触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质，该方法包括获取待校准触控芯片的各个基础RC校准值的基础测试频率；基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。由此，通过两轮测试，基于测试频率与理想频率的差值即可确定目标RC校准值，实现了触控芯片的快速、准确校准。准确校准。准确校准。

【技术实现步骤摘要】
触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及半导体
，尤其涉及一种触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]目前每颗触控芯片都设置有用于常温下正常工作的频率，但是触控芯片生产过程中难免造成各颗芯片的固有频率各不相同。为了使不同固有频率的触控芯片在常温下都能以相同的频率正常工作，需要在出厂前对触控芯片进行校准。现有的校准方法是基于中间值不断地进行测试，在对测试结果的分析中不断改变下一个校准值，以便不断向目标值逼近，直到获得满意的结果，这种方法耗时费力且不太准确，校准过程会由于内阻分压、充电等因素造成校准偏差。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质，旨在简化提高芯片校准的效率和准确性。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供一种触控芯片的校准方法，所述方法应用于触控芯片的校准设备，所述方法包括：所述方法应用于触控芯片的校准设备，所述方法包括：
[0005]获取待校准触控芯片的各个基础RC(电阻
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电容，Resistor
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Capacitance)校准值的基础测试频率；
[0006]基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；
[0007]基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；
[0008]从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。
>[0009]优选的，所述基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值的步骤包括：
[0010]计算各个基础测试频率与理想频率的基础测试频率差值，将基础测试频率差值最小的基础测试频率对应的基础RC校准值确定为初选RC校准值。
[0011]优选的，所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤包括：
[0012]将所述初选RC校准值所在的校准值区间确定为目标校准值范围；
[0013]所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤之后还包括：
[0014]将所述待校准触控芯片的测试RC校准值依次设置为所述目标校准值范围内的多个初选RC校准值；
[0015]进行频率测试后，记录与多个所述初选RC校准值对应的初选测试频率。
[0016]优选的，所述从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值的步骤包括：
[0017]将所述目标校准值范围内的各个初选RC校准值的初选测试频率与所述理想频率进行对比；
[0018]将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值。
[0019]优选的，所述将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值的步骤之前还包括：
[0020]将所述差值最小的初选测试频率对应的差值与预设差值进行对比，若所述差值大于所述预设差值，则发出警告信息。
[0021]优选的，所述获取待校准触控芯片的各个基础RC校准值的基础测试频率的步骤之前还包括：
[0022]设置所述待校准触控芯片的所述基础RC校准值，基于所述基础RC校准值划分出多个校准值区间。
[0023]优选的，所述从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值的步骤之后还包括：
[0024]获取所述待校准触控芯片运行的限定频率，基于所述限定频率进行频率测试，获得作为所述待校准触控芯片的限定RC校准值。
[0025]此外，为实现上述目的，本专利技术实施例还提供一种触控芯片的校准装置，所述触控芯片的校准装置包括：
[0026]获取模块，用于获取待校准触控芯片的各个基础RC(电阻
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电容，Resistor
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Capacitance)校准值的基础测试频率；
[0027]第一确定模块，用于基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；
[0028]第二确定模块，用于基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；
[0029]第三确定模块，用于从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。
[0030]此外，为实现上述目的，本专利技术实施例还提供一种触控芯片的校准设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上的触控芯片的校准程序，所述触控芯片的校准程序被所述处理器运行时实现如上所述的方法的步骤。
[0031]此外，为实现上述目的，本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有触控芯片的校准程序，所述触控芯片的校准程序被处理器运行时实现如上所述的方法的步骤。
[0032]相比现有技术，本专利技术提出的一种触控芯片的校准方法、装置、设备及存储介质，该方法包括获取待校准触控芯片的各个基础RC校准值的基础测试频率；基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。由此，通过两轮测试，基于测试频率与理想频率的差值即可确定目标RC校准值，实现了触控芯片的快速、准确校准。
附图说明
[0033]图1是本专利技术本专利技术各实施例涉及的触控芯片的校准设备的硬件结构示意图；
[0034]图2是本专利技术触控芯片的校准方法第一实施例的流程示意图；
[0035]图3是本专利技术触控芯片的校准方法第二实施例的流程示意图；
[0036]图4是本专利技术触控芯片的校准装置第一实施例的功能模块示意图。
[0037]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0038]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0039]本专利技术实施例主要涉及的触控芯片的校准设备是指用于对触控芯片进行校准的设备，所述触控芯片的校准设备可以通过STM32等微控制器测试触控芯片的频率。ST是意法半导体集团(SGS
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THOMSON)，M是Microelectronics的缩写，32表示32位，STM32就是指ST公司开发的32位微控制器。STM32属于一个微控制器，自带了各种常用通信接口，可接各种功能的传感器，可以控制各种类型的设备。
[0040]本专利技术实施例涉及的触控芯片中的“触控”特指单点或多点触控技术；芯片即是IC(Integrated Circuit Chip)，是指端面可与摩擦衬片和摩擦材料层做成一体的金属片或非金属片，泛指所有的电子元器件，是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。它是电子设备中最重要的部分，承担着运算和存储的功能。触控芯片的应用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控芯片的校准方法，其特征在于，所述方法应用于触控芯片的校准设备，所述方法包括：获取待校准触控芯片的各个基础RC(电阻
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电容，Resistor
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Capacitance)校准值的基础测试频率；基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值；基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围；从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述基础测试频率与理想频率的差值，从所述基础RC校准值中确定初选RC校准值的步骤包括：计算各个基础测试频率与理想频率的基础测试频率差值，将基础测试频率差值最小的基础测试频率对应的基础RC校准值确定为初选RC校准值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤包括：将所述初选RC校准值所在的校准值区间确定为目标校准值范围；所述基于所述初选RC校准值确定目标校准值范围的步骤之后还包括：将所述待校准触控芯片的测试RC校准值依次设置为所述目标校准值范围内的多个初选RC校准值；进行频率测试后，记录与多个所述初选RC校准值对应的初选测试频率。4.根据权利要求3中所述的方法，其特征在于，所述从所述目标校准值范围中将初选测试频率最接近所述理想频率的候选RC校准值确定为目标RC校准值的步骤包括：将所述目标校准值范围内的各个初选RC校准值的初选测试频率与所述理想频率进行对比；将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将差值最小的初选测试频率对应的初选RC校准值确定为所述目标RC校准值的步骤之前...

【专利技术属性】
技术研发人员：李耀荣，卢建金，
申请(专利权)人：深圳市德明利技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：