一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块技术方案

技术编号:32744355 阅读:35 留言:0更新日期:2022-03-20 08:51
本发明专利技术公开了一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块,包括测试数据设备、USB输入接口、FIFO读入模块、算法模块、FIFO输出模块、USB输出接口、PC计算机和集成电路,所述测试数据设备通过数据线连接集成电路的USB输入接口。该电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块采用测试数据设备用来为本发明专利技术的数据处理模块提供测试数据,通过USB线将测试数据接入算法模块的FPGA数据处理模块,FPGA数据处理模块中的FIFO顺序读入测试数据,并利用基于未确知有理数的不可信数据剔除算法对FIFO中的数据进行处理,处理完后存入FIFO,由USB接口向PC计算机输出结果数据,并且输出的数据中提出了不可信的未知数据,大大提高了测试数据设备的测试精确度。高了测试数据设备的测试精确度。高了测试数据设备的测试精确度。

【技术实现步骤摘要】
一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块


[0001]本专利技术涉及电子测试设备
,具体为一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块。

技术介绍

[0002]目前电子测试设备一般不具备对所测数据进行处理,从而使得测试数据会包含较多系统误差数据,降低测试数据的可信度,增加了用户数据处理难度,并直接影响到最终结论的精度和可靠性。
[0003]另外,对于电子测试设备对所测数据的误差监测,目前是通过监测设备的温度、振动等状态参数进行的。但是在很多情况下,电子测试设备工作状态发生较小的改变时,这种改变会使得测试数据包含一定的系统误差,但不会引起设备状态参数的变化,这些数据为不可信数据。本专利提出一种未确知有理数算法中新的可信度距离计算公式,利用基于该公式的FPGA数据处理模块对所测对象数据剔除其中的不可信数据,提高测试数据的可信度。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块,以解决上述
技术介绍
中提出的电子测试设备工作状态发生较小的改变时,这种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子测试系统的数据处理方法及FPGA数据处理模块,包括测试数据设备(1)、USB输入接口(2)、FIFO读入模块(3)、算法模块(4)、FIFO输出模块(5)、USB输出接口(6)、PC计算机(7)和集成电路(8),其特征在于:所述测试数据设备(1)通过数据线连接集成电路(8)的USB输入接口(2),且集成电路(8)通过USB输出接口(6)与PC计算机(7)连接,所述集成电路(8)内部包含有FIFO读入模块(3)、算法模块(4)和FIFO输出模块(5),其中算法模块(4)为FPGA数据处理模块,FPGA...

【专利技术属性】
技术研发人员:夏斌蔡啸王洪军柯宏发江良剑阴东锋李敏裕苏玉瑞杜红兵毋晓鹤袁方舟祁世民许星宇王冰川
申请(专利权)人:中国人民解放军六三八九三部队
类型:发明
国别省市:

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