一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和载物台，一个立柱上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源，两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，线阵探测器和后准直器均固定安装在滑板上，后准直器上设置有射线准直通道，射线准直通道的宽度为探测器射线入射窗口宽度的N分之一，滑板可滑动安装在座板上，滑板每次的滑动距离为射线入射窗口宽度的N分之一。本发明专利技术利用后准直器缩小了探测器射线入射窗口接收射线的宽度，提高了辐射成像的分辨率，在现有技术难以减小探测器窗口宽度的情况下，为提高射线辐射成像系统的分辨率开创了一条新的技术路径。统的分辨率开创了一条新的技术路径。统的分辨率开创了一条新的技术路径。

【技术实现步骤摘要】
一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置


[0001]本专利技术涉及一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置。

技术介绍

[0002]探测器的分辨率直接关系到射线辐射成像系统的成像效果，相应地，也关系到基于辐射成像的无损检测装置的检测能力。为了提高探测器的分辨率，人们大多从探测器本身入手，试图研制出具有更高分辨率的探测器，但探测器分辨率的提高会受到其原理、材料、加工能力等诸多因素的制约，因此，从探测器本身来提高其分辨率变的越来越困难。

技术实现思路

[0003]针对现有技术存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，该装置在不改变探测器的情况下能够大大提高辐射成像的分辨率，提高无损检测装置的检测能力。
[0004]为实现上述目的，本专利技术技术方案如下：
[0005]一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座，该安装座上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源安装座，该安装座上设置有射线源，所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置，其特征在于，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间的载物台，其中一个立柱上设置有探测器安装座，该安装座上设置有线阵探测器单元，另一立柱上设置有射线源安装座，该安装座上设置有射线源，所述两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上；所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器，所述线阵探测器和所述后准直器均固定安装在所述滑板上，所述线阵探测器由若干个排列成线形阵列的探测器组成，所述后准直器位于所述线阵探测器射线入射窗口的前侧，所述后准直器上设置有与所述每个探测器一一对应的射线准直通道，所述射线准直通道的高度与所述射线入射窗口的高度一致，宽度为射线入射窗口宽度的N分之一，所述滑板可滑动安装在所述座板上，并能够在驱动装置的驱动下沿所述射线入射窗口的宽度方向滑动，所述滑板每次的滑动距离为所述射线入射窗口宽度的N分之一。2.如权利要求1所述的无损检测装置，其特征在于，所述基座上表面为平面，所述两个立柱和所述载物台均安装在所述基座的上表面上，并且，载物台与两个立柱排列在一条直线上。3.如权利要求1所述的无损检测装置，其特征在于，所述两个立柱上均设置有垂直滑轨和丝杆，所述探测器安装座和所述射线源安装座上均设置有与所述垂直滑轨相连的滑块和与所述丝杆相连的螺母，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李建，
申请(专利权)人：华清核测科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：