用于Mesh组件的双面检测机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于Mesh组件的双面检测机构，包括两个检测单元，两个所述检测单元分别作用于所述Mesh组件的相对两个待检测面；每个所述检测单元均包括面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件；两个所述面阵相机能够分别对Mesh组件的两个待检测面进行图像信息获取；所述低角度环形光源件能够对所述Mesh组件发射环形光线；其中，还包括至少一个所述背光源件，所述背光源件与其对应设置的所述低角度环形光源件分别位于所述Mesh组件的相对两侧，所述背光源件能够对所述Mesh组件发射背光线。本实用新型专利技术至少包括以下优点：通过双工位设置，利用互不干扰的光源组件配合图像获取组件，能够快速获取清晰、高对比度的Mesh组件特征。特征。特征。

【技术实现步骤摘要】
用于Mesh组件的双面检测机构


[0001]本技术涉及光学检测
，具体的是一种用于Mesh组件的双面检测机构。

技术介绍

[0002]本部分的描述仅提供与本技术公开相关的背景信息，而不构成现有技术。
[0003]随着智能手机的普及，相关的手机配件的产能需求大大增加，尤其对于手机组件Mesh的外观瑕疵检测，在工业生产中具有很大的需求。传统针对其外观瑕疵的判断方式主要依赖于人工目视来进行检测，但该方案具有效率底、用工成本大、不便管理等缺点，因此急需一种能大大提升效率，节约用工成本的非接触式的立体视觉检测方案。
[0004]应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

技术实现思路

[0005]为了克服现有技术中的缺陷，本技术实施例提供了一种用于Mesh组件的双面检测机构，其通过双工位设置，利用互不干扰的光源组件配合图像获取组件，能够快速获取清晰、高对比度的Mesh组件特征。
[0006]本申请实施例公开了：一种用于Mesh组件的双面检测机构，包括两个检测单元，两个所述检测单元分别作用于所述Mesh组件的相对两个待检测面；
[0007]每个所述检测单元均包括面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件，所述面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件沿朝向Mesh组件的方向依次设置；
[0008]两个所述面阵相机能够分别对Mesh组件的两个待检测面进行图像信息获取；
[0009]所述低角度环形光源件能够对所述Mesh组件发射环形光线；
[0010]其中，还包括至少一个所述背光源件，所述背光源件与其对应设置的所述低角度环形光源件分别位于所述Mesh组件的相对两侧，所述背光源件能够对所述Mesh组件发射背光线。
[0011]进一步地，还包括移载件，所述移载件用于承载所述Mesh组件、且能够驱动所述Mesh组件相对所述检测组件错位移动。
[0012]进一步地，所述移载件包括框架本体、能够驱动所述框架本体移动的多个方向的旋转轴部，所述框架本体能够承载所述Mesh组件，所述框架本体具有并让空间，所述低角度环形光源件发射的环形光线及所述背光源件发射的背光线均能够全部通过所述避让空间，以照射所述Mesh组件的待检测面。
[0013]进一步地，两个所述检测单元相对所述Mesh组件错位设置，所述移载件能够驱动所述Mesh组件分别与两个所述检测单元正对设置。
[0014]进一步地，所述面阵相机采用高分辨率面阵相机，所述高分辨率面阵相机的像素
大于200万。
[0015]进一步地，所述低角度环形光源件发射的环形光线的入射角度在30
‑
45
°
之间。
[0016]借由以上的技术方案，本技术的有益效果如下：以所述Mesh组件为基准，分别在其上、下两个待检测面搭配工作距离、安装角度等适配、且互不干扰的低角度环形光源件，配合面阵相机和远心镜头，通过低角度环形光源件分别对Mesh组件的正反面进行打光，再经过所述面阵相机能够获取清晰、高对比度的Mesh组件外观特征，对上述获取的Mesh组件外观特征结合图像处理软件即可判断该Mesh组件正反面是否有外观瑕疵，突破传统的人工检测目视方式，将成本较低、速度快、效果清晰、结构简单的图像外观检测应用于手机组件Mesh检测，即实现非接触式多面立体视觉检测。
[0017]为让本技术的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本技术实施例中的其中一个检测单元的结构示意图；
[0020]图2是本技术实施例中的另一个检测单元的结构示意图；
[0021]图3是本技术实施例中的Mesh组件结构示意图。
[0022]以上附图的附图标记：1、面阵相机；2、远心镜头；3、低角度环形光源件；4、移载件；5、Mesh组件。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]需要说明的是，在本技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的和区别类似的对象，两者之间并不存在先后顺序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0025]结合图1至图3所示，本实施例公开了一种用于Mesh组件的双面检测机构，包括两个检测单元，两个所述检测单元分别作用于所述Mesh组件5的相对两个待检测面；
[0026]每个所述检测单元均包括面阵相机1、远心镜头2及低角度环形光源件3，所述面阵相机1、远心镜头2及低角度环形光源件3沿朝向Mesh组件5的方向依次设置；
[0027]两个所述面阵相机1能够分别对Mesh组件5的两个待检测面进行图像信息获取；
[0028]所述低角度环形光源件3能够对所述Mesh组件5发射环形光线；
[0029]其中，还包括至少一个所述背光源件，所述背光源件与其对应设置的所述低角度环形光源件3分别位于所述Mesh组件5的相对两侧，所述背光源件能够对所述Mesh组件5发
射背光线。
[0030]通过上述的设置方式，以所述Mesh组件5为基准，分别在其上、下两个待检测面搭配工作距离、安装角度等适配、且互不干扰的低角度环形光源件3，配合面阵相机1和远心镜头2，通过低角度环形光源件3分别对Mesh组件5的正反面进行打光，再经过所述面阵相机1能够获取清晰、高对比度的Mesh组件5外观特征，对上述获取的Mesh组件5外观特征结合图像处理软件即可判断该Mesh组件5正反面是否有外观瑕疵，突破传统的人工检测目视方式，将成本较低、速度快、效果清晰、结构简单的图像外观检测应用于手机组件Mesh检测，即实现非接触式多面立体视觉检测。
[0031]本实施方式中，两个所述检测单元沿上下方向设置，值得注意的是，所述Mesh组件5再检测过程中具有第一检测位置和第二检测位置，所述第一检测位置和第二检测位置在左右方向上错位设置。位于所述Mesh组件5上方的所述检测单元在第一检测位置对所述Mesh组件5进行检测，位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于Mesh组件的双面检测机构，其特征在于，包括两个检测单元，两个所述检测单元分别作用于所述Mesh组件的相对两个待检测面；每个所述检测单元均包括面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件，所述面阵相机、远心镜头及低角度环形光源件沿朝向Mesh组件的方向依次设置；两个所述面阵相机能够分别对Mesh组件的两个待检测面进行图像信息获取；所述低角度环形光源件能够对所述Mesh组件发射环形光线；其中，还包括至少一个所述背光源件，所述背光源件与其对应设置的所述低角度环形光源件分别位于所述Mesh组件的相对两侧，所述背光源件能够对所述Mesh组件发射背光线。2.如权利要求1所述的用于Mesh组件的双面检测机构，其特征在于，还包括移载件，所述移载件用于承载所述Mesh组件、且能够驱动所述Mesh组件相对所述检测组件错位移动。3.如权利要求2所述的用于Mesh组件的双面检测机构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾勇强，张深逢，蔡大帅，常浩捷，
申请(专利权)人：逸美德科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：