一种在线修复存储器制造技术

本发明专利技术公开了一种存储器，通过在存储器中设置非易失性存储器存储修复地址信息，采用缓存单元缓存冗余单元与损坏单元的之间的替换关系有效降低了修复存储器的电压要求，能够在线对存储进行修复。此外，本发明专利技术还在存储器内部设置了相应的时钟变换单元、电压调节单元，能够测试存储器的工作电压，及最佳工作时钟，通过优化工作电压及工作时间使存储器工作在最佳工作状态。最佳工作状态。最佳工作状态。

【技术实现步骤摘要】
一种在线修复存储器


[0001]本专利技术涉及一种存储器，尤其涉及一种能够在线修复的存储器。

技术介绍

[0002]现有技术中存储器的修复通常是在出厂前使用冗余单元阵列替换损坏的单元，但替换的过程通常是使用熔丝熔断，或者是可编程单元建立冗余单元与损坏单元之间的映射关系，但是这种皆需要较高的修复电压，或者是借助于其他设备进行修复，而一旦存储器出厂后，用户使用时就不能在线进行测试修复，即使能修复也需要设置专门的修复编程电压通路以提供较高的熔断电压。此外现有技术中也未有根据功能测试中错误数据数量调整其测试电压、时钟等因存储器老化原因可能影响存储器性能参数的技术。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种存储器，其特征在于：所述存储器包括存储控制器、逻辑控制单元、冗余阵列、非易失性存储器、多个缓存、多个存储块、命令转换单元、地址转换单元、模式触发单元、接口；所述存储控制器包括测试控制单元、图形生成单元、电压调节单元、时钟变换单元、开关单元、比较单元、微缓存、微非易失性存储器。
[0004]所述存储控制器用于控制存储器的正常本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器，其特征在于：所述存储器包括存储控制器、逻辑控制单元、冗余阵列、非易失性存储器、多个缓存、多个存储块、命令转换单元、地址转换单元、模式触发单元、接口；所述存储控制器包括测试控制单元、图形生成单元、电压调节单元、时钟变换单元、开关单元、比较单元、微缓存、微非易失性存储器。2.如权利要求1所述的一种存储器，所述存储控制器用于控制存储器的正常数据访问以及在通过接口接收到主机发送的测试信号时，启动测试模式，当启动测试模式时，禁能存储器的读写访问功能；所述逻辑控制单元用于数据通道建立、控制数据的走向；所述命令转换单元用于接收存储控制器的控制命令，将所述命令转换为可执行的逻辑，发送给逻辑控制单元；所述地址转换单元，用于分析地址结构将地址转换为访问不同存储单元的地址；所述模式触发单元，根据存储控制器发送的测试内容，生成相应的禁能、使能信号控制逻辑发送给控制逻辑单元，控制相应模块的禁能、使能；所述缓存，用于存储器正常工作模式时存储修复地址信息，存储器测试模式时，通过逻辑单元的控制可以屏蔽所述缓存直接建立起存储控制器与存储块的通路；所述非易失性存储器用于存储修复地址信息；所述冗余阵列，包括冗余行阵列或冗余列阵列；用户根据修复地址信息替换存储块中的损坏行或列；所述冗余阵列设置为不同的冗余区，每个冗余区对应修复相应的存储块；所述接口用于存储控制器与主机之间的数据交互；所述测试控制单元用于控制整个测试过程；所述图形生成单元，接收所述测试控制单元的图形生成信号生成测试图形数据，通过逻辑控制单元发送到相应存储块；所述电压调节单元用于生成不同的供电电压以用于测试和存储器工作电压；所述开关单元，用于在测试模式时，将存储块的供电电压切换到电压调节单元；所述比较单元，用于将读取的数据与图形生成单元生成的图形数据进行比较以判断损坏单元；所述微型非易失性存储器用于存储测试策略或测试控制逻辑；所述微缓存用于缓存存储控制器的测试过程数据或存储器正常工作期间的中间数据；存储器正常工作时，主机通过接口连接存储控制器，访问相应的存储块；存储控制器接收到主机发送的测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨孟林，
申请(专利权)人：杨孟林，
类型：发明
国别省市：