本实用新型专利技术提供了一种用于烧蚀试验试件放置的装置，涉及防热材料烧蚀试验技术领域，包括盛放部和降温部，盛放部能够拆卸地设置在降温部上，盛放部用于放置烧蚀试验试件，降温部用于对盛放部进行降温。在进行烧蚀试验时，降温部对盛放部进行降温，能够延长盛放部的使用寿命，若盛放部发生损坏，可仅对盛放部进行更换，而不需要对整个用于烧蚀试验件放置的装置进行更换，降低用于烧蚀试验试件放置的装置损坏后的更换成本和更换周期。损坏后的更换成本和更换周期。损坏后的更换成本和更换周期。
【技术实现步骤摘要】
一种用于烧蚀试验试件放置的装置
[0001]本技术涉及防热材料烧蚀试验
，特别是涉及一种用于烧蚀试验试件放置的装置。
技术介绍
[0002]氧乙炔烧蚀装置应用于防热和绝热材料所进行的烧蚀或烧穿试验。在进行氧乙炔烧蚀试验时，氧乙炔火焰垂直于试件，对试件表面进行烧蚀。由于氧乙炔烧蚀火焰温度高(3000℃以上)、距试件近(10mm)，因此需对试件放置装置进行水冷，以保护烧蚀试件放置装置、延长其使用寿命。现有的氧乙炔烧蚀试件是放置在水冷盒内，但水冷盒是一个整体，当其损坏时需整体更换，一方面使得试验成本增加，另一方面影响实验进度，因此需要设计一种延迟损坏，且损坏后易于更换配件的水冷装置用于放置烧蚀实验试件。
技术实现思路
[0003]本技术提供了一种用于烧蚀试验试件放置的装置，用以解决现有技术存在的问题，延长用于烧蚀试验试件放置的装置的使用寿命，降低用于烧蚀试验试件放置的装置损坏后的更换成本和更换周期。
[0004]为实现上述目的，本技术提供了如下方案：
[0005]本技术提供了一种用于烧蚀试验试件放置的装置，包括盛放部和降温部，所述盛放部能够拆卸地设置于所述降温部上，所述盛放部用于放置烧蚀试验试件，所述降温部用于对所述盛放部进行降温。
[0006]进一步的，所述降温部套设在所述盛放部上，所述降温部与所述盛放部合围成密闭的降温空腔，所述降温部的侧壁上开设有进水口和出水口，冷却液能够经所述进水口进入所述降温空腔，进而从所述出水口流出，实现对所述盛放部的降温。
[0007]进一步的，所述盛放部为前后两端开口的空心壳体，所述烧蚀试验试件能够放置在所述盛放部的内腔并由所述盛放部的至少部分内腔壁支撑，测温传感器能够穿过所述盛放部的后端开口进入所述盛放部的内腔对所述烧蚀试验试件进行测温。
[0008]进一步的，所述测温传感器为热电偶。
[0009]进一步的，所述盛放部包括第一套筒、第二套筒和套环，所述第一套筒和所述第二套筒分别与所述套环的外圈和内圈固定连接，所述烧蚀灼试验试件能够穿过所述第一套筒的内腔放置在所述套环的表面上。
[0010]进一步的，所述用于烧蚀试验试件放置的装置还包括传感器底座，所述传感器底座能够拆卸的设置在所述盛放部的内腔，所述传感器底座上开设有贯穿所述传感器底座前后两端的通孔，所述热电偶能够穿过所述通孔进入所述盛放部的内腔对放置在所述盛放部内腔的所述烧蚀试验试件进行测温。
[0011]进一步的，所述降温部包括降温部筒体和降温部底盖，所述降温部筒体套设于所述盛放部外，所述降温部底盖的外沿和内沿分别与所述降温部筒体的底部和所述盛放部的
底部固定连接，所述降温部筒体、所述降温部底盖和所述盛放部合围成环形的所述降温空腔，所述降温部筒体上开设有所述进水口和所述出水口。
[0012]进一步的，所述降温部和所述盛放部的横截面均为圆环。
[0013]进一步的，所述降温部和所述盛放部同轴设置。
[0014]进一步的，所述降温部和所述盛放部接触位置设置有密封圈。
[0015]本技术相对于现有技术取得了以下技术效果：
[0016]本技术提供一种用于烧蚀试验试件放置的装置，包括盛放部和降温部，盛放部能够拆卸地设置于降温部上，盛放部用于放置烧蚀试验试件，降温部用于对所述盛放部进行降温。在进行烧蚀试验时，将烧蚀试验试件放置在盛放部上，对烧蚀试验试件进行烧蚀试验的同时降温部对盛放部进行降温，降低盛放部因温度过高而损坏的概率，延长盛放部的使用寿命。若盛放部发生损坏，可仅对盛放部进行更换，而不需要对整个用于烧蚀试验件放置的装置进行更换，降低用于烧蚀试验试件放置的装置损坏后的更换成本和更换周期。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为实施例中的用于烧蚀试验试件放置的装置的主视图；
[0019]图2为实施例中的用于烧蚀试验试件放置的装置的A
‑
A剖面图；
[0020]附图标记说明：1、降温部；11、降温部筒体；12、降温部底盖；2、盛放部；21、第一套筒；22、第一套环；23、第二套筒；24、第二套环；3、进水口；4、出水口；5、降温空腔；6、传感器底座；7、螺栓；8、密封圈。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]本技术的目的为提供一种用于烧蚀试验试件放置的装置，用以解决现有技术存在的问题，降低用于烧蚀试验试件放置的装置损坏后的更换成本和更换周期。
[0023]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细的说明。
[0024]本实施例提供了一种用于烧蚀试验试件放置的装置，如图1和图2所示，包括盛放部2和降温部1，盛放部2能够拆卸地放置在降温部1上，盛放部2 用于放置烧蚀试验试件，降温部1用于对盛放部2进行降温。
[0025]在进行烧蚀试验时，将烧蚀试验试件放置在盛放部2上，对烧蚀试验试件进行烧蚀的同时降温部1对盛放部2进行降温，降低盛放部2因温度过高而损坏概率，延长盛放部2的使用寿命。若盛放部2发生损坏，可仅对盛放部2 进行更换，而不需要对整个用于烧蚀试验
件放置的装置进行更换，降低用于烧蚀试验试件放置的装置损坏后的更换成本和更换周期。此装置不仅仅能够应用于氧乙炔烧蚀实验，而且还可以应用于其他涉及高温烧蚀类的实验。
[0026]于本实施例，降温部1套设在盛放部2上，降温部1与盛放部2合围成密闭的降温空腔5，降温部1的侧壁上开设有进水口3和出水口4，冷却液能够经进水口3进入降温空腔5，进而从出水口4流出，实现对盛放部2的降温，防止盛放部2因温度过高而损坏，具体的，冷却液可以为冷却水。
[0027]于本实施例，盛放部2为前后两端开口的空心壳体，烧蚀试验试件能够放置在盛放部2的内腔并由盛放部2的至少部分内腔壁支撑，测温传感器能够穿过盛放部2的后端开口进入盛放部2的内腔对烧蚀试验试件进行测温，实时监测烧蚀试验试件的温度。
[0028]于本实施例，测温传感器为热电偶。
[0029]于本实施例，盛放部2包括第一套筒21、第二套筒23和第一套环22，第一套筒21和第二套筒23分别与第一套环22的外圈和内圈固定连接，具体的，第一套筒21和第二套筒23分别设置在第一套环22的前后端的表面上，烧蚀试验试件能够穿过第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于烧蚀试验试件放置的装置，其特征在于：包括盛放部和降温部，所述盛放部能够拆卸地设置于所述降温部上，所述盛放部用于放置烧蚀试验试件，所述降温部用于对所述盛放部进行降温。2.根据权利要求1所述的用于烧蚀试验试件放置的装置，其特征在于：所述降温部套设在所述盛放部上，所述降温部与所述盛放部合围成密闭的降温空腔，所述降温部的侧壁上开设有进水口和出水口，冷却液能够经所述进水口进入所述降温空腔，进而从所述出水口流出，实现对所述盛放部的降温。3.根据权利要求1所述的用于烧蚀试验试件放置的装置，其特征在于：所述盛放部为前后两端开口的空心壳体，所述烧蚀试验试件能够放置在所述盛放部的内腔并由所述盛放部的至少部分内腔壁支撑，测温传感器能够穿过所述盛放部的后端开口进入所述盛放部的内腔对所述烧蚀试验试件进行测温。4.根据权利要求3所述的用于烧蚀试验试件放置的装置，其特征在于：所述测温传感器为热电偶。5.根据权利要求3所述的用于烧蚀试验试件放置的装置，其特征在于：所述盛放部包括第一套筒、第二套筒和第一套环，所述第一套筒和所述第二套筒分别与所述第一套环的外圈和内圈固定连接，所述烧蚀试验试件能够...
【专利技术属性】
技术研发人员：王乐，冯喜平，张祎，陈嘉辉，程吉明，闫航，陈旭龙，陶勇成，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：新型
国别省市：
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