【技术实现步骤摘要】
一种低对比度成像的图像分割处理方法、电子设备及系统
[0001]本专利技术实施方式涉及图像处理领域,特别是涉及一种低对比度成像的图像分割处理方法、电子设备及系统。
技术介绍
[0002]在半导体AOI检测领域中,流量计模组在市场中是很重要且常见的一种元器件。由于流量计模组的材质以及特殊工艺的影响,因此存在着打线(Wire Bonding,压焊,也称为绑定,键合,丝焊)后金手指焊盘与焊点同呈金色难以区分的问题,这给金手指焊盘的焊点检测带来了很大的问题。
[0003]目前为了区分金手指焊盘与焊点,普遍使用的是依靠抽检在显微镜下使用人工目检的方式进行辨别,但该方式依靠人工目检,首先存在着效率低,操作繁琐的问题;其次,检测结果容易受抽检人的主观意识影响,导致检测结果不准确。
技术实现思路
[0004]本专利技术实施方式主要解决的技术问题是提供一种低对比度成像的图像分割处理方法、电子设备及系统,能够更快地区分同颜色的焊盘和焊点,摆脱依靠抽检在显微镜下人工目检的方式进行辨别的繁琐性、低效率和不准确性。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种低对比度成像的图像分割处理方法,其特征在于,包括:由原始图像获取焊盘的掩膜轮廓信息,所述原始图像中包括焊盘图像和焊点图像;通过所述掩膜轮廓信息,获取分类特征轮廓图;通过所述掩膜轮廓信息,获取一组细化特征轮廓图;根据所述分类特征轮廓图,获取焊点的拟合的圆形轮廓和焊点的第一定位区域;根据所述细化特征轮廓图和所述第一定位区域,获取焊点的第二定位区域;根据所述第二定位区域,获取每个所述第一定位区域内对应的一组所述细化特征轮廓图中的焊点最终位置和焊点最终轮廓;将所述焊点最终轮廓、样本中与所述焊点最终位置对应的焊点轮廓进行比对,得到所述焊点的偏移值。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:将所述焊点最终轮廓、样本中与所述焊点最终位置对应的焊点轮廓进行比对,得到所述焊点的面积。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述由原始图像获取焊盘的掩膜轮廓信息,包括:将所述原始图像转化为任一色彩模型图像;对所述任一色彩模型图像的预设通道进行开运算降噪处理,得到降噪图像;对所述降噪图像进行像素二值化反转操作,得到掩膜区域;对所述掩膜区域进行边缘提取,获取掩膜轮廓信息。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取分类特征轮廓图,包括:对原始图像进行灰度化处理得到灰度图;对所述灰度图进行索贝尔算法处理得到索贝尔特征图;对所述索贝尔特征图进行列扫描处理,使用掩膜轮廓信息进行边缘像素擦除处理,得到第一边缘特征图;对所述第一边缘特征图进行空间密度聚类算法处理,得组分类特征轮廓图。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取细化特征轮廓图,包括:对原始图像就进行二阶边缘提取算法处理,得到二阶边缘提取特征图;对所述二阶边缘提取特...
【专利技术属性】
技术研发人员:张超,代青平,
申请(专利权)人:深圳明锐理想科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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