电流检测电路、电流检测系统以及电源电路技术方案

实施方式涉及电流检测电路、电流检测系统以及电源电路。根据实施方式，电流检测电路具备：常断型的第二开关元件，与具有将输出电流输出的漏极的常通型的第一开关元件级联连接；常断型的第三开关元件，与所述第二开关元件并联连接，漏极与可变电流源连接；以及比较电路，根据所述第二开关元件的漏极电压与所述第三开关元件的漏极电压的比较结果而输出检测信号。号。号。

【技术实现步骤摘要】
电流检测电路、电流检测系统以及电源电路
[0001]关联申请
[0002]本申请享受2020年9月24日申请的日本国专利申请号2020
‑
159320的优先权的利益，该日本国专利申请的全部内容被引用于本申请。


[0003]本实施方式通常涉及电流检测电路、电流检测系统以及电源电路。

技术介绍

[0004]以往，公开了将常通型的开关元件与常断型的开关元件级联连接的半导体装置。例如，常通型的开关元件由以GaN(氮化镓)或SiC(碳化硅)为材料的晶体管构成。由GaN或SiC构成的常通型的开关元件在高耐压下为低损耗，因此适合应用于输出高电压的电源电路。另一方面，由于具备常通型的开关元件，因此例如存在响应于常通型的开关元件的漏电流而无法准确地检测半导体装置的输出电流的情况。例如，在将交流电压转换为直流电压的AC/DC转换器中，通过使输入电压与输出电流的相位一致来提高功率因数，因此期望是具备能够准确地检测输出电流的电流检测电路的结构。期望一种能够有效利用具备常通型的开关元件的半导体装置的特性且准确地检测输出电流的可靠性高的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流检测电路，具备：常通型的第一开关元件，具有源极、漏极以及栅极；常断型的第二开关元件，具有：漏极，与所述第一开关元件的源极连接；源极，与基准电位连接；以及栅极；常断型的第三开关元件，具有：源极，与所述第二开关元件的源极连接；漏极，与电流值响应于控制信号而变化的电流源连接，栅极被施加在电流检测时对所述第二开关元件的栅极施加的电压；以及比较电路，对所述第二开关元件的漏极电压和所述第三开关元件的漏极电压进行比较，输出检测信号。2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其中，所述电流源的电流值从正值变化到负值。3.根据权利要求2所述的电流检测电路，其中，所述电流源具备：对所述第三开关元件的漏极供给第一电流的第一电流源；和对所述第三开关元件的漏极供给第二电流的第二电流源。4.根据权利要求3所述的电流检测电路，其中，所述第一电流源具备多个MOS晶体管，该多个MOS晶体管在第一电源供给端与所述第三开关元件的漏极之间并联连接，并具有进行了规定的加权的尺寸。5.根据权利要求2所述的电流检测电路，其中，所述电流源具备电阻梯形电路。6.根据权利要求1所述的电流检测电路，其中，所述第一开关元件具有GaN晶体管。7.一种电流检测系统，具备：电流检测电路，具备：常通型的第一开关元件，具有源极、漏极以及栅极；常断型的第二开关元件，具有：漏极，与所述第一开关元件的源极连接；源极，与基准电位连接；以及栅极；常断型的第三开关元件，具有：源极，与所述第二开关元件的源极连接；漏极，与电流值响应于控制信号而变化的电流源连接，栅极被施加在电流检测时对所述第二开关元件的栅极施加的电压；以及比较电路，对所述第二开关元件的漏极电压和所述第三开关元件的漏极电压进行比较，输出检测信号；控制电路，生成所述控制信号的基础数据；第一隔离器，将所述控制电路与所述电流检测电路之间绝缘分离，并将基于所述基础数据的信号供给至所述电流检测电路；以及第二隔离器，将所述比较电路与所述控制电路之间绝缘分离，并将所述检测信号供给至所述控制电路。8.根据权利要求7所述的电流检测系统，其中，所述电流源的电流值从正值变化到负值。
9.根据权利要求8所述的电流检测系统，其中，所述电流源具备：对所述第三开关元件的漏极供给第一电流的第一电流源；和对所述第三开关元件的漏极供给第二电流的第二电流源。10.根据权利要求9所述的电流检测系统，其中，所述第一电流源具备多个MOS晶体管，该多个MOS晶体管在第一电源供给端与所述第三开关元件的漏极之间并联连接，并具有进行了规定的加权的尺寸。11.根据权利要求8所述的电流检测系统，其中，所述电流源具备电阻梯形电路。12.根据权利要求7所述的电流检测系统，其中，所述第一开关元件具有GaN晶体管。...

【专利技术属性】
技术研发人员：间岛秀明，
申请(专利权)人：东芝电子元件及存储装置株式会社，
类型：发明
国别省市：