所述的图像处理方法。
[0014]如上所述，本专利技术一个或多个实施例中所述的图像处理装置能够实现以下有益效果：
[0015]所述图像处理装置能够获取超声扫查设备的第一轨迹和第二轨迹，并根据所述第一轨迹和所述第二轨迹获取二者的相似度，其中，所述第一轨迹是超声扫查设备的实际扫查轨迹，所述第二轨迹是超声扫查设备的标准扫查轨迹。基于该相似度即可获取超声工作人员的超声扫查质量。具体地，所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度越高，则说明超声扫查过程越规范，超声扫查质量越高；所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度越低，则说明超声扫查过程越不规范，超声扫查质量越低。
附图说明
[0016]图1显示为本专利技术所述图像处理装置于一具体实施例中的结构示意图。
[0017]图2A显示为本专利技术所述图像处理装置于一具体实施例中第一轨迹获取模块的结构示意图。
[0018]图2B显示为本专利技术所述图像处理装置于一具体实施例中扫查点位获取单元的结构示意图。
[0019]图3显示为本专利技术所述图像处理装置于一具体实施例中获取标准扫查轨迹的方法流程图。
[0020]图4显示为本专利技术所述图像处理装置于一具体实施例中质控评价模块的结构示意图。
[0021]图5显示为本专利技术所述图像处理方法于一具体实施例中的流程图。
[0022]图6显示为本专利技术所述电子设备于一具体实施例中的结构示意图。
[0023]元件标号说明
[0024]1图像处理装置
[0025]11第一轨迹获取模块
[0026]111目标影像获取单元
[0027]112扫查点位获取单元
[0028]1121关键点检测子单元
[0029]1122扫查点位获取子单元
[0030]113第一轨迹获取单元
[0031]12第二轨迹获取模块
[0032]13相似度获取模块
[0033]14质控评价模块
[0034]141扫查部位获取单元
[0035]142目标点位获取单元
[0036]143未扫点位获取单元
[0037]144提示信息生成单元
[0038]600电子设备
[0039]610存储器
[0040]620处理器
[0041]630显示器
[0042]S31～S36步骤
[0043]S51～S53步骤
具体实施方式
[0044]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0045]需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，图示中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。此外，在本文中，诸如“第一”、“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像处理装置，其特征在于，所述图像处理装置包括：第一轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第一轨迹，所述第一轨迹是超声扫查设备在对目标对象进行超声扫查过程中的实际扫查轨迹；第二轨迹获取模块，用于获取超声扫查设备的第二轨迹，所述第二轨迹是所述目标对象对应的标准扫查轨迹；轨迹相似度获取模块，用于获取所述第一轨迹和所述第二轨迹的相似度。2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于，所述第一轨迹获取模块包括：目标影像获取单元，用于获取目标影像，所述目标影像是在目标对象的超声扫查过程中超声扫查设备及其周围区域的影像；扫查点位获取单元，用于根据所述目标影像获取超声扫查设备的多个三维扫查点位；第一轨迹获取单元，用于根据所述三维扫查点位获取超声扫查设备的实际扫查轨迹作为所述第一轨迹。3.根据权利要求2所述的图像处理装置，其特征在于，所述扫查点位获取单元包括：关键点检测子单元，用于根据所述目标影像对超声扫查设备及其扫查区域进行关键点检测以获取多个关键点；扫查点位获取子单元，用于根据所述关键点获取所述超声扫查设备的三维扫查点位。4.根据权利要求2所述的图像处理装置，其特征在于：所述第一轨迹获取单元利用拟合算法对所述三维扫查点位进行拟合以获取超声扫查设备的实际扫查轨迹。5.根据权利要求1所述的图像处理装置，其特征在于：所述第二轨迹获取模...
【专利技术属性】
技术研发人员：何川，谷晓林，
申请(专利权)人：上海杏脉信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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