用于执行电磁兼容性测量的系统和方法技术方案

本发明专利技术提供了一种用于执行电磁兼容性测量的系统和方法。信号源生成测试信号，该测试信号由放大器放大。通过将施加到放大器的测试信号限制在预定阈值以下来防止放大器的过驱动。动。动。

【技术实现步骤摘要】
用于执行电磁兼容性测量的系统和方法


[0001]本专利技术涉及一种用于执行电磁兼容性测量的系统。本专利技术还涉及一种用于执行电磁兼容性测量的方法。

技术介绍

[0002]虽然原则上可应用于用于放大来自信号源的电子信号的任何装置，但是本专利技术及其潜在问题将在下文中结合提供用于执行电磁兼容性(EMC)测量的测试信号的装置来描述。
[0003]为了测试被测器件或测试装置的EMC，可以向相应的器件或测试装置提供特定的测试信号。然后分析被测器件或测试系统的响应。
[0004]为了向被测器件施加EMC测试所需的信号，测试系统必须生成具有足够信号强度的预定信号。
[0005]在这种背景下，需要一种测试系统和测试方法，用于在用于EMC测量的测试场景上施加适当的信号。

技术实现思路

[0006]本专利技术旨在提供一种用于执行EMC测量的测试系统和测试方法。特别地，本专利技术旨在提供一种用于提供用于EMC测量的信号的系统和方法。
[0007]这通过独立权利要求的特征来实现。其他有利实施例是从属权利要求的主题。
[0008]根据第一方面，提供了一种用于执行电磁兼容性测量的系统。该系统包括信号源和放大单元。所述信号源被配置为生成测试信号。所述信号源还可以将生成的测试信号提供给放大单元。所述放大单元包括输入端、放大器和输出端。所述放大单元的输入端被配置为从所述信号源接收生成的测试信号。所述放大器被配置为放大所接收的测试信号。特别地，所述放大器可以对接收到的测试信号执行预定放大。输出装置被配置为输出放大的测试信号。所述信号源被配置为限制提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平。特别地，所述信号源将所生成的测试信号的电平限制为低于预定阈值。
[0009]根据另一方面，提供了一种用于执行电磁兼容性测量的方法。该方法包括生成测试信号的步骤。特别地，所述测试信号可以由信号源生成。该方法还包括：通过所述放大单元的输入端接收生成的测试信号；通过所述放大单元的放大器放大接收的测试信号；以及通过所述放大单元的输出端输出来输出放大的测试信号。特别地，提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平被限制为低于预定阈值。
[0010]本专利技术基于这样的发现，即测试电磁兼容性(EMC)需要提供具有适当信号电平的测试信号。为此目的，测试信号必须由一个或多个放大器放大。然而，如果放大器被提供有具有高信号电平的输入信号，则所述放大器可能被过驱动(overdriven)。在这种情况下，所述放大器可以不再提供输入信号的线性放大。此外，如果信号的输入电平太高，则甚至可能损坏放大器。
[0011]本专利技术考虑到这一发现，并旨在限制提供给EMC测试系统的放大器的输入信号的最大信号电平。以这种方式，可以防止所述放大器被过驱动。
[0012]为此目的，可以根据所述放大器的特性来设置预定阈值。特别地，所述预定阈值可以被设置为使得由信号生成器提供给放大器的输入端的信号电平总是低于将导致所述放大器被过驱动的值。通过根据所述放大器的特性来定义阈值，可以以适当的方式配置信号源和放大器的整个系统。特别地，通过根据放大器的特性使用用于限制由信号生成器提供的信号的信号电平的阈值，可以适配各个组件，特别是所述信号源和所述放大器，使得由所述信号生成器提供的测试信号以最佳方式被放大而不过度驱动所述放大器。以这种方式，可以避免所述放大器放大中的非线性，并且可以保护所述放大器免受损坏。
[0013]所述信号源可以是用于生成适当测试信号的任何类型的适当信号源。为此目的，所述信号源可以包括诸如模拟或数字信号生成器的元件。例如，所述信号源可以包括用于数字地生成特定信号波形的数字信号处理器。然而，用于生成期望的测试信号的任何其他方式也是可能的。
[0014]所述信号源可以生成具有预定特性的一个或多个测试信号。例如，可以指定可由所生成的测试信号覆盖的一个或多个频率或频率范围。此外，还可以指定由信号生成器生成的信号的信号形状。例如，所述信号生成器可以生成正弦信号、具有矩形或锯齿形状或任何其他期望的信号形状的信号。此外，由所述信号生成器生成的测试信号可以包括具有预定脉冲序列等的测试信号。然而，应当理解，用于表征由所述信号生成器生成的测试信号的任何其他特定特性也是可能的。
[0015]取决于所述信号生成器的配置或特定类型的信号生成器，由所述信号生成器提供的测试信号的输出电平和/或最大振幅可以变化。因此，如下面将更详细地描述的，可能需要根据用于放大测试信号的后续放大器的特性来适配(尤其是限制)由信号生成器提供的测试信号。
[0016]所述放大器可以是用于放大由所述信号生成器提供的测试信号的任何类型的适当放大器。为此，具有所述放大器的放大单元可以包括与所述信号生成器的输出电耦合的输入端口。因此，由所述信号生成器提供的测试信号由所述放大单元的输入端口接收。此外，所述放大单元可以包括用于提供经放大的测试信号的输出端口。
[0017]所述放大单元的放大器对在所述放大单元的输入端口接收的信号进行放大，并将经放大的信号输出到输出端口。为此，所述放大器可以是用于放大所述电信号的任何适当的放大器。特别地，根据由所述信号生成器提供的测试信号的频率特性，所述放大器可以具有适当的频率范围和/或带宽。此外，所述放大器可以执行适当的放大，以便提供具有用于执行期望的EMC测量的适当特性的输出信号。例如，所述放大器可以提供具有特定信号电平和/或幅度的经放大的测试信号。然而，根据用于执行EMC测量的期望要求，所述放大器还可以具有任何其他适当的特性。
[0018]例如，所述放大器可以是运算放大器等。然而，任何其他类型适当放大器也是可能的。如果需要，所述放大器可以包括多个放大元件，这些放大元件可以组合在一起，例如组合在放大链中，以便实现期望的放大特性。
[0019]放大器通常可以在预定规范内操作。这些规范(specifications)例如可以涉及特定的频率范围或带宽。此外，规范还可以表征可以提供给所述放大器的信号的最大输入电
平。如果所述输入信号的电平超过最大输入电平，则所述放大器可能被过驱动。在这种情况下，所述放大器可能不能执行所述输入信号的线性放大。此外，如果所述输入信号的电平超过最大信号电平，则甚至可能损坏所述放大器或所述放大器的至少一些组件。
[0020]为了避免当所述放大器被提供有高于特定信号电平的输入信号时的这种情况，可以控制提供给所述放大器的输入信号，使得所述输入信号总是低于预定阈值，例如所述放大器的最大输入电平。以此方式，可以防止所述放大器被过驱动。
[0021]为此目的，用于限制提供给所述放大器的输入信号的任何类型的适当方案都是可能的。例如，可以向所述信号生成器提供预定阈值并控制所述信号生成器的操作，使得所生成的测试信号总是低于预定阈值。或者，也可以使用标准化信号生成器并以传统方式操作该信号生成器。随后，可以在所述信号生成器的输出端和所述放大器的输入端之间布置衰减元件，以便限制提供给所述放大器的输入端的测试信号。然而，用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于执行电磁兼容性测量的系统，所述系统包括：信号源，其用于生成测试信号；放大单元，其具有：用于从所述信号源接收所生成的测试信号的输入、用于放大所接收的测试信号的放大器以及用于输出所放大的测试信号的输出；其中，所述信号源被配置为：将提供给所述放大单元的输入端的所生成的测试信号的电平限制为低于预定阈值。2.根据权利要求1所述的系统，其中，基于所述预定阈值来设置由所述信号源生成的测试信号的最大信号电平。3.根据权利要求1或2所述的系统，其中，根据所述放大器的最大输入电平来设置所述预定阈值电平。4.根据权利要求1或2所述的系统，其中，基于包括一个或多个校准值的校准数据来设置所述预定阈值电平。5.根据权利要求4所述的系统，所述系统包括用于存储所述校准数据的存储器，其中，所述存储器包括在所述信号源、所述放大器或第三方设备中。6.根据权利要求4所述的系统，其中，所述信号源被配置为从至少包括所述信号源和所述放大器的装置中移除，并且其中，当所述信号源从装置移除时，基于测量结果来确定所述校准数据。7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统，所述系统包括控制器，所述控制器用于：监测所生成的测试信号并控制所述信号源以将所生成的测试信号的电平限制为持续地低于预定阈值。8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统，其中，所述放大单元包括用于接收外部信号的至少一个另外的输入，...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿希姆，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：