【技术实现步骤摘要】
一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法和多种织物的后整理方法
[0001]本专利技术涉及纺织织造的
,特别涉及一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法和多种织物的后整理方法。
技术介绍
[0002]出于对织物的花型要求,有些织物中会存在荧光纱,呈现出荧光花型。这类织物在生产过程中,受各种等因素的影响,容易发生荧光残留在各生产设备的现象。而出于对生产效率的考虑,通常一个工序的生产线会持续加工多种织物,如果加工一种织物后,荧光残留在生产设备中,会造成其他织物漂白处不同程度的荧光沾污,出现质量问题。
[0003]传统生产线上,通常根据织物表面颜色深浅,决定生产顺序,对于荧光性不同的织物,缺乏规则,经常出现荧光沾污或少荧光品种加工后变成多荧光,最终导致颜色不合格的问题。
技术实现思路
[0004]基于此,本专利技术提供一种一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法和多种织物的后整理方法,可以解决多种不同荧光织物加工时出现沾荧光的问题。
[0005]本专利技术的技术方案如下:
[0006]一种一工序加 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法,其特征在于,包括以下步骤:将待加工的织物分为I类织物、II类织物和III类织物中的两类或三类,且所述I类织物、II类织物和III类织物含有荧光纱;在一工序中,加工所述II类织物之前,加工所述I类织物;和/或,加工所述III类织物前,加工所述II织物或所述I类织物;其中,所述I类织物同时满足以下条件:1)CIE标准颜色测量系统显示织物表面的亮度值L≥70;2)经向色纱的全幅根数占经向纱线总全幅根数的百分比≥50%,或纬向色纱的全幅根数占纬向纱线总全幅根数的百分比≥50%;3)经向荧光纱的花型根数占经向纱线花型总根数的百分比与纬向荧光纱的花型根数占纬向花型总根数的百分比的和≤30%;所述II类织物同时满足以下条件:1)CIE标准颜色测量系统显示织物表面的亮度值L≥70;2)经向色纱的全幅根数占经向纱线总全幅根数的百分比≥50%,或纬向色纱的全幅根数占纬向纱线总全幅根数的百分比≥50%;3)经向荧光纱的花型根数占经向纱线花型总根数的百分比与纬向荧光纱的花型根数占纬向花型总根数的百分比的和>30%;所述III类织物为不属于所述I类织物和所述II类织物的织物。2.根据权利要求1所述的一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法,其特征在于,将待加工的织物分为所述I类织物、II类织物和III类织物三类,在一工序中,先加工所述I类织物,再加工所述II类织物,再加工所述III类织物。3.根据权利要求1所述的一工序加工多种织物的防荧光沾污的方法,其特征在于,将待加工的织物分为I类织物和II类织物,在一工序中,先加工所述I类织物,再加工所述II类织物。4.根据权利要求1所述的一工序加工多种织...
【专利技术属性】
技术研发人员:彭芳,谭灰金,梁芳华,方余,张甜,
申请(专利权)人:广东溢达纺织有限公司,
类型:发明
国别省市:
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