测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法。其中，该器件包括：第一共面波导和第二共面波导，第一共面波导包括第一中心导体带和位于第一中心导体带两侧的第二边缘接地带，第二共面波导包括第二中心导体带和位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带，位于第一中心导体带两侧的第一边缘接地带与位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带为一体，第一中心导体带与第二中心导体带之间预留有用于连接待测约瑟夫森结的目标位置，第一共面波导和第二共面波导组合形成测试器件的第一谐振腔。本发明专利技术解决了由于无法对约瑟夫森结的不同损耗机制进行定量区分测量造成的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法


[0001]本专利技术涉及超导量子领域，具体而言，涉及一种测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法。

技术介绍

[0002]在相关技术中，通常采用间接方式推测约瑟夫森结的损耗，例如，利用I
‑
V曲线测量方法中临界电流、超导带隙等参数间接地表征约瑟夫森结的损耗，又或者选择笼统地反映约瑟夫森结的损耗，例如，使用超导量子比特的能量驰豫时间表征约瑟夫森结的整体表现。但进一步提高约瑟夫森结的性能需要对约瑟夫森结有足够可靠和细致的表征方法和损耗研究。
[0003]因此，在相关技术中，存在由于无法对约瑟夫森结的不同损耗机制进行定量区分测量造成的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。
[0004]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法，以至少解决由于无法对约瑟夫森结的不同损耗机制进行定量区分测量造成的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。
>[0006]根据本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试器件，其特征在于，包括：第一共面波导和第二共面波导，所述第一共面波导包括第一中心导体带和位于所述第一中心导体带两侧的第一边缘接地带，所述第二共面波导包括第二中心导体带和位于所述第二中心导体带两侧的第二边缘接地带，位于所述第一中心导体带两侧的第一边缘接地带与位于所述第二中心导体带两侧的第二边缘接地带为一体，所述第一中心导体带与所述第二中心导体带之间预留有用于连接待测约瑟夫森结的目标位置，所述第一共面波导和所述第二共面波导组合形成所述测试器件的第一谐振腔。2.根据权利要求1所述的测试器件，其特征在于，所述第一谐振腔的长度为第一目标谐振信号的波长的一半。3.根据权利要求2所述的测试器件，其特征在于，在所述测试器件包括所述待测约瑟夫森结的情况下，所述待测约瑟夫森结位于所述目标位置处，所述目标位置为以所述第一谐振腔的一端为原点，距离所述原点为所述第一目标谐振信号的波长的四分之一的位置处。4.根据权利要求1所述的测试器件，其特征在于，所述测试器件还包括：第三共面波导。5.根据权利要求4所述的测试器件，其特征在于，一个所述第一谐振腔和一个第二谐振腔为一个谐振腔组，所述测试器件包括至少两个谐振腔组。6.一种采用测试器件进行测试的测试方法，其特征在于，包括：向所述测试器件的第一谐振腔输入第一目标谐振信号，激发所述第一谐振腔处于第一简谐振荡态，其中，所述第一谐振腔由第一共面波导和第二共面波导组合形成，所述第一共面波导包括第一中心导体带和位于所述第一中心导体带两侧的第一边缘接地带，所述第二共面波导包括第二中心导体带和位于所述第二中心导体带两侧的第二边缘接地带，位于所述第一中心导体带两侧的第一边缘接地带与位于所述第二中心导体带两侧的第二边缘接地带为一体，所述第一中心导体带与所述第二中心导体带之间预留有用于连接待测约瑟夫森结的目标位置；接收所述第一谐振腔输出的第一测量信号；基于所述第一测量信号确定所述待测约瑟夫森结的内部电流损耗参数。7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述第一测量信号确定所述待测约瑟夫森结的内部电流损耗参数，包括：在所述测试器件包括第三共面波导的情况下，向所述第三共面波导形成的第二谐振腔输入第二目标谐振信号，使得所述第二谐振腔与所述第一谐振腔处于相同的谐振态；接收所述第二谐振腔输出的第二测量信号；基于所述第一测量信号和所述第二测量信号，确定所述待测约瑟夫森结的内部电流损耗参数。8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：向所述测试器件的所述第一谐振腔输入第三目标谐振信号，其中，所述第三目标谐振信号与所述第一目标谐振信号不同，所述第三目标谐振信号为所述第一目标谐振信号的预定倍数；接收所述第一谐振腔输出的第三测量信号；基于所述第三测量信号确定所述待测约瑟夫森结的外部介电损耗参数。9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述基于所述第三测量信号确定所述
待测约瑟夫森结的外部介电损耗参数，包括：在所述测试器件包括第三共面波导的情况下，向所述第三共面波导形成的第二谐振腔输入第四目标谐振信号，使得所述第二谐振腔与所述第一谐振腔处于相同的谐振态；接收所述第二谐振腔输出的第四测量信号；基于所述第三测量信号和所述第四测量信号，确定所述待测约瑟夫森结的外部介电损耗参数。10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述第一谐振腔的长度为所述第一目标谐振信号的波长的一半。11.根据权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述待测约瑟夫森结位于目标位置处，所述目标位置为以所述第一谐振腔的一端为原点，距离所述原点为所述第一目标谐振信号的波长的四分之一的位置处。12.一种测试器件的制备方法，其特征在于，包括：绝缘...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓昊，
申请(专利权)人：阿里巴巴达摩院杭州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：