一种JTAG控制装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种JTAG控制装置，其包括：主TAP控制器和多个从TAP控制器；第一选择单元，连接主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试时钟信号，配置为根据主TAP控制器中的第一寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试时钟信号；第二选择单元，连接主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试数据输入信号，配置为根据主TAP控制器中的第二寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试数据信号；第三选择单元，与主TAP控制器和每个TAP控制器的输出数据信号连接，配置为根据主TAP控制器中的第三寄存器将主TAP控制器和多个从TAP控制器的输出之一作为JTAG的测试数据输出端口。端口。端口。

【技术实现步骤摘要】
一种JTAG控制装置


[0001]本专利技术涉及电子控制
，尤其涉及一种JTAG控制装置。

技术介绍

[0002]在超大规模数字集成电路设计中，尤其是SoC(System on Chip，系统级芯片)，因为功能复杂，性能完整，整个芯片设计一般分为不同的功能模块。总的设计流程是先完成单个功能模块的设计和验证，然后整个成一个大的芯片。在芯片级测试中，模块之间，模块与外部之间，目前使用的最多的是基于JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)协议的通讯及其扩展。因此，在ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)测试向量中，设计工程师和DFT(Design For Test，用于芯片测试而设计的电路)工程师通常需要提供基于JTAG指令的ATE测试向量，将该ATE测试向量交给ATE测试工程师用来进行ATE测试。而一个完整的JTAG TAP(Test Access Port，测试访问端口)由16位状态机组成，所有的测试指令围绕JTAG作开发完成。
[0003]传统的JTAG连接方式测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种JTAG控制装置，其特征在于，所述装置包括：主TAP控制器和多个从TAP控制器；第一选择单元，所述第一选择单元连接所述主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试时钟信号，配置为根据主TAP控制器中的第一寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试时钟信号；第二选择单元，所述第二选择单元连接所述主TAP控制器和每个从TAP控制器的测试数据输入信号，配置为根据主TAP控制器中的第二寄存器选通主TAP控制器与任意从TAP控制器之间的测试数据信号；第三选择单元，所述第三选择单元与所述主TAP控制器和每个TAP控制器的输出数据信号连接，配置为根据主TAP控制器中的第三寄存器将主TAP控制器和多个从TAP控制器的输出之一作为JTAG的测试数据输出端口。2.根据权利要求1所述的JTAG控制装置，其特征在于，所述主TAP控制器和每个从TAP控制器均包括测试时钟端口、测试复位端口、测试数据输入端口、测试模式选择端口和测试数据输出端口；每个从TAP控制器的测试时钟端口均与主TAP控制器的测试时钟端口连接，每个从TAP控制器的测试复位端口均与主TAP控制器的测试复位端口连接。3.根据权利要求2所述的JTAG控制装置，其特征在于，JTAG的测试时钟端口、测试复位端口、测试数据输入端口、测试模式选择端口分别对应于与所述主TAP控制器的测试时钟端口、测试复位端口、测试数据输入端口、测试模式选择端口。4.根据权利要求2所述的JTAG控制装置，其特征在于，所述主TAP控制器还包括与每个从TAP控制器对应的第一片选端口，所述第一选择单元包括与每个从TAP控制器对应的开关；所述开关的一端与对应从TAP控制器的测试模式...

【专利技术属性】
技术研发人员：马恒，苏建龙，王明明，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：