提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质，其中方法包括:执行内存颗粒的数据模型的保持测试；在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。本发明专利技术提升了测试效率，降低了整体测试所需的时间。所需的时间。所需的时间。

【技术实现步骤摘要】
提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及固态硬盘，更具体地说是一种提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]在SSD(固态硬盘)测试过程中一般采用逐一测试的方法来确认SOC(控制器),DDR(内存颗粒),NAND Flash(闪存颗粒)的功能，随着产品容量越来越大，DDR(内存颗粒)的测试时间越来越长，一般512M DDR(内存颗粒)完成一次全地址的Pattern测试(不同数据模型测试)需2分钟左右，如果等待时间30分钟来测试DDR的数据保持能力，执行10个Pattern的Retention测试需要6小时以上，测试时间长，测试效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供提高固态硬盘功能测试效率的方法、装置、设备及介质。
[0004]为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]第一方面，提高固态硬盘功能测试效率的方法，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，所述方法包括：
[0006]执行内存颗粒的数据模型的保持测试；
[0007]在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；
[0008]当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；
[0009]若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。
[0010]其进一步技术方案为：所述的执行内存颗粒的数据模型的保持测试，具体包括：
[0011]设定数据模型的保持测试所需的参数，所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长；
[0012]选择需进行测试的数据模型；
[0013]对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验，以确认数据的正确性；
[0014]将校验结果数据进行保存。
[0015]其进一步技术方案为：所述数据保持时长为25分钟
‑
40分钟。
[0016]其进一步技术方案为：所述的执行闪存颗粒的数据擦读写测试，具体包括：
[0017]擦除闪存颗粒的所有地址中的数据；
[0018]将擦除后的所有地址中写满数据；
[0019]读取所有地址中的数据并确认数据的正确性；
[0020]将校验结果数据进行保存。
[0021]第二方面，提高固态硬盘功能测试效率的装置，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，所述装置包括第一执行单元、第二执行单元、判断单元以及第三执行单元；
[0022]所述第一执行单元，用于执行内存颗粒的数据模型的保持测试；
[0023]所述第二执行单元，用于在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；
[0024]所述判断单元，用于当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；
[0025]所述第三执行单元，用于若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。
[0026]其进一步技术方案为：所述第一执行单元包括设定模块、选择模块、对比校验模块以及第一保存模块；
[0027]所述设定模块，用于设定数据模型的保持测试所需的参数，所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长；
[0028]所述选择模块，用于选择需进行测试的数据模型；
[0029]所述对比校验模块，用于对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验，以确认数据的正确性；
[0030]所述第一保存模块，用于将校验结果数据进行保存。
[0031]其进一步技术方案为：所述数据保持时长为25分钟
‑
40分钟。
[0032]其进一步技术方案为：所述第二执行单元包括擦除模块、写入模块、读取模块以及第二保存模块；
[0033]所述擦除模块，用于擦除闪存颗粒的所有地址中的数据；
[0034]所述写入模块，用于将擦除后的所有地址中写满数据；
[0035]所述读取模块，用于读取所有地址中的数据并确认数据的正确性；
[0036]所述第二保存模块，用于将校验结果数据进行保存。
[0037]第三方面，一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的提高固态硬盘功能测试效率的方法步骤。
[0038]第四方面，一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令被处理器执行时，使得所述处理器执行如上述的提高固态硬盘功能测试效率的方法步骤。
[0039]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：本专利技术通过在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试，由于在执行数据模型的保持测试的过程中会有一段时间的等待期，因此利用这段等待期来执行闪存颗粒的数据擦读写测试，可以有效的将等待期的这段时间充分的利用起来，在满足功能测试的基础上，又极大的提升了测试效率，降低了整体测试所需的时间。
[0040]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术技术手段，可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，详细说明如下。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0042]图1为本专利技术具体实施例提供的提高固态硬盘功能测试效率的方法的流程图；
[0043]图2为本专利技术具体实施例提供的提高固态硬盘功能测试效率的装置的示意性框图；
[0044]图3为本专利技术具体实施例提供的一种计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0045]为了更充分理解本专利技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例对本专利技术的技术方案进一步介绍和说明，但不局限于此。
[0046]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0047]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0048]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.提高固态硬盘功能测试效率的方法，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，其特征在于，所述方法包括：执行内存颗粒的数据模型的保持测试；在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦读写测试，且判断正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试是否完成；若正在执行的内存颗粒的数据模型的保持测试已完成，则进入下一轮的内存颗粒的数据模型的保持测试。2.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法，其特征在于，所述的执行内存颗粒的数据模型的保持测试，具体包括：设定数据模型的保持测试所需的参数，所述参数包括写入时间、刷新周期和数据保持时长；选择需进行测试的数据模型；对达到数据保持时长要求的数据模型与之前写入的数据模型进行对比校验，以确认数据的正确性；将校验结果数据进行保存。3.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法，其特征在于，所述数据保持时长为25分钟
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40分钟。4.根据权利要求1所述的提高固态硬盘功能测试效率的方法，其特征在于，所述的执行闪存颗粒的数据擦读写测试，具体包括：擦除闪存颗粒的所有地址中的数据；将擦除后的所有地址中写满数据；读取所有地址中的数据并确认数据的正确性；将校验结果数据进行保存。5.提高固态硬盘功能测试效率的装置，其特征在于，所述固态硬盘包括内存颗粒和闪存颗粒，所述装置包括第一执行单元、第二执行单元、判断单元以及第三执行单元；所述第一执行单元，用于执行内存颗粒的数据模型的保持测试；所述第二执行单元，用于在执行数据模型的保持测试的过程中执行闪存颗粒的数据擦读写测试；所述判断单元，用于当正在执行的闪存颗粒的数据擦读写测试执行完成后直接进入下一轮的闪存颗粒的数据擦...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈道华，赵军委，王伟良，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：