一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件，其特征在于：包括标定件本体和承载板，所述标定件本体为表面设有阶梯状刻槽的试块，试块表面上刻槽区域的四周设有铅条，所述试块设在承载板内，承载板为射线吸收系数较低的透明材质。本实用新型专利技术承载板能有效固定并保护刻槽阶梯试块，防止长期使用磨损产生标定误差；刻槽阶梯试块上表面镶贴的铅条可有效屏蔽边蚀散射，提高灰度测量精度；利用四种不同阶梯厚度及相应区域灰度值关系，以多点标定的方式大大提高了标定精度。多点标定的方式大大提高了标定精度。多点标定的方式大大提高了标定精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件


[0001]本技术涉及一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件。

技术介绍

[0002]数字射线检测中，图像灰度值与X射线穿透工件厚度成线性关系，通常可利用这一线性关系来测量缺陷区域与周围正常区域灰度差来反映透照厚度差，该透照厚度差即为缺陷自身高度。如何对灰度值与穿透厚度两者关系进行有效标定是测量的关键步骤，传统测量方式以被检产品自身母材为标定物，在坐标轴上以横坐标母材厚度与纵坐标母材灰度相交形成一点，该点与坐标零点相连形成灰度值与穿透厚度关系直线，称为单点标定。但由于散射线及探测器性能影响，一般该线性关系并非截距为0的直线，采用单点标定具有一定误差，最终引起缺陷高度测量精度下降。针对上述现有技术缺点，有必要设计一种用于数字射线检测标定块，利用多点标定准确测量缺陷高度。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是：现有灰度值与穿透厚度关系标定采用单点标定误差大，最终引起缺陷高度测量精度下降的问题。
[0004]为了解决上述问题，本技术的技术方案是提供了一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件，其特征在于：包括标定件本体和承载板，所述标定件本体为表面设有阶梯状刻槽的试块，试块表面上刻槽区域的四周设有铅条，所述试块设在承载板内，承载板为射线吸收系数较低的透明材质。
[0005]优选地，所述刻槽为正方形，刻槽的深度从试块的一端至另外一端递增，在试块表面形成阶梯状结构。
[0006]优选地，所述刻槽有四个，刻槽的长宽为10mm
×
10mm，深度依次为0mm、1mm、2mm和3mm，在试块上形成厚度分别为5mm、4mm、3mm和2mm的正方形阶梯。
[0007]优选地，所述试块的材质为与被检工件射线吸收系数相同或相近的材质。
[0008]优选地，所述承载板的厚度大于试块的厚度。
[0009]优选地，所述试块的厚度为5mm。
[0010]优选地，所述承载板的厚度为7mm。
[0011]优选地，所述承载板上标定件本体以外的区域表面上设有标定件标识。
[0012]优选地，所述铅条的厚度为0.5mm。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0014]本技术可利用数字射线检测图像灰度值与X射线穿透厚度成线性关系这一特点，标定灰度值与穿透厚度关系，后续通过测量缺陷区域与周围正常区域灰度差来计算两区域的穿透厚度差，以此来反映缺陷自身高度。承载板能有效固定并保护刻槽阶梯试块，防止长期使用磨损产生标定误差；刻槽阶梯试块上表面镶贴的铅条可有效屏蔽边蚀散射，提高灰度测量精度；利用四种不同阶梯厚度及相应区域灰度值关系，以多点标定的方式大大
提高了标定精度。
附图说明
[0015]图1为本技术一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件结构示意图；
[0016]图2为图1的主视和侧视结构示意图。
[0017]附图标记说明：1、标定件本体；1
‑
1、刻槽一；1
‑
2刻槽二；1
‑
3刻槽三、1
‑
4刻槽四；2、承载板；3、铅条；4、标定件标识。
具体实施方式
[0018]为使本技术更明显易懂，兹以优选实施例，并配合附图作详细说明如下。
[0019]如图1和图2所示，本技术一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件包括标定件本体1及承载板2，其中标定件本体1为特定材质刻槽阶梯试块，试块上表面刻槽区域四周镶贴铅条3，铅条3的宽为1mm、厚为0.5mm。
[0020]承载板2用于固定及保护标定件本体1，承载板2材质为塑料等射线吸收系数较低的透明材质，长度设置为60mm，宽度设置为20mm厚度设置为7mm。承载板2上标定件本体1以外区域加工有标定件标识4，标记该标定件名称、型号及材质：例如深度标定试块A/B/C(A为试块自身厚度，单位为mm，B为阶梯数量，C为阶梯厚度差，单位为mm)。
[0021]刻槽阶梯试块材质为与被检工件射线吸收系数相同或相近的材质，长度设置为50mm，宽度设置为12mm，厚度设置为5mm。
[0022]试块上的刻槽共设置四处不同厚度区域，记为刻槽1
‑
1、刻槽1
‑
2、刻槽1
‑
3和刻槽1
‑
4，深度分别为0mm、1mm、2mm及3mm，四个刻槽的尺寸均为10mm
×
10mm正方形区域，在试块上表面形成厚度分别为5mm、4mm、3mm和2mm的正方形阶梯区域。
[0023]本技术具体操作为：在使用过程中，首先将标定件固定在被检工件评定区附近，然后利用数字射线检测系统对被检工件进行检测，获得的数字图像中含刻槽阶梯试块影像，利用4种不同厚度刻槽区域灰度值及相应厚度对应关系，在坐标轴上利用多点标定方式，拟合穿透厚度/灰度值关系直线。测量缺陷区域灰度值，带入既定的关系直线坐标系中，找出对应的穿透厚度，该穿透厚度与附近正常区域厚度差即为缺陷自身高度。
[0024]以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件，其特征在于：包括标定件本体(1)和承载板(2)，所述标定件本体(1)为表面设有阶梯状刻槽的试块，试块表面上刻槽区域的四周设有铅条(3)，所述试块设在承载板(2)内，承载板(2)为射线吸收系数较低的透明材质。2.如权利要求1所述的一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件，其特征在于：所述刻槽为正方形，刻槽的深度从试块的一端至另外一端递增，在试块表面形成阶梯状结构。3.如权利要求2所述的一种用于数字射线检测缺陷高度测量的标定件，其特征在于：所述刻槽有四个，刻槽的长宽为10mm
×
10mm，深度依次为0mm、1mm、2mm和3mm，在试块上形成厚度分别为5mm、4mm、3mm和2mm的正方形阶梯。4.如权利要求1所述的一种用...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈乐，蔚道祥，李赞，卫鹏凯，胥杨，栗身保，王化南，
申请(专利权)人：上海市特种设备监督检验技术研究院，
类型：新型
国别省市：