一种适用于OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种适用于OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置，具体涉及光学膜杂质检测技术领域，包括包括装置主体和支撑柱，所述回收箱的顶部安装有杂质清除装置，检测装置11由开关1101、数据转换块1202、控制台1103和显示屏1104共同配合组成检测机构，使用者用手打开开关1101，通过控制台1103操控抓装置主体1进行检测，线路9将检测信号传送至ccd相机10，然后ccd相机拍照后并将此信号传输回检测装置11，数据转换块1102将传送回的信号转换并且在显示屏1104上显示，通过和无杂质的光学膜数据进行对比，达到检测光学膜表面是否含有杂质的作用。质的作用。质的作用。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置


[0001]本技术涉及光学膜表面杂质检测
，更具体地说，本技术涉及一种适用于OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置。

技术介绍

[0002]在光学膜表面杂质检测
，光学膜表面杂质检测装置的作用是准确高效的检测出光学膜表面的杂质，现有的大部分检测环节都是人工用肉眼检测，但是人的肉眼极难分辨出光学膜表面细微的杂质，而且在人工长时间进行检测工作后，容易产生视觉疲劳，影响检测的效率，这样的操作极其耗费人力和物理，成本极大，且不能达到预期的检测效果。
[0003]现亟需一款可以节省人力物力，并且达到良好检测效果的光学膜表面杂质检测装置，解决以上问题。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的实施例提供一种适用于 OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置，本技术所要解决的问题是：现有的大部分检测环节需要人工操作，这样的操作极其耗费人力和物理，成本极大，而且在人工长时间进行检测工作后，容易产生视觉疲劳，影响检测的效率，不能达到预期的检测效果。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于OLED光学制程膜表面杂质自动检测装置，包括装置主体(1)和支撑柱(2)，所述支撑柱(2)位于装置主体(1)的底部，其特征在于：所述支撑柱(2)的顶部固定连接有运输带(4)，所述运输带(4)的内部安装有滚轮(3)，所述运输带(4)的内部中部有电机(5)，所述电机(5)的外侧安装有回收箱(6)，所述回收箱(6)的顶部安装有杂质清除装置(12)，所述杂质清除装置(12)的底部安装有自动伸缩杆(1201)，所述自动伸缩杆(1201)的底部安装有推板(1202)，所述推板(1202)的顶部安装有固定钢筋(1203)，所述固定钢筋(1203)的一侧安装有ccd相机(10)，所述ccd相机(10)的一侧连接有补光灯(7)，所述补光灯(7)的底部安装有承台(8)，所述承台(8)的一侧安装有检测装置(11)，所述检测装置(11)的底部安装有显示屏(1104)，所述显示屏(1104)的底部安装有数据转换块(1102)，所述数据转换块(1102)的底部一侧安装有控制台(1103)，所属控制台(1103)的另一侧安装有开关(1101)。2.根据权利要求1所述的一种适用于OLED光学制程膜表...

【专利技术属性】
技术研发人员：余楚钰，
申请(专利权)人：深圳清大中康科技有限公司，
类型：新型
国别省市：