阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置制造方法及图纸

本申请提供的阈值电压侦测方法，通过新的侦测时序，实现在侦测过程中流过驱动晶体管的驱动电流恒定，然后通过迭代的方式，让驱动晶体管的漏极的电压经过多次迭代后，在侦测时间内均抬升至预设电压，从而得到目标阈值电压；这种方式下流过驱动晶体管的驱动电流不会像传统源跟随侦测方法一样随时间减小，并且电流大小可以通过侦测时间、预设电压来控制，所以在侦测中向侦测线路充电速度可以很快，进而提升驱动晶体管的目标阈值电压侦测效率，提升用户使用体验。户使用体验。户使用体验。

【技术实现步骤摘要】
阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种阈值电压侦测方法、侦测装置及显示装置。

技术介绍

[0002]有机发光二极管显示装置按照驱动方式分为无源矩阵型和有源矩阵型两大类，即直接寻址和薄膜晶体管矩阵寻址两大类。在有源矩阵型这种驱动方式下，像素驱动电路设有用于驱动有机发光二极管发光的驱动晶体管。由于驱动晶体管工作在饱和区，流过驱动晶体管的电流大小会受到驱动晶体管自身的阈值电压以及迁移率的影响。因此为了保证有机发光二极管显示装置的显示亮度的均匀性，需要对不同子像素之间的阈值电压差异以及迁移率差异进行补偿。
[0003]传统的阈值电压侦测方式采用的是给定驱动晶体管一个初始Vgs(栅源电压)，然后利用源跟随的方式，保持驱动晶体管的栅极电压不变，让驱动晶体管的源极电压抬升至Vgs＝V
th
(驱动晶体管的阈值电压)状态，流过驱动晶体管的电流大小趋近于零，对此状态下的驱动晶体管的源极电压进行采样，计算出驱动晶体管的阈值电压，再将得到的阈值电压叠加至显示时的数据电压上，实现对阈值电压差异的补偿，消除由阈值电压差异导致的显示亮度不均匀性。
[0004]然而，随着侦测中Vgs的减小以及侦测线路的寄生电容远大于单个子像素的存储电容，驱动晶体管的源极电压的抬升越来越慢，如果要完全侦测出子像素的驱动晶体管的阈值电压，需要很长的时间。这在很大程度上会影响到工厂产能以及侦测设备的投入；另外因为阈值电压的侦测只能在黑画面下进行，所以用户开机前或关机后的待机时间会变长，极大影响用户使用体验。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种阈值电压侦测方法，可以缩短驱动晶体管的阈值电压侦测时间，进而提升驱动晶体管的阈值电压侦测效率，提升用户使用体验。
[0006]第一方面，本申请提供一种阈值电压侦测方法，其包括：
[0007]步骤S1、提供像素，所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件；所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接；所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接；所述第二晶体管的栅极与控制线电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接；所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接；
[0008]步骤S2、初始化所述第一节点的电压，以使得所述驱动晶体管导通；
[0009]步骤S3、维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变，且间隔预设时间段后，对所述第二节点的电压进行侦测；
[0010]步骤S4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压；
[0011]步骤S5、将所述第二节点的电压与预设电压进行比较，若所述第二节点的电压等于所述预设电压，则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。
[0012]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述阈值电压侦测方法还包括：若所述第二节点的电压不等于所述预设电压，则返回步骤S2。
[0013]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述步骤S2具体包括：所述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应初始栅极电压至所述第一节点；其中，
[0014]Vdatan＝Vdatan
‑
1+Vthn
‑
1，n表示初始化的次数，Vdatan表示第n次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vdatan
‑
1表示第n
‑
1次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vthn
‑
1表示对所述第二节点的电压进行第n
‑
1次侦测时的初始阈值电压，n为大于1的整数。
[0015]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，当第1次初始化所述第一节点时，所述步骤S2具体包括：所述述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应预设栅极电压至所述第一节点；所述控制线供应侦测控制信号，使得所述第二晶体管导通，所述采样线供应预设漏极电压至所述第二节点。
[0016]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述预设电压大于所述预设漏极电压，且所述预设栅极电压与所述预设漏极电压之间的差值大于所述驱动晶体管的阈值电压。
[0017]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述步骤S3具体包括：控制所述第一晶体管截止，控制所述第二晶体管导通，控制所述采样线处于浮空状态，以维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变；间隔预设时间段，通过所述采样线对所述第二节点的电压进行侦测。
[0018]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述步骤S4具体包括：计算得到初始阈值电压Vthn＝(Vtrg
‑
Vsn)*k，其中，Vtrg为所述预设电压，Vsn表示对所述第二节点进行第n次侦测时的第二节点的电压，Vthn表示对所述第二节点的电压进行第n次侦测时的初始阈值电压，k为常数，n为大于0的整数。
[0019]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，其特征在于，所述k的值介于0至1之间。
[0020]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述若所述第二节点的电压等于所述预设电压，则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压的步骤，具体包括：获取多个所述初始阈值电压，并将多个所述初始阈值电压进行求和运算，以获得目标阈值电压。
[0021]在本申请提供的阈值电压侦测方法中，所述阈值电压侦测方法还包括：根据不同的所述像素的目标阈值电压之间的差值得到不同的所述像素的阈值电压之间的差异。
[0022]第二方面，本申请还提供一种阈值电压装置装置，包括：
[0023]像素，所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件；所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接；所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接；所述第二晶体管的栅极与控制线电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接；所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所
述电容的第二端与所述第二节点电连接；
[0024]初始化模块，所述初始化模块用于初始化所述第一节点的电压，以使得所述驱动晶体管导通；
[0025]侦测模块，所述侦测模块用于维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变，且间隔预设时间段后，对所述第二节点的电压进行侦测；
[0026]获取模块，所述获取模块用于根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阈值电压侦测方法，其特征在于，包括：步骤S1、提供像素，所述像素包括驱动晶体管、第一晶体管、第二晶体管、电容及发光元件；所述驱动晶体管的栅极与第一节点电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的一者与第一电源电连接，所述驱动晶体管的源极与漏极中的另一者与第二节点电连接；所述第一晶体管的栅极与扫描线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的一者与数据线电连接，所述第一晶体管的源极与漏极中的另一者与所述第一节点电连接；所述第二晶体管的栅极与控制线电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的一者与所述第二节点电连接，所述第二晶体管的源极与漏极中的另一者与采样线电连接；所述电容的第一端与所述第一节点电连接，所述电容的第二端与所述第二节点电连接；步骤S2、初始化所述第一节点的电压，以使得所述驱动晶体管导通；步骤S3、维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变，且间隔预设时间段后，对所述第二节点的电压进行侦测；步骤S4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到初始阈值电压；步骤S5、将所述第二节点的电压与预设电压进行比较，若所述第二节点的电压等于所述预设电压，则根据所述初始阈值电压得到目标阈值电压。2.根据权利要求1所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述阈值电压侦测方法还包括：若所述第二节点的电压不等于所述预设电压，则返回步骤S2。3.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括：所述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应初始栅极电压至所述第一节点；其中，Vdata
n
＝Vdata
n
‑1+Vth
n
‑1，n表示初始化的次数，Vdata
n
表示第n次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vdata
n
‑1表示第n
‑
1次初始化所述第一节点时的初始栅极电压，Vth
n
‑1表示对所述第二节点的电压进行第n
‑
1次侦测时的初始阈值电压，n为大于1的整数。4.根据权利要求3所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，当第1次初始化所述第一节点时，所述步骤S2具体包括：所述扫描线供应扫描信号，使得所述第一晶体管导通，所述数据线供应预设栅极电压至所述第一节点；所述控制线供应侦测控制信号，使得所述第二晶体管导通，所述采样线供应预设漏极电压至所述第二节点。5.根据权利要求4所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述预设电压大于所述预设漏极电压，且所述预设栅极电压与所述预设漏极电压之间的差值大于所述驱动晶体管的阈值电压。6.根据权利要求2所述的阈值电压侦测方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：控制所述第一晶体管截止，控制所述第二晶体管导通，控制所述采样线处于浮空状态，以维持流经所述驱动晶体管的驱动电流不变；间...

【专利技术属性】
技术研发人员：窦维，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：