本发明专利技术公开了一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和载物台，一个立柱上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源，两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，线阵探测器和后准直器均固定安装在滑板上，后准直器上设置有射线准直通道，射线准直通道的宽度为探测器射线入射窗口宽度的N分之一，滑板可滑动安装在座板上，滑板每次的滑动距离为射线入射窗口宽度的N分之一。本发明专利技术利用后准直器缩小了探测器射线入射窗口接收射线的宽度，提高了辐射成像的分辨率，在现有技术难以减小探测器窗口宽度的情况下，为提高射线辐射成像系统的分辨率开创了一条新的技术路径。统的分辨率开创了一条新的技术路径。统的分辨率开创了一条新的技术路径。
【技术实现步骤摘要】
一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置
[0001]本专利技术涉及一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置。
技术介绍
[0002]探测器的分辨率直接关系到射线辐射成像系统的成像效果，相应地，也关系到基于辐射成像的无损检测装置的检测能力。为了提高探测器的分辨率，人们大多从探测器本身入手，试图研制出具有更高分辨率的探测器，但探测器分辨率的提高会受到其原理、材料、加工能力等诸多因素的制约，因此，从探测器本身来提高其分辨率变的越来越困难。
技术实现思路
[0003]针对现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，该装置在不改变探测器的情况下能够大大提高辐射成像的分辨率，提高无损检测装置的检测能力。
[0004]为实现上述目的，本专利技术技术方案如下：
[0005]一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座，该安装座上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源安装座，该安装座上设置有射线源，所述两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，所述线阵探测器和所述后准直器均固定安装在所述滑板上，所述线阵探测器由若干个排列成线形阵列的探测器组成，所述后准直器位于所述线阵探测器射线入射窗口的前侧，所述后准直器上设置有与所述每个探测器一一对应的射线准直通道，所述射线准直通道的高度与所述射线入射窗口的高度一致，宽度为射线入射窗口宽度的N分之一，所述滑板可滑动安装在所述座板上，并能够在驱动装置的驱动下沿所述射线入射窗口的宽度方向滑动，所述滑板每次的滑动距离为所述射线入射窗口宽度的N分之一。
[0006]进一步，所述基座上表面为平面，所述两个立柱和所述载物台均安装在所述基座的上表面上，并且，载物台与两个立柱排列在一条直线上。
[0007]进一步，所述两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和所述射线源安装座上均设置有与所述垂直滑轨相连的滑块和与所述丝杆相连的螺母，所述丝杆一端连接有驱动电机。
[0008]进一步，所述探测器安装座和所述射线源安装座与各自所在的所述立柱之间均设置有光栅尺，光栅尺中的光栅标尺设置在所述立柱上，光栅尺中的光读头设置在所述安装座上。
[0009]进一步，所述座板和所述滑板均为平板，座板上表面设置有滑轨，所述滑板通过其上固定的滑块安装在所述滑轨上，所述驱动装置由丝杆、电机组成，丝杆、电机均安装在所述座板上，所述滑板上设置有与所述丝杆相配的螺母，所述座板与所述滑板之间设置有光栅尺，光栅尺中的光栅标尺设置在座板上，光栅尺中的光读头设置在滑板上。
[0010]进一步，所述射线入射窗口宽度≤2mm，所述N为整数，并且，N的取值范围为2～6。
[0011]进一步，所述射线入射窗口宽度1mm，所述N的取值为3。
[0012]进一步，所述座板上的所述滑轨为直线滑轨。
[0013]进一步，所述后准直器包括上、下夹板，上夹板的下表面和下夹板的上表面设置有一一配对的插槽，每对插槽中插装有用于形成所述射线准直通道的宽度方向侧壁的隔板。
[0014]进一步，所述隔板由钨钢制成。
[0015]本专利技术利用后准直器缩小了探测器射线入射窗口接收射线的宽度，使得辐射成像时每个探测器每次接收的射线仅为探测器窗口全宽度的N分之一，使每个探测器经过N次扫描才形成其在被成像物上所对应区域的完整图像，因而，实质上提高了辐射成像的分辨率，在现有技术难以减小探测器窗口宽度的情况下，为提高射线辐射成像系统的分辨率开创了一条新的技术路径。
附图说明
[0016]图1为本专利技术整体结构示意图；
[0017]图2为立柱上滑轨及丝杆机构结构示意图；
[0018]图3为线阵探测器主视结构示意图；
[0019]图4为图3俯视图；
[0020]图5为图3左视图；
[0021]图6为图3线阵探测器分解图。
[0022]图中：1基座，2载物台，3左立柱，4探测器安装座，6线阵探测器单元，7右立柱，8探测器安装座，9柔性伸缩罩，10电机，11丝杆，12滑轨，13滑块，14光读头，15螺母，16光栅标尺；其中，
[0023]线阵探测器单元6：6.1座板，6.2滑板，6.3后准直器，6.3.1后准直器上夹板，6.3.2后准直器下夹板，6.4线阵探测器，6.5滑板座，6.6联轴器，6.7支座，6.8连接座，6.9安装缺口。
具体实施方式
[0024]为清楚地说明本专利技术的技术方案，下面结合实施例及其附图做详细说明。
[0025]图1
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图4所示为本专利技术的一个优选实施例。
[0026]如图中所示，该实施例中的基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座1，基座1的上表面为平面，其上左立柱3、右立柱7和位于左、右立柱之间的载物台2，左立柱3上设置有射线源安装座4，射线源安装座4上安装有γ射线源5，右立柱7上设置有探测器安装座8，探测器安装座8上安装有线阵探测器单元6，射线源安装座4和探测器安装座8均可上下滑动安装在各自所在立柱上。
[0027]如图2所示，右立柱7上安装有两根垂直滑轨12和位于两根滑轨12之间的一根丝杆11，探测器安装座8上固定安装有与垂直滑轨12滑动连接的滑块13和与丝杆11螺纹配合的螺母15，右立柱7的上端安装有用于驱动丝杆11转动的驱动电机10，驱动电机10与丝杆11的上端相连；右立柱7和探测器安装座8之间还设置有光栅尺，光栅尺中的光栅标尺16安装在右立柱7上，光栅尺中的光读头14安装在探测器安装座8上。
[0028]为了使射线源安装座4沿左立柱3上下滑动，左立柱3上设置有与右立柱7相同的垂直滑轨、丝杆、光栅标尺，射线源安装座4上设置有与探测器安装座8相同的滑块、螺母、光读头。因光栅尺的检测精度为微米级，因而，在左立柱3与射线源安装座4之间和右立柱7与探测器安装座8之间设置光栅尺，能够对两安装座的上下移动距离进行精确控制。
[0029]如图1所示，为了保护左、右立柱上的滑轨、丝杆、光栅标尺，以及射线源安装座和探测器安装座上的滑块、螺母、光读头，左、右立柱上均设置有作为外罩的柔性伸缩罩9。
[0030]另外，载物台4采用现有技术中已有的能够绕其垂直轴旋转的载物台。
[0031]如图3
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图6所示，线阵探测器单元6包括座板6.1、滑板6.2、线阵探测器6.4、后准直器6.3，线阵探测器6.4和后准直器6.3均固定安装在滑板6.2上，线阵探测器6.4包含若干个排列成圆弧线形阵列的探测器，后准直器6.3位于线阵探测器6.4的射线入射窗口的前侧，后准直器6.3上设置有与与线阵探测器6.4中的每个探测器一一对应的射线准直通道(图中未示出)，座板6.1和滑板6.2均为平板状，座板6.1上安装有两根滑轨12，每根滑轨12上均通过两个滑块13可滑动安装有一滑板座6.5，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，其特征在于，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座，该安装座上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源安装座，该安装座上设置有射线源，所述两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，所述线阵探测器和所述后准直器均固定安装在所述滑板上，所述线阵探测器由若干个排列成线形阵列的探测器组成，所述后准直器位于所述线阵探测器射线入射窗口的前侧，所述后准直器上设置有与所述每个探测器一一对应的射线准直通道，所述射线准直通道的高度与所述射线入射窗口的高度一致，宽度为射线入射窗口宽度的N分之一，所述滑板可滑动安装在所述座板上，并能够在驱动装置的驱动下沿所述射线入射窗口的宽度方向滑动，所述滑板每次的滑动距离为所述射线入射窗口宽度的N分之一。2.如权利要求1所述的无损检测装置，其特征在于，所述基座上表面为平面，所述两个立柱和所述载物台均安装在所述基座的上表面上，并且，载物台与两个立柱排列在一条直线上。3.如权利要求1所述的无损检测装置，其特征在于，所述两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和所述射线源安装座上均设置有与所述垂直滑轨相连的滑块和与所述丝杆相连的螺母，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：李建，
申请(专利权)人：华清核测科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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