一种二极管器件状态检测系统及方法技术方案

本申请中一个或多个实施例提供一种二极管状态检测系统及方法，包括：检测二极管和光纤发射器，所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联；所述待测二极管与所述检测二极管同向。本申请直接利用待测二极管的通态电压降为检测系统提供检测电源，避免隔离供电，实现了对脉冲功率用隔离二极管的无源检测，提高了对二极管器件状态检测的可靠性，提高了检测系统的适用范围。的适用范围。的适用范围。

【技术实现步骤摘要】
一种二极管器件状态检测系统及方法


[0001]本申请中一个或多个实施例涉及器件状态检测
，尤其涉及一种二极管器件状态检测系统及方法。

技术介绍

[0002]现有技术中，由于储能及开关器件限制，一般采用多路电源模块并联实现大的脉冲功率输出，大电流直流系统的故障保护作为技术难点一直没有得到很好的解决。为保证多电源模块并联时的可靠性，需要能够在模块故障时保证系统正常工作，从而引入输出隔离二极管，实现故障时能量的单向流动，防止故障扩大。但是，现有技术中由于现有无源半导体状态检测主要依靠阻断电压，二极管在击穿后对系统正常工作无明显影响，造成二极管器件状态检测可靠性低，且无法利用无源检测对二极管器件状态进行检测的问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请中一个或多个实施例的目的在于提出一种二极管器件状态检测系统及方法，以解决现有技术存在二极管器件状态检测可靠性低且无法利用无源检测对二极管器件状态进行检测的问题。
[0004]基于上述目的，本申请中一个或多个实施例提供了一种二极管器件状态检测系统，包括：
[0005]检测二极管和光纤发射器，所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联；所述待测二极管与所述检测二极管同向。
[0006]可选的，所述二极管器件状态检测系统，还包括：稳压管；所述稳压管与所述光纤发射器并联。
[0007]可选的，所述二极管器件状态检测系统，还包括：保护二极管；所述保护二极管与所述光纤发射器并联，所述保护二极管与所述检测二极管反向。
[0008]可选的，所述二极管器件状态检测系统，还包括：限流电阻；所述限流电阻与所述检测二极管串联。
[0009]基于同一专利技术构思，本申请中一个或多个实施例还提出了一种二极管器件状态检测方法，包括：
[0010]向待测二极管通入脉冲电流；
[0011]基于所述脉冲电流获取检测二极管和光纤发射器的反馈状态；所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联；所述待测二极管与所述检测二极管同向；
[0012]根据所述检测二极管和光纤发射器的反馈状态确定所述待测二极管的器件状态的检测结果。
[0013]可选的，向所述待测二极管通入脉冲电流后，还包括：
[0014]获取所述待测二极管两端电压；
[0015]获取所述检测二极管两端电压和光纤发射器两端电压。
[0016]可选的，所述基于所述脉冲电流获取检测二极管和光纤发射器的反馈状态，包括：
[0017]根据所述待测二极管两端电压、检测二极管两端电压和光纤发射器两端电压判断所述光纤发射器的发光状态；
[0018]若所述待测二极管两端电压大于所述检测二极管两端电压和光纤发射器两端电压之和，则所述光纤发射器发光。
[0019]可选的，当所述待测二极管击穿后，所述光纤发射器不发光。
[0020]可选的，所述根据所述检测二极管和光纤发射器的反馈状态确定所述待测二极管的器件状态的检测结果，包括：
[0021]根据所述光纤发射器的发光状态监测所述光纤发射器的光信号；
[0022]根据所述光纤发射器的光信号确定所述待测二极管的电路参数波形。
[0023]可选的，还包括：
[0024]根据所述待测二极管的电路参数波形确定所述待测二极管的器件状态的检测结果。
[0025]从上面所述可以看出，本申请中一个或多个实施例提供的一种二极管器件状态检测系统及方法，包括：检测二极管和光纤发射器，所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联，根据并联原理，直接利用待测二极管的通态电压降提供检测电源，避免隔离供电，实现对二极管器件状态检测的无源检测；由于检测二极管为高压小电流的二极管，所以能够保证脉冲大电流只通过待测二极管，使得利用待测二极管的通态电压降提供的检测电源更加稳定，而且利用光纤发射器在承受超过阈值的电压或电流时会发光的特性，利用光纤发射器的发光状态进一步检测待测二极管的器件状态是否正常；所述待测二极管与所述检测二极管同向，保证脉冲电流的正常流通，通过通态电压降实现状态检测，采用正常工作无反向阻断态，且仅通过脉冲大电流的待测二极管器件，实现能够适用于脉冲功率二极管器件的无源检测，提高了对二极管器件状态检测的可靠性。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本申请中一个或多个实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中一个或多个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1为本申请中一个或多个实施例中一种二极管器件状态检测系统的电气拓扑结构图；
[0028]图2为本申请中一个或多个实施例中脉冲电源模块典型应用电路的电气拓扑结构图；
[0029]图3为本申请中一个或多个实施例中一种二极管器件状态检测方法的流程图；
[0030]图4为本申请中一个或多个实施例中二极管器件正常工作端电压和故障工况端电压的波形图。
具体实施方式
[0031]为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。
[0032]需要说明的是，除非另外定义，本申请中一个或多个实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请中一个或多个实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0033]本申请中一个或多个实施例提供了一种二极管器件状态检测系统及方法。
[0034]专利技术人通过研究发现随着脉冲功率电源应用的发展，由于储能及开关器件的限制，一般采用多路电源模块并联实现大的脉冲功率电流流出，而大电流直流系统的故障保护作为其中一个技术难点，暂时没有得到很好的解决。为了保证多电源模块并联时的可靠性，需要能够在模块故障时保证系统正常工作，部分应用中引入输出隔离二极管，实现故障时能量的单向流动，防止故障扩大。但是现有技术中无源半导体状态检测主要依靠阻断电压，而没有一种能够适用于脉冲功率器件的通态电压的无源检测系统或方法。而多电源模块并联输出的脉冲功率系统中，在电源模块输出端口串接二极管组件，以保证电源模块突发故障时的能量单向流动，限制故障范围，但是二极管器件在正常工作状态下不承受本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管器件状态检测系统，其特征在于，包括：检测二极管和光纤发射器，所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联；所述待测二极管与所述检测二极管同向。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述二极管器件状态检测系统，还包括：稳压管；所述稳压管与所述光纤发射器并联。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述二极管器件状态检测系统，还包括：保护二极管；所述保护二极管与所述光纤发射器并联，所述保护二极管与所述检测二极管反向。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述二极管器件状态检测系统，还包括：限流电阻；所述限流电阻与所述检测二极管串联。5.一种根据权利要求1—4任意一项所述一种二极管器件状态检测系统的二极管器件状态检测方法，其特征在于，包括：向待测二极管通入脉冲电流；基于所述脉冲电流获取检测二极管和光纤发射器的反馈状态；所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联；所述待测二极管与所述检测二极管同向；根据所述检测二极管和光纤发射器的反馈状态确定所述待测二极...

【专利技术属性】
技术研发人员：王才孝，李先强，李幼保，王桂华，陈洁莲，高原，杨磊，许汝波，
申请(专利权)人：中车株洲电力机车研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：