本发明专利技术提供一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试领域。该集成电路测试装置，包括基座，基座的上端开设有放置缺口，所述基座左右两端均设有两个套筒，一侧的两个套筒分别位于基座的前后两端，套筒与基座的底端侧面固定连接，基座的上方设有平台，平台的底面固定安装有四个滑柱，四个滑柱分别对应插接在下方四个套筒中，基座的左右两端内均固定安装有电推杆A，电推杆的输出端均与平台的底面固定连接，平台的下方设有夹持器，夹持器位于基座的上方，平台的底面固定有四个滑杆。该集成电路测试装置，通过设置夹持器、透明板和检测器，可以检测弯折的电路板以及水平的电路板，并且能够从多组检测柱上分析整体的情况，精准度较高。精准度较高。精准度较高。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，具体为一种集成电路测试装置。
技术介绍
[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；对集成电路进行检测的过程中对不合格的样品进行标记，从而避免封装成本的浪费。
[0003]对集成电路测试现有技术存在很多测试焊点的装置，但是在实际的情况下，集成电路板会存在变形的情况，电路板不水平会导致测试焊点长度的精度不准。
技术实现思路
[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种集成电路测试装置，解决了以上
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种集成电路测试装置，包括基座，基座的上端开设有放置缺口，所述基座左右两端均设有两个套筒，一侧的两个套筒分别位于基座的前后两端，套筒与基座的底端侧面固定连接，基座的上方设有平台，平台的底面固定安装有四个滑柱，四个滑柱分别对应插接在下方四个套筒中，基座的左右两端内均固定安装有电推杆A，电推杆A的输出端均与平台的底面固定连接，平台的下方设有夹持器，夹持器位于基座的上方，平台的底面固定有四个滑杆，四个滑杆均贯穿夹持器，夹持器相对于滑杆滑动，平台的上端固定安装有电推杆B，电推杆B的输出端贯穿平台之后与夹持器的上表面中间位置固定连接。
[0006]所述基座的上表面缺口位置位置固定安装有十字滑台，十字滑台的上端输出端固定安装有透明板，透明板的前后两端均固定安装有检测器，透明板的上端内部固定插接有多个均匀排布的点触机构。
[0007]优选的，所述点触机构包括筒体、检测柱和触碰针，筒体固定插接在透明板中，触碰针尖端朝上且固定安装在筒体的底端，检测柱插接在筒体中，筒体内设有弹簧，检测柱下压的时候压缩弹簧，且检测柱在不压缩弹簧时无法向上弹出。
[0008]优选的，所述检测柱的下端为尖端结构，触碰针与检测柱同轴设置，检测柱的尖端与触碰针的尖端互相靠近。
[0009]优选的，所述基座的上表面与平台的底面均水平设置，平台的宽度与缺口的宽度配合。
[0010]优选的，所述夹持器的底面为水平结构，夹持器同时与基座和平台平行。
[0011]优选的，所述透明板为透明亚克力板，点触机构的下端与透明板的下端平齐，检测器与透明板贴合。
[0012]与现有技术相比，本专利技术具备以下有益效果：
[0013]1、该集成电路测试装置，通过设置夹持器、透明板和检测器，夹持器可以安装夹持机构用来夹持集成电路板，首先电推杆A下移使集成电路板向透明板靠近，然后控制电推杆B进行跳动，使集成电路板的电焊针脚与点触机构上的检测柱接触，控制触碰针通电，以此获取集成电路板针脚与检测柱接触之后下压检测柱与触碰针的接触情况，如果电焊的针脚长度相同，那么可以从通电的情况上得出具体的结果，集成电路板如果出现弯折的情况，那么可以在夹持器上将其恢复为平板结构，而且在下压集成电路板向透明板靠近的时候也会使其恢复为水平状态，通过计算点阵的检测柱的接触情况，可以分析哪些针脚不符合制造标准，对比现有技术，该集成电路测试装置，可以检测弯折的电路板以及水平的电路板，并且能够从多组检测柱上分析整体的情况，精准度较高。
[0014]2、该集成电路测试装置，通过设置十字滑台和电推杆B，十字滑台负责与电推杆B配合，电推杆B的主要作用为带动集成电路板跳动，集成电路板的电焊阵脚并不是同检测柱一样是等距分布的，所以需要控制十字滑台带动透明板水平移动，再与电推杆带动的集成电路板配合周期接触，可以得出多组数据，具备较高的准确度。
[0015]3、该集成电路测试装置，通过设置透明板和检测器，检测器为光谱检测，可以通过透明板来检测每个检测柱的下移情况，在原有电力检测的情况下增加了光学检测，可以使结果更加精准，从而经过分析能够快速的检测电路板。
附图说明
[0016]图1为本专利技术结构示意图；
[0017]图2为本专利技术结构正视图；
[0018]图3为本专利技术下端结构示意图；
[0019]图4为本专利技术部分结构示意图；
[0020]图5为本专利技术点触机构的结构示意图。
[0021]其中，1基座、2缺口、3套筒、4平台、5滑柱、6电推杆A、7夹持器、8滑杆、9电推杆B、10十字滑台、11透明板、12检测器、13点触机构、1301筒体、1302检测柱、1303触碰针、1304弹簧。
具体实施方式
[0022]如图1
‑
5所示，一种集成电路测试装置，包括基座1，基座1的上端开设有放置缺口2，基座1左右两端均设有两个套筒3，一侧的两个套筒3分别位于基座1的前后两端，套筒3与基座1的底端侧面固定连接，基座1的上方设有平台4，基座1的上表面与平台4的底面均水平设置，平台4的宽度与缺口2的宽度配合，平台4的底面固定安装有四个滑柱5，四个滑柱5分别对应插接在下方四个套筒3中，基座1的左右两端内均固定安装有电推杆A6，电推杆A6的输出端均与平台4的底面固定连接，平台4的下方设有夹持器7，夹持器7的底面可以安装夹持结构，夹持机构用来夹持集成电路板，能够夹持电路板的结构可以为现有技术中常见的结构，夹持器7位于基座1的上方，夹持器7的底面为水平结构，夹持器7同时与基座1和平台4平行，平台4的底面固定有四个滑杆8，四个滑杆8均贯穿夹持器7，夹持器7相对于滑杆8滑动，平台4的上端固定安装有电推杆B9，电推杆B9的输出端贯穿平台4之后与夹持器7的上表面中间位置固定连接。
[0023]基座1的上表面缺口2位置固定安装有十字滑台10，十字滑台10为电控结构，可以随意更换输出端的位置，十字滑台10的上端输出端固定安装有透明板11，透明板11的前后两端均固定安装有检测器12，透明板11为透明亚克力板，点触机构13的下端与透明板11的下端平齐，检测器12与透明板11贴合，透明板11的上端内部固定插接有多个均匀排布的点触机构13。
[0024]点触机构13包括筒体1301、检测柱1302和触碰针1303，筒体1301固定插接在透明板11中，触碰针1303尖端朝上且固定安装在筒体1301的底端，检测柱1302插接在筒体1301中，筒体1301内设有弹簧1304，检测柱1302下压的时候压缩弹簧，且检测柱1302在不压缩弹簧1304时无法向上弹出，检测柱1302的下端为尖端结构，触碰针1303与检测柱1302同轴设置，检测柱1302的尖端与触碰针1303的尖端互相靠近。
[0025]在使用时，夹持器7可以安装夹持机构用来夹持集成电路板，首先电推杆A6下移使集成电路板向透明板11靠近，然后控制电推杆B9进行跳动，使集成电路板的电焊针脚与点触机构13上的检测柱1302接触，控制触碰针1303通电，以此获取集成电路板针脚与检测柱1302接触之后下压检测柱1302与触碰针1303的接触情况，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括基座(1)，基座(1)的上端开设有放置缺口(2)，其特征在于：所述基座(1)左右两端均设有两个套筒(3)，一侧的两个套筒(3)分别位于基座(1)的前后两端，套筒(3)与基座(1)的底端侧面固定连接，基座(1)的上方设有平台(4)，平台(4)的底面固定安装有四个滑柱(5)，四个滑柱(5)分别对应插接在下方四个套筒(3)中，基座(1)的左右两端内均固定安装有电推杆A(6)，电推杆A(6)的输出端均与平台(4)的底面固定连接，平台(4)的下方设有夹持器(7)，夹持器(7)位于基座(1)的上方，平台(4)的底面固定有四个滑杆(8)，四个滑杆(8)均贯穿夹持器(7)，夹持器(7)相对于滑杆(8)滑动，平台(4)的上端固定安装有电推杆B(9)，电推杆B(9)的输出端贯穿平台(4)之后与夹持器(7)的上表面中间位置固定连接；所述基座(1)的上表面缺口(2)位置固定安装有十字滑台(10)，十字滑台(10)的上端输出端固定安装有透明板(11)，透明板(11)的前后两端均固定安装有检测器(12)，透明板(11)的上端内部固定插接有多个均匀排布的点触机构(13)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述点...
【专利技术属性】
技术研发人员：李盼，
申请(专利权)人：李盼，
类型：发明
国别省市：
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