用于测试抖动容忍度的系统和方法技术方案

本申请公开了用于测试抖动容忍度的系统和方法。一种评估一个或多个多管芯电路元件容忍封装内存在抖动的能力的方法。该方法包括：提供具有用于数字通信的一发射器组的第一管芯，该发射器组包括第一发射器和第二发射器；提供具有用于数据通信的一接收器组的第二管芯；提供性能监视器；使用封装内迹线，将来自第一发射器的第一发射信号耦合到该接收器组中的接收器；将来自第二发射器的第二发射信号耦合到外部引脚；提供在第一发射信号和第二发射信号中引起抖动的输入信号；经由外部引脚测量第二发射信号中的抖动；以及使用性能监视器确定第二管芯的性能特征。定第二管芯的性能特征。定第二管芯的性能特征。

【技术实现步骤摘要】
用于测试抖动容忍度的系统和方法


[0001]本申请通常涉及电子部件的抖动测试，并且具体地，涉及多管芯(multi
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die)集成电路内的部件的抖动容忍度测试。

技术介绍

[0002]在寻求更小的电子产品的过程中，多管芯集成电路越来越少。试图评估管芯部件在与多管芯集成电路的其他管芯的信令中容忍抖动的能力并没有完全成功。

技术实现思路

[0003]因此，本文公开了用于最小侵入性抖动容忍度测试的系统和方法。
[0004]本公开的一个说明性实施例是一种评估一个或多个电路元件容忍接收的信号内存在抖动的能力的方法。该方法包括：提供具有用于数字通信的一发射器组的第一管芯，该发射器组包括第一发射器和第二发射器；提供具有用于数据通信的一接收器组的第二管芯；提供性能监视器；使用封装内迹线，将来自第一发射器的第一发射信号耦合到该接收器组中的接收器；将来自第二发射器的第二发射信号耦合到外部引脚；提供在第一发射信号和第二发射信号中引起抖动的输入信号；经由外部引脚测量第二发射信号中的抖动；以及使用性能监视器确定第二管芯的性能特征。
[0005]本公开的另一个说明性示例是一种抖动容忍度测试系统，包括封装和测试控制器。封装包括：第一管芯，第一管芯具有第一发射器和第二发射器；第二管芯，第二管芯具有接收器和性能监视器；信号路径，信号路径将来自第一发射器的第一发射信号耦合到接收器；以及外部引脚，外部引脚使来自第二发射器的第二发射信号可用于测试控制器。从测试控制器到第一发射器和第二发射器的参考信号控制发射器的操作频率。测试控制器包括：信号发生器，信号发生器向提供参考频率的封装提供输入信号，并且提供在第一发射信号和第二发射信号中引起抖动的能力；抖动测量电路，抖动测量电路测量第二发射信号中的抖动；以及处理器，处理器控制发送到管芯的参考频率，从抖动测量电路获得所测量的抖动，并且从性能监视器获得性能指示器信号，性能指示器信号指示即使存在抖动的情况下第二管芯的一个或多个部件从第一发射信号检取数据的能力。
[0006]很具本公开的另一个实施例，一种抖动容忍度测试系统包括：第一管芯，第一管芯具有发射器；第二管芯，第二管芯具有接收器和性能监视器；信号路径，信号路径将来自发射器的发射信号耦合到接收器，信号路径被配置为模仿预定程度的串扰或预定程度的插入损耗；信号发生器，信号发生器以参考频率提供输入信号，以引起发射器以与参考频率成比例的频率向接收器发射发射信号；以及处理器，处理器控制输入信号并且从性能监视器获得性能指示器信号，性能指示器信号指示即使存在串扰或插入损耗的情况下第二管芯的一个或多个部件从发射信号检取数据的能力。
[0007]本公开的另一个说明性实施例是一种抖动容忍度测试方法，包括：提供具有发射器的第一管芯；提供具有用于数据通信的一接收器组的第二管芯；提供性能监视器；配置封
装内迹线，以模仿预定程度的串扰或预定程度的插入损耗；以参考频率提供使发射器以与参考频率成比例的频率发射发射信号的输入信号；使用封装内迹线，将来自发射器的发射信号耦合到该接收器组中的接收器；以及使用性能监视器确定第二管芯的性能特征。
附图说明
[0008]图1是说明性多管芯集成电路的框图。
[0009]图2示出了抖动容忍度测试系统的说明性实施例。
[0010]图3示出了用于测试诸如图1中的多管芯集成电路中的抖动容忍度的方法的另一个说明性实施例。
[0011]图4
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图10示出了用于测试抖动容忍度的系统的附加实施例。
[0012]图11示出了测量多管芯封装中的抖动容忍度的方法。
具体实施方式
[0013]请注意，所提供的附图和相对应的具体实施方式仅用于解释目的，并不限制本公开。相反，它们为理解落入所附权利要求范围内的所有修改、等价物和替代物提供了基础。为了增强对本公开的各种创造性构思的吸收，并非所有设备部件都在每个附图中有所描绘。
[0014]图1是说明性多管芯集成电路(IC)100。在本公开内，多管芯IC 100也可以被称为封装。在多管芯IC 100中，每个管芯(例如，管芯#1)可以以高速向一个或多个其他管芯(例如，管芯#2，104)发送信息，以及以高速从一个或多个其他管芯接收信息。另外，一些或所有这些管芯可以与IC 100外部的一个或多个节点(例如，节点#1)通信。
[0015]在一些实施例中，封装内通信102按照本领域技术人员已知的协议和规范(诸如超短距离(USR)标准和极短距离(XSR)标准)发生。为了有助于确保封装100符合各种标准和协议(例如，ITU
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TG.8262/Y.1362)，重要的是确认尽管存在抖动，封装100内的部件(例如，104)能够正常工作。有各种方法来测量抖动容忍度。例如，将已知量的抖动(例如，正弦抖动)引入系统(例如，100)中，将发送的数据信号与接收的数据信号进行比较，并且确定发送的和接收的数据信号之间的误差率。在本公开的至少一个实施例中，误差率是比特误码率(BER)。在一些实施例中，误差率是码元误码率。当为了抖动容忍度检查被测设备(DUT)(例如，管芯上的接收器)时，可以以不同频率添加不同程度的正弦抖动，并且关于在给定的抖动严重程度和抖动频率下不超过BER上限的能力评估接收器。在一些抖动容忍度测试中，在DUT的输入处引入抖动而不是向从另一个部件(例如，发射电路)发送到DUT的信号中添加抖动，或者除了向从另一个部件(例如，发射电路)发送到DUT的信号中添加抖动之外还在DUT的输入处引入抖动。无论在何处以及如何引入抖动，重要的是在与DUT在正常使用期间预期操作的条件基本相似的条件下评估DUT的抖动容忍度。
[0016]图2示出了抖动容忍度测试系统200的说明性实施例。封装201的第一管芯202通过多个封装内迹线206与封装201的第二管芯204通信。来自第一参考信号源209的第一参考信号208设置第一管芯202上的发射锁相环(TXPLL)的参考频率。在图2所示的示例中，参考信号源209驻留在封装201外，但是本领域技术人员将理解，在本公开的一个或多个实施例中，信号源209可以驻留在封装201内。TXPLL向多个发射器(TX)220输出第一定时信号210(具有
与信号208的频率成比例的频率)。发射器TX#1 222将数据信号发射到抖动监视器230。其他发射器220(例如，TX#3，232)通过迹线206将数据信号(例如，212)发射到第二管芯204中的接收器(RX)224。通过第一定时信号210确定数据信号211、212的频率。接收器(RX)224的频率由从接收锁相环(RXPLL)发出的第二定时信号214管控，接收锁相环(RXPLL)的定时由第二参考信号源218生成的第二参考信号216管控。
[0017]迹线206中的一个或多个迹线可以被配置为模拟多管芯集成电路201可以被预期在其中操作的一个或多个不利条件。例如，可以在集成电路201中将特定的迹线207设计为具有特定的插入损耗对频率特性的关本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种抖动容忍度测试方法，包括：提供第一管芯，所述第一管芯具有用于数字通信的一发射器组，所述发射器组包括第一发射器和第二发射器；提供第二管芯，所述第二管芯具有用于数字通信的一接收器组，所述接收器中的至少一个接收器包括性能监视器；使用封装内迹线，将来自所述第一发射器的第一发射信号耦合到所述接收器组中的接收器；将来自所述第二发射器的第二发射信号耦合到外部引脚；提供在所述第一发射信号和所述第二发射信号中引起抖动的输入信号；经由所述外部引脚测量所述第二发射信号中的抖动；以及使用所述性能监视器确定所述第二管芯的性能特征。2.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是具有可控正弦抖动的参考信号，并且所述第一管芯包括锁相环，所述锁相环将所述参考信号转换为所述第一发射器和所述第二发射器的码元时钟信号。3.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是具有可控正弦抖动的参考信号，并且所述第一管芯包括第一锁相环和第二锁相环，所述第一锁相环将所述参考信号转换为所述第一发射器的第一码元时钟信号，所述第二锁相环将所述参考信号转换为所述第二发射器的第二码元时钟信号，其中所述第一锁相环和所述第二锁相环被配置为在所述第一码元时钟信号和所述第二码元时钟信号中引入等效抖动。4.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于相位旋转器的相位控制信号，所述相位旋转器对发射器锁相环的输出进行操作，以修改所述第一发射器和所述第二发射器的采样时钟信号的相位。5.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于第一相位旋转器的相位控制信号，所述第一相位旋转器操作以修改所述第一发射器的第一采样时钟信号的相位，并且其中所述输入信号是用于第二相位旋转器的相位控制信号，所述第二相位旋转器操作以修改所述第二发射器的第二采样时钟信号的相位，其中所述第一相位旋转器和所述第二相位旋转器被配置为在所述第一采样时钟信号和所述第二采样时钟信号中引入等效抖动。6.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于第一锁相环中的多模除法器的除法器控制信号，所述多模除法器将参考信号转换为所述第一发射器和所述第二发射器的码元时钟信号。7.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于第一锁相环中的第一多模除法器和第二锁相环中的第二多模除法器的除法器控制信号，其中所述第一多模除法器将参考信号转换为所述第一发射器的第一码元时钟信号，并且所述第二多模除法器将所述参考信号转换为所述第二发射器的第二码元时钟信号，其中所述第一锁相环和所述第二锁相环被配置为在所述第一码元时钟信号和所述第二码元时钟信号中引入等效抖动。8.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于第一锁相环的反馈路径中的相位旋转器的相位控制信号，所述相位旋转器将参考信号转换为所述
第一发射器和所述第二发射器的码元时钟信号。9.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述输入信号是用于第一锁相环的第一反馈路径中的第一相位旋转器和第二锁相环的第二反馈路径中的第二相位旋转器的相位控制信号，其中所述第一相位旋转器将参考信号转换为所述第一发射器的第一码元时钟信号，并且所述第二锁相环将所述参考信号转换为所述第二发射器的第二码元时钟信号。10.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，其特征在于，所述抖动具有有着幅度和频率的正弦相位变化，并且其中经由所述外部引脚测量所述第二发射信号中的抖动包括确定与所述输入信号的可控参数相关联的正弦相位变化的所述幅度和所述频率。11.如权利要求10所述的抖动容忍度测试方法，进一步包括确定一个或多个接收器的性能特征对与所述输入信号的所述可控参数相关联的所述幅度或所述频率中的至少一者的依赖性。12.如权利要求1所述的抖动容忍度测试方法，进一步包括一个或多个接收器的性能特征超过预定义阈值时的幅度和频率值，其中所述性能特征是比特误码率、码元误码率或均方误码率中的一者。13.一种抖动容忍度测试系统，包括：封装；以及测试控制器，所述封装包括：第一管芯，所述第一管芯具有第一发射器和第二发射器；第二管芯，所述第二管芯具有接收器和性能监视器；信号路径，所述信号路径将来自所述第一发射器的第一发射信号耦合到所述接收器；以及外部引脚，所述外部引脚使来自所述第二发射器的第二发射信号可用于所述测试控制器，并且所述测试控制器包括：信号发生器，所述信号发生器向所述封装提供输入信号，以在所述第一发射信号和所述第二发射信号中引起抖动；抖动测量电路，所述抖动测量电路测量所述第二发射信号中的抖动；以及处理器，所述处理器控制所述输入信号，从抖动测量电路获得所测量的抖动，并且从所述性能监视器获得性能指示器信号，所述性能指示器信号指示即使存在抖动的情况下所述第二管芯的一个或...

【专利技术属性】
技术研发人员：A，
申请(专利权)人：默升科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：