本发明专利技术提供一种光谱仪所拍摄的图像的处理方法及其装置，该处理方法包括：获取所述光谱仪所拍摄的待处理光谱图及其中的三个碳线光斑、对应的三个第一坐标，理论光谱图及其中的三个碳线光斑、对应的三个第二坐标，计算三个第一碳线光斑的坐标到三个第二碳线光斑的坐标之间的转换矩阵，之后，基于该转矩阵对光谱仪所拍摄的待处理光谱图进行校正；综上所述，该处理方法能够对光谱仪所拍摄的待处理光谱图进行校正。谱图进行校正。谱图进行校正。
【技术实现步骤摘要】
光谱仪所拍摄的图像的处理方法及其装置
[0001]本专利技术涉及ICP(Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer，电感耦合等离子光谱发生仪)光谱仪
，尤其涉及一种光谱仪所拍摄的图像的处理方法及其装置。
技术介绍
[0002]图像传感器为光学成像相机的核心器件，是光学成像相机必不可少的组成部分，用于将目标的光信号转换为电信号输出，其中，SCMOS(互补金属氧化物半导体)相机是一种常用的科学仪器。很多光谱仪都是基于SCMOS相机而制造的。
[0003]在真实的基于SCMOS相机的光谱仪中，会存在光学加工误差、实际调试偏差等，从而使得实际谱线的位置和理论位置并不相同，因此，需要对该光谱仪所获得的图像进行处理，使得其与理论位置对应。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种光谱仪所拍摄的图像的处理方法及其装置。
[0005]为了实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种用于包含SCMOS相机的光谱仪所拍摄的图像的处理方法，包括以下步骤：获取所述光谱仪所拍摄的第一待处理光谱图、理论光谱图以及所述理论光谱图中的三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3，所述第一待处理光谱图和理论光谱图对应的坐标系相同，三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3的坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)；从第一待处理光谱图中标注出三个区域，三个所述区域分别包含坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)的三个像素，从三个所述区域中分别标注出三个碳线光斑S1、S2和S3，三个碳线光斑S1、S2和S3的坐标分别为(x1，y1)、(x2，y2)和(x3，y3)；创建两个方程组对这两个方程组进行求解处理，得到{α，β，γ}和获取目标元素在所述理论光谱图中对应的线光斑的坐标(x，y)，则所述目标元素在所述光谱仪所拍摄的第二待处理光谱图中的坐标为
[0006]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述第一待处理光谱图是经以下方式得到：进行ICP点火测试，进纯水空白样，控制所述光谱仪进行拍摄得到。
[0007]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述第一待处理光谱图和理论光谱图均为灰度图。
[0008]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述“从第一待处理光谱图中标注出三个区域”具体包括：从第一待处理光谱图中标注出三个区域，对三个区域中的每个像素点P进
行以下处理：其中，T为阈值，且T＞0，e为自然常数，p
′
为像素点P的修改前的灰度值，Num＝2
L
‑
1，L为所述第一待处理光谱图中的像素点的灰度值的最大二进制长度，之后，将像素点P的灰度值修改为Q。
[0009]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，L＝16。
[0010]本专利技术实施例还提供了一种用于包含SCMOS相机的光谱仪所拍摄的图像的处理装置，包括以下模块：初始化模块，用于获取所述光谱仪所拍摄的第一待处理光谱图、理论光谱图以及所述理论光谱图中的三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3，所述第一待处理光谱图和理论光谱图对应的坐标系相同，三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3的坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)；从第一待处理光谱图中标注出三个区域，三个所述区域分别包含坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)的三个像素，从三个所述区域中分别标注出三个碳线光斑S1、S2和S3，三个碳线光斑S1、S2和S3的坐标分别为(x1，y1)、(x2，y2)和(x3，y3)；处理模块，用于创建两个方程组对这两个方程组进行求解处理，得到{α，β，γ}和修正模块，用于获取目标元素在所述理论光谱图中对应的线光斑的坐标(x，y)，则所述目标元素在所述光谱仪所拍摄的第二待处理光谱图中的坐标为光斑的坐标(x，y)，则所述目标元素在所述光谱仪所拍摄的第二待处理光谱图中的坐标为
[0011]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述第一待处理光谱图是经以下方式得到：进行ICP点火测试，进纯水空白样，控制所述光谱仪进行拍摄得到。
[0012]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述第一待处理光谱图和理论光谱图均为灰度图。
[0013]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所述初始化模块还用于：从第一待处理光谱图中标注出三个区域，对三个区域中的每个像素点P进行以下处理：其中，T为阈值，且T＞0，e为自然常数，p
′
为像素点P的修改前的灰度值，Num＝2
L
‑
1，L为所述第一待处理光谱图中的像素点的灰度值的最大二进制长度，之后，将像素点P的灰度值修改为Q。
[0014]作为本专利技术一实施方式的进一步改进，L＝16。
[0015]相对于现有技术，本专利技术的技术效果在于：本专利技术实施例提供一种光谱仪所拍摄的图像的处理方法及其装置，该处理方法包括：获取所述光谱仪所拍摄的待处理光谱图及其中的三个碳线光斑、对应的三个第一坐标，理论光谱图及其中的三个碳线光斑、对应的三个第二坐标，计算三个第一碳线光斑的坐标到三个第二碳线光斑的坐标之间的转换矩阵，之后，基于该转矩阵对光谱仪所拍摄的待处理光谱图进行校正；综上所述，该处理方法能够对光谱仪所拍摄的待处理光谱图进行校正。
附图说明
[0016]图1是本专利技术实施例中的处理方法的流程示意图。
具体实施方式
[0017]以下将结合附图所示的各实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。
[0018]本文使用的例如“上”、“上方”、“下”、“下方”等表示空间相对位置的术语是出于便于说明的目的来描述如附图中所示的一个单元或特征相对于另一个单元或特征的关系。空间相对位置的术语可以旨在包括设备在使用或工作中除了图中所示方位以外的不同方位。例如，如果将图中的设备翻转，则被描述为位于其他单元或特征“下方”或“之下”的单元将位于其他单元或特征“上方”。因此，示例性术语“下方”可以囊括上方和下方这两种方位。设备可以以其他方式被定向(旋转90度或其他朝向)，并相应地解释本文使用的与空间相关的描述语。
[0019]并且，应当理解的是尽管术语第一、第二等在本文中可以被用于描述各种元件或结构，但是这些被描述对象不应受到这些术语的限制。这些术语仅用于将这些描述对象彼此区分开。例如，第一待处理光谱图可以被称为第二待处理光谱图，并且类似地本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于包含SCMOS相机的光谱仪所拍摄的图像的处理方法，其特征在于，包括以下步骤：获取所述光谱仪所拍摄的第一待处理光谱图、理论光谱图以及所述理论光谱图中的三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3，所述第一待处理光谱图和理论光谱图对应的坐标系相同，三个碳线光斑S
′1、S
′2和S
′3的坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)；从第一待处理光谱图中标注出三个区域，三个所述区域分别包含坐标分别为(x
′1，y
′1)、(x
′2，y
′2)和(x
′3，y
′3)的三个像素，从三个所述区域中分别标注出三个碳线光斑S1、S2和S3，三个碳线光斑S1、S2和S3的坐标分别为(x1，y1)、(x2，y2)和(x3，y3)；创建两个方程组对这两个方程组进行求解处理，得到{α，β，γ}和获取目标元素在所述理论光谱图中对应的线光斑的坐标(x，y)，则所述目标元素在所述光谱仪所拍摄的第二待处理光谱图中的坐标为2.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于，所述第一待处理光谱图是经以下方式得到：进行ICP点火测试，进纯水空白样，控制所述光谱仪进行拍摄得到。3.根据权利要求1所述的处理方法，其特征在于：所述第一待处理光谱图和理论光谱图均为灰度图。4.根据权利要求3所述的处理方法，其特征在于，所述“从第一待处理光谱图中标注出三个区域”具体包括：从第一待处理光谱图中标注出三个区域，对三个区域中的每个像素点P进行以下处理：其中，T为阈值，且T＞0，e为自然常数，p
′
为像素点P的修改前的灰度值，Num＝2
L
‑
1，L为所述第一待处理光谱图中的像素点的灰度值的最大二进制长度，之后，将像素点P的灰度值修改为Q。5.根据权利要求4所述的处理方法，其特征在于：L＝16。6.一种用于包含SCM...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘召贵，李正建，栾君保，解婉莹，李胜辉，徐成来，刘静，
申请(专利权)人：江苏天瑞仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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