一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，涉及温度测量领域，解决了测试初晶温度的方法测试时间长，误差较大的问题。该测试装置包括加热装置、测温探头、驱动组件和测试终端，加热装置内存在有n个样品池，n≥1；测温探头具有两个以上，驱动组件与所有测温探头驱动连接，用于带动所有测温探头在竖直方向可移动的设置，测温探头能下降至插入对应熔盐电解质内的位置，用于实时采集熔盐电解质在升温过程中的温度信息；测试终端与所有测温感应元件电连接，用于根据测温感应元件实时采集的温度信息确定熔盐电解质的初晶温度。该测试装置及测试方法能在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。质初晶温度。质初晶温度。

【技术实现步骤摘要】
一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法


[0001]本专利技术涉及温度测量
，尤其是涉及一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]对于工业熔盐电解质，尤其工业铝电解质，初晶温度是非常重要的物理性质，初晶温度的准确测试能更好的指导如熔盐储能材料的生产和铝电解生产过程控制。
[0003]目前，已有技术实现了工业铝电解质该种熔盐电解质初晶温度的测试技术，现有技术中主要包括有以下几种测试初晶温度的方法。
[0004]第一种：化学分析法，这类方法是用过化学分析获得电解质的化学成分，通过大量的分析数据建立的初晶温度经验公式来推算电解质的初晶温度，且不同的电解体系需要建立各自不同的推算公式，同时，该方法依赖于化学成分的测定，工作量大，测定时间长，难于适应工业需求。
[0005]第二种：步冷曲线法，先使电解质熔解，然后缓慢逐步降温，同时在降温过程中采集温度信息。步冷曲线逐渐降温的过程不易控制，测试误差较大，测试效率低，数据重现性不好。
[0006]综上，申请人发现目前现有技术中至少存在以下不足：
[0007]一方面，上述方法普遍存在测试效率低的问题，难以适用于工业高效生产要求；另一方面，现有技术基本都是测试工业铝电解质质熔盐体系的初晶温度，由于测试方法局限性不能测试其它工业熔盐电解质体系；且每次只能测试一个样品，不能进行批量快速测试，不能满足工业生产要求。

技术实现思路

[0008]本专利技术的目的在于提供一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，以解决现有技术中存在的现有测试初晶温度的方法测试时间长，误差较大的技术问题；本专利技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
[0009]为实现上述目的，本专利技术提供了以下技术方案：
[0010]本专利技术提供的一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，包括加热装置、具有测温感应元件的测温探头、驱动组件和测试终端，其中：
[0011]所述加热装置内存在有n个样品池，并用于对所述样品池加热，n≥1；
[0012]所述测温探头具有两个以上，所述驱动组件与所有所述测温探头驱动连接，用于带动所有所述测温探头在竖直方向可移动的设置，所述测温探头能下降至插入对应所述熔盐电解质内的位置，用于实时采集所述熔盐电解质在升温过程中的温度信息；
[0013]所述测试终端与所有所述测温感应元件电连接，用于根据所述测温感应元件实时采集的温度信息确定所述熔盐电解质的初晶温度。
[0014]优选的，所述加热装置包括加热炉和发热部，其中：
[0015]所有所述发热部均位于所述加热炉内，所有所述发热部在所有所述样品池的周向间隔分布；
[0016]所述加热炉的内壁和/或底部上均设置有保温结构。
[0017]优选的，所述加热装置还包括有真空反应罐，所有所述样品池均位于所述真空反应罐内，所有所述发热部围绕所述真空反应罐设置，并在所述真空反应罐的周向间隔分布。
[0018]优选的，所述真空反应罐包括罐体和盖体，其中：
[0019]所述盖体能密封盖合于所述罐体的上口，所有所述测温探头穿过所述盖体并固定于所述盖体上，所述驱动组件与所述盖体驱动连接，用于带动所述盖体和所有所述测温探头升降运动。
[0020]优选的，所述驱动组件包括驱动设备和连接架，其中：
[0021]所述连接架的一端与所述测温探头固定连接，所述驱动设备可转动的设置，并与所述连接架的另一端传动连接，用于带动所述连接架升降；
[0022]或者，所述驱动设备在竖直方向上可伸缩的设置，所述连接架的另一端与所述驱动设备的伸缩端连接。
[0023]优选的，所述驱动组件还包括有支架和螺杆，其中：
[0024]所述支架上设置有竖直布置的导轨，所述驱动设备的输出端与所述螺杆传动连接，所述螺杆和所述导轨均穿过所述连接架的另一端，所述连接架与所述螺杆螺纹连接，并与所述导轨滑动连接；所述驱动装置正转或反转时能够分别带动所述螺杆正转或反转，进而带动所述连接架沿所述导轨上下滑动。
[0025]优选的，所述测试终端包括控制装置，所述控制装置包括：
[0026]数据校正模块，用于将所述测温感应元件在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；
[0027]数据计算模块，用于对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定所述熔盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算，得到初晶温度。
[0028]优选的，所述测试终端包括：
[0029]控制模块，与所述加热装置和所述驱动组件电连接，用于控制所述装置开启或停止加热，并用于控制所述驱动组件带动所述测温探头移动。
[0030]优选的，所述测试终端包括：
[0031]显示屏；
[0032]数据显示模块，用于将计算得出的所述初晶温度的电信号转换为数字信号显示在所述显示屏上。
[0033]本专利技术还提供了一种基于上述工业熔盐电解质初晶温度测试装置的测试方法，所述测试方法包括：
[0034]使所述加热装置在预设阈值范围内加热；
[0035]控制所述测温探头插入至所述熔盐电解质内的预设深度；
[0036]控制所述测温感应元件实时采集所述熔盐电解质在升温过程中的温度信息，并将所采集到的温度信息发送至所述测试终端；
[0037]所述测试终端将所述测温感应元件在升温过程中实时采集的温度信息进行校正，使相邻时刻的温度变化趋势增大；对校正后的相邻时刻的温度数据求导测算，确定所述熔
盐电解质的相态变化拐点；从该相态变化拐点倒推计算至校正前的温度数据，得到初晶温度。
[0038]本专利技术提供的工业熔盐电解质初晶温度测试装置及测试方法，与现有技术相比，具有如下有益效果：加热装置内具有n个样品池，可以同时对同类电解质的n个样品的初晶温度进行测试；且驱动组件可以带动测温探头在竖直方向可移动，使测温探头下降至插入对应熔盐电解质内的位置，无需测试人员手动插入测温探头，使用方便；测试终端能够在熔盐电解质在升温过程中的实时采集温度信息，并确定熔盐电解质的初晶温度，测试初晶温度的过程更快、更精确，无需缓慢降温。上述测试装置及测试方法能够在测试熔盐冶炼企业尤其电解铝企业中快速、批量、准确的熔盐电解质初晶温度。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1是本专利技术工业熔盐电解质初晶温度测试装置的整体结构示意图；
[0041]图2是加热炉除去外壳后的结构示意图；
[0042]图3是加热炉的轴向剖面结构示意图；
[0043]图4是本专利技术测试终端内控制装置的原理示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，包括加热装置、具有测温感应元件的测温探头、驱动组件和测试终端，其中：所述加热装置内存在有n个样品池，并用于对所述样品池加热，n≥1；所述测温探头具有两个以上，所述驱动组件与所有所述测温探头驱动连接，用于带动所有所述测温探头在竖直方向可移动的设置，所述测温探头能下降至插入对应所述熔盐电解质内的位置，用于实时采集所述熔盐电解质在升温过程中的温度信息；所述测试终端与所有所述测温感应元件电连接，用于根据所述测温感应元件实时采集的温度信息确定所述熔盐电解质的初晶温度。2.根据权利要求1所述的工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，所述加热装置包括加热炉和发热部，其中：所有所述发热部均位于所述加热炉内，所有所述发热部在所有所述样品池的周向间隔分布；所述加热炉的内壁和/或底部上均设置有保温结构。3.根据权利要求2所述的工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，所述加热装置还包括有真空反应罐，所有所述样品池均位于所述真空反应罐内，所有所述发热部围绕所述真空反应罐设置，并在所述真空反应罐的周向间隔分布。4.根据权利要求3所述的工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，所述真空反应罐包括罐体和盖体，其中：所述盖体能密封盖合于所述罐体的上口，所有所述测温探头穿过所述盖体并固定于所述盖体上，所述驱动组件与所述盖体驱动连接，用于带动所述盖体和所有所述测温探头升降运动。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其特征在于，所述驱动组件包括驱动设备和连接架，其中：所述连接架的一端与所述测温探头固定连接，所述驱动设备可转动的设置，并与所述连接架的另一端传动连接，用于带动所述连接架升降；或者，所述驱动设备在竖直方向上可伸缩的设置，所述连接架的另一端与所述驱动设备的伸缩端连接。6.根据权利要求5所述的工业熔盐电解质初晶温度测试装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯剑峰，刘灵霞，康雪，
申请(专利权)人：吕梁学院，
类型：发明
国别省市：