一种基于多功率微射流激光的SiC切割装置及其切割方法制造方法及图纸

技术编号:32878680 阅读:24 留言:0更新日期:2022-04-02 12:11
本申请一种基于多功率微射流激光的SiC切割装置及其切割方法,属于半导体材料加工领域。其主要包括:固定模块,其用于对SiC晶锭进行固定,带动SiC晶锭以预定速度进行自旋转,以及带动SiC晶锭进行步进;以及切割模块,其用于对SiC晶锭进行切割;其中切割模块包括多功率微射流激光头,其用于通过功率大小不同的多个微射流激光,对不同切割阶段的SiC晶锭进行切割。本申请的有益效果是,利用多功率微射流激光头的功率大小不同的多个微射流激光,对不同切割阶段的所述SiC晶锭进行切割,能够保证切割效率的前提下,有效地提高SiC切割品质,降低损伤、提高出品率。提高出品率。提高出品率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于多功率微射流激光的SiC切割装置及其切割方法


[0001]本申请涉及本专利技术属于半导体材料的加工
,特别涉及一种基于多功率微射流激光的SiC切割装置及其切割方法。

技术介绍

[0002]SiC作为一种典型的硬脆材料,莫氏硬度为9.2~9.5仅次于金刚石,使得其加工制造过程十分困难。切割作为制造SiC单晶衬底首要关键的工序,其加工质量直接影响到材料切割损失、后续工序的材料去除量、最终加工质量(表面粗糙度和平整度)、产品出品率及加工成本等。随着晶体生长技术的发展和市场的需求持续增加,大直径SiC单晶衬底的需求量越来越大;目前SiC单晶衬底正由6英寸向8英寸过渡,对传统的晶片切割技术带来了严峻的挑战,如何高效率、高质量、低成本、低损伤、高出品率切割SiC单晶,已成为当前SiC单晶衬底加工领域重要的研究方向。
[0003]现有技术中采用微射流激光对SiC晶锭进行切割时,采用的是单一功率微射流激光头。如果激光功率过大,则切割过于粗糙,不利于高质量,低损伤、高出品率地切割SiC单晶;而如果采用的激光功率较小,则切割效率较低,成本较高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于多功率微射流激光的SiC切割装置,包括:固定模块,其用于对SiC晶锭进行固定,带动所述SiC晶锭以预定速度进行自旋转,并带动所述SiC晶锭进行步进;以及切割模块,其用于对所述SiC晶锭进行切割;其特征在于,所述切割模块包括多功率微射流激光头,其用于通过功率大小不同的多个微射流激光,对不同切割阶段的所述SiC晶锭进行切割。2.根据权利要求1所述的基于多功率微射流激光的SiC切割装置,其特征在于,还包括,控制模块,其用于控制所述切割模块进行切割,并且控制所述固定模块进行自旋转和步进。3.根据权利要求2所述的基于多功率微射流激光的SiC切割装置,其特征在于,所述控制模块根据预设的第一规则控制所述固定模块进行步进;所述控制模块包括:激光控制模块,其用于根据预设的第二规则,利用所述多级微射流激光中的一个所述微射流激光对所述SiC晶锭进行切割,并在所述固定模块带动所述SiC晶锭完成步进后,将微射流激光继续进行相应切换。4.根据权利要求1所述的基于多功率微射流激光的SiC切割装置,其特征在于,所述固定模块包括,第一固定子模块,其用于对所述SiC晶锭的籽晶部位进行固定,并带动所述SiC晶锭的籽晶部位进行自旋转和步进...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨森胡彦飞郭辉张晨旭
申请(专利权)人:西安晟光硅研半导体科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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