产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质，该检测方法包括获取多个历史批次产品的历史测试数据；对历史测试数据进行筛选以获取中间测试数据；根据预设测试参数对中间测试数据进行分组以获取第一分组；根据第一分组的中间测试数据获取第一分组的分布类型；在分布类型为预设分布类型时将分布类型对应的第一分组作为目标分组；根据目标分组对应的中间测试数据获取目标测试限值。本发明专利技术基于历史测试数据确定初始测试限值，实现在新批次产品检测之前收紧关键限值，以保证对新批次产品的测试数据的检测准确性；能够自适应地对测试限值的动态调整，实时有效地检测出存在异常数据的芯片测试数据，提高了芯片的测试质量。芯片的测试质量。芯片的测试质量。

【技术实现步骤摘要】
产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在半导体芯片量产测试阶段，参数测试结果通常符合正态分布。目前，主要通过判断测试结果是否在测试规格范围内，若在则确定芯片通过测试(即芯片质量合格)；然而，有些芯片对应的测试结果即便在测试规格范围，但是会过于偏离平均值，当这些异常的芯片仍将作为良好产品装运时，就会影响芯片制造的质量，甚至造成质量事故，因此现有的芯片测试数据的检测方法无法满足更高的芯片生产需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中对半导体芯片量产测试的方式存在不能够满足实际需求的缺陷，目的在于提供一种产品测试数据的检测方法、系统、电子设备和存储介质。
[0004]本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
[0005]本专利技术提供一种产品测试数据的检测方法，所述检测方法包括：
[0006]获取多个历史批次产品对应的历史测试数据；
[0007]对所述历史测试数据进行筛选处理以获取中间测试数据；
[0008]根据不同的预设测试参数对所述中间测试数据进行分组处理以获取多个第一分组；其中，每种所述预设测试参数对应一个所述第一分组；
[0009]根据所述第一分组对应的所述中间测试数据获取每个所述第一分组对应的第一分布类型；
[0010]判断所述第一分布类型是否为预设分布类型，若是，则将所述第一分布类型对应的所述第一分组作为目标分组；
[0011]根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值；
[0012]其中，所述目标测试限值用于对新批次产品的测试数据进行测试。
[0013]较佳地，所述根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值的步骤包括：
[0014]根据所述目标分组对应的所述中间测试数据计算得到所述目标分组对应的统计学参数；其中，所述统计学参数包括平均值和均方差；
[0015]根据所述统计学参数和预设约束条件计算得到测试上限值和测试下限值，并将所述测试上限值和所述测试下限值作为所述目标测试限值。
[0016]较佳地，所述根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值的步骤之后还包括：
[0017]获取当前批次产品中当前测试组对应的当前测试数据；
[0018]获取所述当前测试数据中与不同的所述预设测试参数对应的多组目标测试数据；
[0019]判断所述目标测试数据是否在对应的所述目标测试限值内，若是，则确定所述目标测试数据为正常测试数据；若否，则确定所述目标测试数据为异常测试数据；
[0020]在设定数量的所述目标测试数据均为正常测试数据时，则确定当前测试组的所述当前测试数据通过检测；否则，确定当前测试组的所述当前测试数据未通过检测。
[0021]较佳地，在确定当前批次产品中当前测试组对应的所述当前测试数据通过检测，且所述预设分布类型为正态分布时，所述检测方法还包括：
[0022]将所述目标分组对应的所述中间测试数据作为当前训练种群；
[0023]计算得到所述当前训练种群对应的初始种群参数；
[0024]根据所述初始种群参数判断所述当前测试数据是否落入所述当前训练种群对应的正态分布的中心区域内，若是，则确定所述当前测试数据的鲁棒性满足预设要求，并将所述当前测试数据插入至所述训练种群以形成目标训练种群；
[0025]根据所述目标训练种群对应的测试数据更新所述目标测试限值；
[0026]对于当前批次产品中下一测试组对应的测试数据，计算得到所述目标训练种群对应的目标种群参数；
[0027]根据所述目标种群参数判断当前测试数据是否落入所述目标训练种群对应的正态分布的中心区域内，若是，则确定所述当前测试数据的鲁棒性满足预设要求，并将所述当前测试数据插入至所述目标训练种群以形成新的所述目标训练种群；
[0028]根据新的所述目标训练种群对应的测试数据更新所述目标测试限值。
[0029]较佳地，所述检测方法还包括：
[0030]判断所述目标训练种群中的测试数据是否满足预设条件，若满足，则生成第一测试数据以更新所述目标训练种群；
[0031]其中，更新前的所述目标训练种群与更新后的所述目标训练种群的统计学参数相差小于第一设定阈值，且更新后的所述目标训练种群对应的测试数据不满足所述预设条件；所述统计学参数包括平均值和均方差。
[0032]较佳地，所述判断所述目标训练种群中的测试数据是否满足预设条件，若满足，则生成第一测试数据以更新所述目标训练种群的步骤包括：
[0033]获取所述目标训练种群中的测试数据对应的四分位数；
[0034]判断所述四分位数中的第一四分位数是否等于第三四分位数，若是，则随机生成所述第一测试数据以更新所述目标训练种群。
[0035]较佳地，所述随机生成所述第一测试数据以更新所述目标训练种群的步骤包括：
[0036]采用反函数采样方法、Box-Muller变换方法(一种生成正态分布的随机数的方法)、中央极限定理中的至少一种方式，分别随机生成一组第二测试数据，计算每组所述第二测试数据对应的统计学参数与更新前的所述目标训练种群的统计学参数的差值，并选取所述差值的绝对值最小时对应的所述第二测试数据作为所述第一测试数据以更新所述目标训练种群。
[0037]较佳地，所述对所述历史测试数据进行筛选处理以获取中间测试数据的步骤包括：
[0038]筛选出所述历史测试数据中与所有所述预设测试参数对应的第三测试数据；
[0039]从所述第三测试数据中剔除超出预设测试限值的测试数据以获取所述中间测试数据。
[0040]较佳地，所述根据预设测试参数对所述中间测试数据进行分组处理以获取多个第一分组的步骤包括：
[0041]根据不同的所述预设测试参数对所述中间测试数据进行分组处理，获取多个中间分组；
[0042]判断所述中间分组的大小是否大于或者等于第二设定阈值，若是，则将所述中间分组作为所述第一分组。
[0043]较佳地，所述获取多个历史批次产品对应的历史测试数据的步骤之前还包括：
[0044]预先建立静态数据空间；
[0045]所述获取多个历史批次产品对应的历史测试数据的步骤之后、所述对所述历史测试数据进行筛选处理以获取中间测试数据的步骤之前包括：
[0046]获取设定格式的所述历史测试数据，并对所述历史测试数据进行解码处理并将解码后的所述历史测试数据存储至所述静态数据空间；
[0047]所述筛选出所述历史测试数据中与所有所述预设测试参数对应的第三测试数据的步骤包括：
[0048]基于所有所述预设测试参数，通过不同的API(应用程序接口)从所述静态数据空间输出所述第三测试数据。
[0049]本专利技术还提供一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试数据的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：获取多个历史批次产品对应的历史测试数据；对所述历史测试数据进行筛选处理以获取中间测试数据；根据不同的预设测试参数对所述中间测试数据进行分组处理以获取多个第一分组；其中，每种所述预设测试参数对应一个所述第一分组；根据所述第一分组对应的所述中间测试数据获取每个所述第一分组对应的第一分布类型；判断所述第一分布类型是否为预设分布类型，若是，则将所述第一分布类型对应的所述第一分组作为目标分组；根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值；其中，所述目标测试限值用于对新批次产品的测试数据进行测试。2.如权利要求1所述的产品测试数据的检测方法，其特征在于，所述根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值的步骤包括：根据所述目标分组对应的所述中间测试数据计算得到所述目标分组对应的统计学参数；其中，所述统计学参数包括平均值和均方差；根据所述统计学参数和预设约束条件计算得到测试上限值和测试下限值，并将所述测试上限值和所述测试下限值作为所述目标测试限值。3.如权利要求1所述的产品测试数据的检测方法，其特征在于，所述根据所述目标分组对应的所述中间测试数据获取目标测试限值的步骤之后还包括：获取当前批次产品中当前测试组对应的当前测试数据；获取所述当前测试数据中与不同的所述预设测试参数对应的多组目标测试数据；判断所述目标测试数据是否在对应的所述目标测试限值内，若是，则确定所述目标测试数据为正常测试数据；若否，则确定所述目标测试数据为异常测试数据；在设定数量的所述目标测试数据均为正常测试数据时，则当前测试组的所述当前测试数据通过检测；否则，确定当前测试组的所述当前测试数据未通过检测。4.如权利要求3所述的产品测试数据的检测方法，其特征在于，在确定当前批次产品中当前测试组对应的所述当前测试数据通过检测，且所述预设分布类型为正态分布时，所述检测方法还包括：将所述目标分组对应的所述中间测试数据作为当前训练种群；计算得到所述当前训练种群对应的初始种群参数；根据所述初始种群参数判断所述当前测试数据是否落入所述当前训练种群对应的正态分布的中心区域内，若是，则确定所述当前测试数据的鲁棒性满足预设要求，并将所述当前测试数据插入至所述当前训练种群以形成目标训练种群；根据所述目标训练种群对应的测试数据更新所述目标测试限值；对于当前批次产品中下一测试组对应的测试数据，计算得到所述目标训练种群对应的目标种群参数；根据所述目标种群参数判断当前测试数据是否落入所述目标训练种群对应的正态分布的中心区域内，若是，则确定所述当前测试数据的鲁棒性满足预设要求，并将所述当前测试数据插入至所述目标训练种群以形成新的所述目标训练种群；
根据新的所述目标训练种群对应的测试数据更新所述目标测试限值。5.如权利要求4所述的产品测试数据的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：判断所述目标训练种群中的测试数据是否满足预设条件，若满足，则生成第一测试数据以更新所述目标训练种群；其中，更新前的所述目标训练种群与更新后的所述目标训练种群的统计学参数相差小于第一设定阈值，且更新后的所述目标训练种群对应的测试数据不满足所述预设条件；所述统计学参数包括平均值和均方差。6.如权利要求5所述的产品测试数据的检测方法，其特征在于，所述判断所述目标训练种群中的测试数据是...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐琨，
申请(专利权)人：爱德万测试股份有限公司，
类型：发明
国别省市：