一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统，属于激光诱导击穿光谱技术领域，其中方法包括：根据待测样品包含的元素种类，确定用于建立待测样品定性或定量模型的第一特征峰集合；结合第一特征峰集合对新采集的待测样品光谱数据进行评估，获得待测样品光谱数据的质量分数；根据质量分数确定新采集的待测样品光谱数据的质量。本发明专利技术通过对光谱数据特征峰数量、强度、信背比和稳定性等方面进行全方位评估，给出光谱质量的综合评估结果，最后通过分值对采集的光谱质量进行呈现，更直观的反应检测光谱的质量情况，便于后续的定量分析。析。析。

【技术实现步骤摘要】
一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统


[0001]本专利技术属于激光诱导击穿光谱
，特别涉及一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统。

技术介绍

[0002]激光诱导击穿光谱技术具有样品制备简单、可实现在线远程测量、多元素同时快速定性或定量分析等优点，广泛应用于工业、农业等各个领域。激光诱导击穿光谱仪器操作简单，不需要专门的专业技术人员即可操作使用。但是在实际检测过程中，激光器的能量、聚焦透镜到样品表面的距离、延迟时间、积分时间等实验参数都会对采集到的光谱数据产生影响，进而影响最终的定性或定量分析结果，因此光谱数据质量的好坏直接决定了分析结果的可靠性。但是目前没有针对激光诱导击穿光谱数据质量评判的方法。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供一种激光诱导击穿光谱质量确定方法及系统，对采集到的光谱数据进行综合评估，确定光谱数据的质量。
[0004]一种激光诱导击穿光谱质量确定方法，包括以下步骤：根据待测样品包含的元素种类，确定用于建立待测样品定性或定量模型的第一特征峰集合；结合第一特征峰集合对新采集的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，包括以下步骤：根据待测样品包含的元素种类，确定用于建立待测样品定性或定量模型的第一特征峰集合；结合第一特征峰集合对新采集的待测样品光谱数据进行评估，获得待测样品光谱数据的质量分数；根据质量分数确定新采集的待测样品光谱数据的质量。2.根据权利要求1所述的激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，第一特征峰集合根据待测样品所含元素的常用特征峰或谱线强度值确定。3.根据权利要求1所述的激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，结合第一特征峰集合对新采集的待测样品光谱数据进行评估，获得待测样品光谱数据的质量分数包括以下步骤：确定光谱数据单项评估指标；结合第一特征峰集合，通过光谱数据单项评估指标对新采集的待测样品光谱数据进行单项评估，获得新采集的待测样品光谱数据各个单项评估指标的综合评估值；对新采集的待测样品光谱数据各个单项的综合评估值进行赋值，获得待测样品光谱数据的质量分数。4.根据权利要求3所述的激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，光谱数据的单项评估指标包括：特征峰数量、特征峰强度、特征峰的信背比、特征峰洛伦兹拟合的相关系数、特征峰的半高宽、特征峰的稳定系数。5.根据权利要求4所述的激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，若新采集的待测样品光谱数据是待测样品的一次采集的光谱数据，获得新采集的待测样品光谱数据各个单项评估指标的综合评估值包括以下步骤：确定第一特征峰集合中的各个特征峰的波长；根据各个特征峰的波长确定新采集的待测样品光谱数据中的特征峰数量，获得第二特征峰集合；根据第一特征峰集合、第二特征峰集合中的特征峰数量，评估新采集的待测样品光谱数据的特征峰数量，获得特征峰数量指标的综合评估值；根据各个单项评估指标设定的阀值对应评估第二特征峰集合中的每个特征峰，分别获得每个特征峰的各个单项评估指标的分数值；求取第二特征峰集合中每个特征峰的各个单项评估指标分数值的平均值，获得特征峰各个单项评估指标的综合评估值；或，对第二特征峰集合中每个特征峰的各个单项评估指标分数值设置权值，分别求和获得特征峰各个单项评估指标的综合评估值。6.根据权利要求4所述的激光诱导击穿光谱质量确定方法，其特征在于，若新采集的待测样品光谱数据是一组同一个待测样品的多次采集的光谱数据，获得新采集的待测样品光谱数据各个单项评估指标的综合评估值包括以下步骤：根据待测样品的多次采集的光谱数据，求得每个能量下的光谱数据平均值，获得光谱数据集合；光谱数据集合包含每个能量下的一个光谱数据；分别获得每个能量值下的每个光谱数据特征峰的特征峰强度、特征峰的信背比、特征峰洛伦兹拟合分数值；
根据每个能量值下的光谱数...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘从元，贾军伟，张兵，张亮，王满苹，
申请(专利权)人：合肥金星智控科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：