一种电芯测量的连接结构制造技术

技术编号:32652023 阅读:37 留言:0更新日期:2022-03-17 10:58
本实用新型专利技术公开一种电芯测量的连接结构,包括设在电芯测量装置的称重支架、第一对接机构、电芯挂架、第二对接机构和驱动装置;第一对接机构包括连接在称重支架上的至少一对与电芯测量装置电性连接的第一接触铜片,该对第一接触铜片的间距向下逐渐增大;第二对接机构包括连接在电芯挂架上的至少一对与电芯电性连接的第二接触铜片,该对第二接触铜片的间距沿竖直向上逐渐减小;驱动装置用于驱动电芯挂架带动第一、二接触铜片接触或分离。本实用新型专利技术的第一、二接触铜片均是倾斜设置,且同侧两种铜片倾斜方向一致,在电芯挂架对准称重支架并升起过程中,两者可以稳定地接触,实现电芯测量装置与电芯支架的快速连接、分离,以完成测量、提高测量精度。提高测量精度。提高测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种电芯测量的连接结构


[0001]本技术涉及电芯测量
,特别是指一种电芯测量的连接结构。

技术介绍

[0002]电芯的外观尺寸和相关电学参数都有着严格的要求。现有的电芯测量设备在工作时只能进行单个电芯测量,即一套测量装置对应一个电芯的方式。当需要测量批量的电芯时,需要频繁在电芯支架上更换电芯,流程更加繁琐,大大增加了工作量;或者是采用多套测量设备进行测量,则会增加成本,并且由于电芯测量大多数是对电芯进行定期循环测量,采用一套测量装置对应一个电芯的方式,测量装置在大部分时间内均处于不工作的状态,无疑是一种资源浪费。
[0003]为此,需要有一台可以实现“一对多”的电芯测量设备,通过移动装置带动测量装置在各电芯支架间移动,并实现对接,以对支架上的电芯进行测量。而目前该电芯测量设备实现的难点在于,如何能够保证移动装置带动测量装置移动到相应位置后快速、准确地与电芯实现对接,避免接触不良而影响测量结果。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种电芯测量的连接结构,可以实现电芯测量装置与电芯支架的快速连接、分离,以提高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电芯测量的连接结构,其特征在于:包括设置在电芯测量装置上的称重支架、第一对接机构、电芯挂架、第二对接机构和驱动装置;所述第一对接机构包括连接在所述称重支架上的至少一对与电芯测量装置电性连接的第一接触铜片,该对第一接触铜片的间距沿竖直向下方向逐渐增大;所述第二对接机构包括连接在所述电芯挂架上的至少一对与电芯电性连接的第二接触铜片,该对第二接触铜片的间距沿竖直向上方向逐渐减小;所述驱动装置用于驱动所述电芯挂架升起或降下,以使所述第一接触铜片与所述第二接触铜片接触或分离。2.如权利要求1所述的一种电芯测量的连接结构,其特征在于:所述第一对接机构包括两对所述第一接触铜片,两对第一接触铜片分别设置在所述称重支架的两端;所述第二对接机构包括两对所述第二接触铜片,两对第二接触铜片分别设置在所述电芯挂架的两端。3.如权利要求2所述的一种电芯测量的连接结构,其特征在于:所述第一对接机构...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄巍颜旭涛齐琼琼张兴华王益
申请(专利权)人:元能科技厦门有限公司
类型:新型
国别省市:

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