【技术实现步骤摘要】
一种LTE射频杂散测试系统
[0001]本技术属于移动终端杂散辐射测试
,具体涉及一种LTE射频杂散测试系统。
技术介绍
[0002]近些年来,移动通信技术发展迅猛,随之而带来的电磁兼容(EMC)也越来越复杂,EMC测试成了移动通信终端进入规范市场前的必检项目。杂散干扰主要是指一个系统频段外的杂散辐射落入到另外一个系统的接收频段内造成的干扰。杂散通常包括发射机杂散、UE共存带内的杂散辐射、额外的杂散辐射,在终端设备杂散测试中,发射机产生的一些有害、无用的辐射信号,包括谐波辐射、互调产物及变频产物等。测量UE对频段外的频谱干扰,它会成为其他频段的干扰信号,会导致移动通信终端的输入信噪比降低,通信质量出现恶化。为了评估出这种干扰信号的强度大小,因此,需要利用可靠度较高的测试装置对移动通信终端进行杂散干扰测试,帮助技术人员解决相关问题。
技术实现思路
[0003]为了解决现有技术中存在的上述问题,本技术提供了一种LTE射频杂散测试系统。本技术要解决的技术问题通过以下技术方案实现:
[0004]一种LTE射频杂散测试系统,包括:显示屏、工业控制计算机、交换机、第一开关矩阵控制转换器、第一开关矩阵、第二开关矩阵控制转换器、第二开关矩阵、电调滤波器子系统和固定滤波器子系统;
[0005]所述显示屏,与所述工业控制计算机电连接;
[0006]所述工业控制计算机,与所述交换机和所述电调滤波器子系统电连接;
[0007]所述交换机,与所述第一开关矩阵控制转换器、所述第二开关矩阵控制转换 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LTE射频杂散测试系统,其特征在于,包括:显示屏(10)、工业控制计算机(20)、交换机(30)、第一开关矩阵控制转换器(40)、第一开关矩阵(50)、第二开关矩阵控制转换器(60)、第二开关矩阵(70)、电调滤波器子系统(80)和固定滤波器子系统(90);所述显示屏(10),与所述工业控制计算机(20)电连接;所述工业控制计算机(20),与所述交换机(30)和所述电调滤波器子系统(80)电连接;所述交换机(30),与所述第一开关矩阵控制转换器(40)、所述第二开关矩阵控制转换器(60)和所述电调滤波器子系统(80)电连接;所述第一开关矩阵控制转换器(40),与所述第一开关矩阵(50)电连接;所述第一开关矩阵(50),与所述电调滤波器子系统(80)的输入端和所述固定滤波器子系统(90)的输入端电连接;所述第二开关矩阵控制转换器(60),与所述第二开关矩阵(70)电连接;所述第二开关矩阵(70),与所述电调滤波器子系统(80)的输出端和所述固定滤波器子系统(90)的输出端电连接;所述第一开关矩阵(50)和所述第二开关矩阵(70)之间电连接外部被测设备(91)。2.根据权利要求1所述的一种LTE射频杂散测试系统,其特征在于,所述电调滤波器子系统(80),包括:第一电调滤波器组件(F1)、第二电调滤波器组件(F2)、第四电调滤波器组件(F4)和第五电调滤波器组件(F5);固定滤波器子系统(90),包括第六滤波器组件(F6)、第三高通滤波器(H3)和第四高通滤波器(H4);所述第一开关矩阵(50),包括第一总射频开关(SW1)、第三射频开关(SW3)、第七射频开关(SW7)、第九射频开关(SW9)、第十一射频开关(SW11)和第十三射频开关(SW13);所述第一总射频开关(SW1),与所述第三射频开关(SW3)、所述第七射频开关(SW7)、所述第九射频开关(SW9)、所述第十一射频开关(SW11)和所述第十三射频开关(SW13)电连接;所述第二开关矩阵(70),包括第二总射频开关(SW2)、第四射频开关(SW4)、第八射频开关(SW8)、第十射频开关(SW10)、第十二射频开关(SW12)和第十四射频开关(SW14);所述第二总射频开关(SW2),与所述第四射频开关(SW4)、所述第八射频开关(SW8)、所述第十射频开关(SW10)、所述第十二射频开关(SW12)和所述第十四射频开关(SW14)电连接;所述第一总射频开关(SW1)和所述第二总射频开关(SW2)之间电连接所述被测设备(91);所述第一电调滤波器组件(F1),输入端与所述第三射频开关(SW3)电连接,输出端与所述第四射频开关(SW4)电连接;所述第二电调滤波器组件(F2),输入端与所述第七射频开关(SW7)电连接,输出端与所述第八射频开关(SW8)电连接;所述第四电调滤波器组件(F4),...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱娟宁,李建超,周棋,
申请(专利权)人:西安伟伦实业发展有限公司,
类型:新型
国别省市:
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