板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质，涉及计算机技术领域，包括获取第一信息，所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息；将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的性能数值集合；对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，得到第二信息的初始聚类簇；根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分。本发明专利技术通过上述步骤既获取了多种板卡的性能评分，又使得到性能评分更加准确，同时减少人力物力的投入，并更加客观和具备可信度。并更加客观和具备可信度。并更加客观和具备可信度。

【技术实现步骤摘要】
板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机
，具体而言，涉及一种板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前许多设备都会用到板卡，在板卡烧录时需要用到板卡烧录设备，现在市场上有很多种板卡烧录设备，在采购时往往需要对烧录设备进行分析，这需要一个分析专家团队，对于很多企业来说这就是很大的开支，现在需要一种自动分析板卡烧录设备的方法和装置来分析板卡烧录设备的性能。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种板卡烧录装置性能分析方法、装置、设备及可读存储介质，以改善上述问题。为了实现上述目的，本专利技术采取的技术方案如下：第一方面，本申请提供了一种板卡烧录装置性能分析方法，包括：获取第一信息，所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息；将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的性能数值集合；对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，得到第二信息的初始聚类簇；根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分。
[0004]可选地，将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，包括：将所述第一信息按照层次分析法进行分析，得到每种板卡烧录信息所占的权重比例；根据每种板卡烧录信息所占的权重比例将所述第一信息转化成对应的数值，并进行离散化处理和数据处理，得到每种板卡烧录的性能数值；基于主成分分析法对所述每种板卡烧录的性能数值进行降维处理，得到板卡烧录的性能数值集合。
[0005]可选地，对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，包括：在随机森林算法中通过基尼指数计算所述第二信息中每种烧录信息的特征重要性，得到第二信息中每种烧录信息的基尼系数，并筛选出三个最大基尼系数的烧录信息作为聚类特征因子；将所述聚类特征因子对应的性能数值集合基于canopy算法将所述预处理后的性能数值信息进行聚类，得到至少两个初始聚类簇。
[0006]可选地，根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分，包括：调用所述初始聚类簇的数量，并将所述初始聚类簇的数量作为K
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means聚类算法中的K值，以K值作为初始质心，基于欧式距离算法计算所有第二信息内的数据与初始质心的距离；基于所述距离对所述第二信息内的数据进行分组，分别计算每组中数据的均值，并将所述均值作为新的质心，重复计算每个第二信息内的数据与新的质心之间的距离；重复上一步骤进行迭代计算直至新的质心与初始质心相等，并计算每个聚类簇内聚类点的平方差；基于所述每个聚类簇内聚类点的平方差进行求和计算，得到板卡烧录装置的性能评分。
[0007]第二方面，本申请还提供了一种板卡烧录装置性能分析装置，包括：第一获取单元，用于获取第一信息，所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息；第一处理单元，用于将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的性能数值集合；第二处理单元，用于对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，得到第二信息的初始聚类簇；第三处理单元，用于根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分。
[0008]可选地，所述装置包括：第一分析子单元，用于将所述第一信息按照层次分析法进行分析，得到每种板卡烧录信息所占的权重比例；第一处理子单元，用于根据每种板卡烧录信息所占的权重比例将所述第一信息转化成对应的数值，并进行离散化处理和数据处理，得到每种板卡烧录的性能数值；第二处理子单元，用于基于主成分分析法对所述每种板卡烧录的性能数值进行降维处理，得到板卡烧录的性能数值集合。
[0009]可选地，所述装置包括：第一计算子单元，用于在随机森林算法中通过基尼指数计算所述第二信息中每种烧录信息的特征重要性，得到第二信息中每种烧录信息的基尼系数，并筛选出三个最大基尼系数的烧录信息作为聚类特征因子；第一聚类子单元，用于将所述聚类特征因子对应的性能数值集合基于canopy算法将所述预处理后的性能数值信息进行聚类，得到至少两个初始聚类簇。
[0010]可选地，所述装置包括：第二聚类子单元，用于调用所述初始聚类簇的数量，并将所述初始聚类簇的数量作为K
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means聚类算法中的K值，以K值作为初始质心，基于欧式距离算法计算所有第二信息内的数据与初始质心的距离；第三处理子单元，用于基于所述距离对所述第二信息内的数据进行分组，分别计算每组中数据的均值，并将所述均值作为新的质心，重复计算每个第二信息内的数据与新的质心之间的距离；第四处理子单元，用于重复上一步骤进行迭代计算直至新的质心与初始质心相等，并计算每个聚类簇内聚类点的平方差；第五处理子单元，用于基于所述每个聚类簇内聚类点的平方差进行求和计算，得到板卡烧录装置的性能评分。
[0011]第三方面，本申请还提供了一种板卡烧录装置性能分析设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现所述板卡烧录装置性能分析方法的步骤。
[0012]第四方面，本申请还提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述基于板卡烧录装置性能分析方法的步骤。
[0013]本专利技术的有益效果为：本专利技术通过对板卡的性能数值进行预处理并转化为对应的性能值，然后根据关键因子筛选，选出板卡的关键性能进行分析，然后通过二次聚类对板卡的性能进行评分，以此获取每种板卡的性能评分，这样得到性能评分更加准确，同时减少人力物力的投入。
[0014]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术实施例了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0016]图1为本专利技术实施例中所述的板卡烧录装置性能分析方法流程示意图;图2为本专利技术实施例中所述的板卡烧录装置性能分析装置结构示意图；图3为本专利技术实施例中所述的板卡烧录装置性能分析设备结构示意图。
具体实施方式
[0017]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种板卡烧录装置性能分析方法，其特征在于，包括：获取第一信息，所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息；将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的性能数值集合；对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，得到第二信息的初始聚类簇；根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分。2.根据权利要求1所述的板卡烧录装置性能分析方法，其特征在于，将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，包括：将所述第一信息按照层次分析法进行分析，得到每种板卡烧录信息所占的权重比例；根据每种板卡烧录信息所占的权重比例将所述第一信息转化成对应的数值，并进行离散化处理和数据处理，得到每种板卡烧录的性能数值；基于主成分分析法对所述每种板卡烧录的性能数值进行降维处理，得到板卡烧录的性能数值集合。3.根据权利要求1所述的板卡烧录装置性能分析方法，其特征在于，对所述第二信息进行关键因子筛选和初始聚类，包括：在随机森林算法中通过基尼指数计算所述第二信息中每种烧录信息的特征重要性，得到第二信息中每种烧录信息的基尼系数，并筛选出三个最大基尼系数的烧录信息作为聚类特征因子；将所述聚类特征因子对应的性能数值集合基于canopy算法将所述预处理后的性能数值信息进行聚类，得到至少两个初始聚类簇。4.根据权利要求1所述的板卡烧录装置性能分析方法，其特征在于，根据所述初始聚类簇的数量进行二次聚类，并计算出所述板卡烧录装置的性能评分，包括：调用所述初始聚类簇的数量，并将所述初始聚类簇的数量作为K
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means聚类算法中的K值，以K值作为初始质心，基于欧式距离算法计算所有第二信息内的数据与初始质心的距离；基于所述距离对所述第二信息内的数据进行分组，分别计算每组中数据的均值，并将所述均值作为新的质心，重复计算每个第二信息内的数据与新的质心之间的距离；重复上一步骤进行迭代计算直至新的质心与初始质心相等，并计算每个聚类簇内聚类点的平方差；基于所述每个聚类簇内聚类点的平方差进行求和计算，得到板卡烧录装置的性能评分。5.一种板卡烧录装置性能分析装置，其特征在于，包括：第一获取单元，用于获取第一信息，所述第一信息为至少一种板卡烧录装置的板卡烧录信息；第一处理单元，用于将所述第一信息进行预处理，得到第二信息，所述第二信息为将第一信息进行预处理后得到板卡烧录的...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭学元，高万军，景秀伟，
申请(专利权)人：湖南云箭智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：