【技术实现步骤摘要】
一种芯片金丝检测工装夹具
[0001]本技术涉及一种TO封装的芯片领域。
技术介绍
[0002]TO封装需要对芯片胶水溢胶及金丝的线弧进行测量,现有的测量方式主要适用在金丝在一个水平面上分布,当芯片有多个管脚时金丝会呈多角度分布,不在一个正面上的金丝测量就会出现偏差,调整测量时,现有的测量工艺管控实际操作不仅复杂还会测不准确,同进在转动方向测量时易造成芯片破损或金丝倒塌。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种可多维度测量且测量准确的芯片金丝检测夹具。
[0004]为达成上述目的,本技术一种芯片金丝检测工装夹具,包括两片可对夹具座,夹具座内上下各设一轴承,轴承上套接一个转轴在转轴中部设有一环形转动柄,在一片夹具座上设有开容置环形转动柄的开口部,转轴为中空设置,样品芯片的管脚可伸置其中,在转轴上端面设有下凹的芯片放置台。
[0005]在转轴下端面设有强磁铁。
[0006]采用上述方案后,本技术可使样品芯片360
°
旋转,使待测金丝均可转到正向进行测量,实现了多维度测量,在转轴上增加强力磁铁吸附,防止产品测量过程跌落导致金丝倒塌芯片破损。
附图说明
[0007]图1为本技术结构分解图;
[0008]图2为本技术结构示意图。
[0009]标号说明:
[0010]1、夹具后片;2、夹具前片;21、开口部;3、轴承;4、转轴;41、芯片放置台;5、形转动柄;6、强力磁铁;7、样品芯片;71芯片管脚。
具体实施方式< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片金丝检测工装夹具,其特征在于:包括两片可对夹具座,夹具座内上下各设一轴承,轴承上套接一个转轴在转轴中部设有一环形转动柄,在一片夹具座上设有开容置环形转动柄的开口部...
【专利技术属性】
技术研发人员:林凌斌,邱名武,林学良,林炳灿,韦国辉,
申请(专利权)人:厦门三优光电股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。