【技术实现步骤摘要】
检测和提取杂质并生产组合物的增材制造方法和系统
[0001]本公开总体上检测和提取增材制造材料中的杂质(并且更具体地，利用导电板来吸引和提取增材制造样品中的杂质)的方法和系统。另外，本公开总体上涉及生产增材制造材料样品中的组合物的方法和系统。
技术介绍
[0002]增材制造(AM)方法中使用的粉末的质量可以影响由粉末构造的零件的质量。颗粒大小因素影响构造箱(build box)中各个粉末层的流动性和厚度。针对高性能应用，识别附加因素(如粉末中可能存在的颗粒污染物的类型、数量和大小)会很重要。在粉末制造、处理期间或在构造过程本身期间可能引入污染物。当污染物混入粉末中时，一批粉末内所含的污染物可能会被引入零件中，并且污染物可能会作为离散微粒或充当应力集中器的非熔合界面存在。
[0003]污染物的存在可以通过增大疲劳裂纹的可能性而减少零件的寿命。
[0004]目前，人操作者使用显微镜来针对外来物碎片(FOD)或污染物对增材制造粉末样品进行核查。人操作者使用判断来识别粉末样品中FOD的定量计数。这种手动过程既耗时又乏...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种增材制造系统(100)，所述增材制造系统提取增材制造材料(104)中的杂质(112)，所述增材制造系统(100)包括：增材制造机器(102)，所述增材制造机器使用增材制造材料(104)制造零件；导电板(106)，所述导电板与所述增材制造材料(104)相邻；以及能量源(110)，所述能量源通过与所述增材制造材料(104)相邻的所述导电板(106)来分布电荷，其中，通过所述导电板(106)分布电荷来将杂质(112)从所述增材制造材料(104)吸引至所述导电板(106)。2.根据权利要求1所述的增材制造系统(100)，所述增材制造系统还包括：光源(118)，所述光源用光照亮所述导电板(106)；以及摄像头(122)，所述摄像头捕获所述导电板(106)的图像数据。3.根据权利要求2所述的增材制造系统(100)，所述增材制造系统还包括：计算设备(124)，所述计算设备具有一个或更多个处理器(128)，所述一个或更多个处理器被配置为执行存储在存储器(130)中的指令，以对所述图像数据进行处理，从而确定所述导电板(106)上的杂质(112)的量。4.根据权利要求2所述的增材制造系统(100)，其中，所述导电板(106)包括：玻璃板(212)；以及镜子(214)，所述镜子联接至所述玻璃板(212)，其中，所述镜子(214)被配置为反射存在所述杂质(112)的散射光位点(208)。5.根据权利要求1所述的增材制造系统(100)，其中，所述导电板(106)包括导电玻璃或聚合物。6.根据权利要求1所述的增材制造系统(100)，所述增材制造系统还包括：波导(302)，所述波导在所述导电板(106)上；光发射器(306)，所述光发射器位于所述波导(302)的第一末端处，用于发射光，以使该光通过所述波导(302)；光接收器(312)，所述光接收器位于所述波导(302)的第二末端处，用于对从所述光发射器(306)接收的光进行测量；以及处理器(128)，所述处理器基于对由所述光发射器(306)发射的光与由所述光接收器(312)接收的光进行比较，确定所述导电板(106)上的所述杂质(112)的大小、形状以及位置中的至少一者。7.根据权利要求6所述的增材制造系统(100)，其中，所述波导是第一集合的波导(302)，所述光发射器(306)是第一光发射器(306)，所述光接收器是第一光接收器(312)，并且其中，所述增材制造系统(100)还包括：第二集合的波导(304)，所述第二集合的波导在所述导电板(106)上，其中，所述第二集合的波导(304)与所述第一集合的波导(302)相交；第二光发射器(308)，所述第二光发射器位于所述第二集合的波导(304)的第一末端处，用于发射光，以使该光通过所述第二集合的波导(304)；第二光接收器(310)，所述第二光接收器位于所述第二集合的波导(304)的第二末端处，所述第二光接收器对来自所述第二光发射器(308)的光进行测量；并且其中，所述处理器(12...
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