三维角度传感器校准检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了三维角度传感器校准检测系统及方法，系统包括角度测试转台、数据采集装置和上位机。角度测试转台用于安装多个三维角度传感器，并控制三维角度传感器进行三维转动；数据采集装置用于采集角度测试转台上安装的多个三维角度传感器输出的数据；上位机用于接收数据采集装置采集到的数据，对三维角度传感器进行校准和检测，并控制角度测试转台的转动状态。本发明专利技术中的三维角度传感器校准检测系统，可实现不改变轴向安装位置情况下，同时实现三维的校准与检测两个工序，而且可同时进行多个三维角度传感器的校准与检测，提升了产品一致性，降低了成本，提高了校准与检测效率。提高了校准与检测效率。提高了校准与检测效率。

【技术实现步骤摘要】
三维角度传感器校准检测系统及方法


[0001]本专利技术涉及传感器校准
，特别涉及三维角度传感器校准检测系统及方法。

技术介绍

[0002]三维角度传感器主要用于测量被测物发生的翻转和俯仰角，使用时将传感器固定于被测物的表面，当被测物发生倾斜，即可通过传感器读取其倾斜角度。
[0003]三维角度传感器出厂时需要进行校准及检测，校准就是利用精度比传感器高一级的标准器具对传感器进行标定的过程，在校准后还需对所校准的传感器进行检测。一般用来对三维角度传感器进行校准及检测的设备的工位较少，一次只能对一个或少数几个传感器进行校准和检测，而且校准及检测过程需要较多的人工干预，例如更换传感器的轴向安装位置、更换检测工序等多个环节都需要人工操作，导致现有的角度传感器校准和检测流程操作复杂，效率低下。因此，需要提供一种便捷、高效的校准及检测系统及相应的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了三维角度传感器校准检测系统及方法，用以解决现有技术中角度传感器校准和检测流程操作复杂，效率低下的问题。/>[0005]一方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.三维角度传感器校准检测系统，其特征在于，包括：角度测试转台(4)，用于安装多个三维角度传感器，并控制三维角度传感器进行三维转动；数据采集装置(2)，用于采集所述角度测试转台(4)上安装的多个三维角度传感器输出的数据；上位机(1)，用于接收所述数据采集装置(2)采集到的数据，对三维角度传感器进行校准和检测，并控制所述角度测试转台(4)的转动状态。2.根据权利要求1所述的三维角度传感器校准检测系统，其特征在于，还包括：信号线(3)，用于通信连接所述角度测试转台(4)和上位机(1)，以及用于通信连接所述数据采集装置(2)和上位机(1)。3.根据权利要求1所述的三维角度传感器校准检测系统，其特征在于，所述角度测试转台(4)包括：驱动装置，与所述上位机(1)通信连接；旋转安装平台，具有多个安装工位，所述安装工位用于安装三维角度传感器，所述旋转安装平台在所述驱动装置的驱动下进行三维转动。4.三维角度传感器校准检测方法，其特征在于，包括：将三维角度传感器安装在如权利要求1
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3任一项所述的三维角度传感器校准检测系统中，进入校准流程；在校准流程中，对三维角度传感器上电；获取至少一轴的校准确定信号；当至少一轴的校准确定信号在预设的校准参数范围内时，对相应的开关量信号设定的角度阈值进行校准；在一轴的校准完成后，确定是否存在多通道的校准完成确定信号；若存在多通道的校准完成确定信号，则进入检测流程；在检测流程中，获取至少一轴的检测确定信号；当至少一轴的检测确定信号在预设的检测参数范围内时，对相应的开关量信号设定的角度阈值进行检测；在一轴的检测完成后，确定是否存在多通道的检测完成确定信号；若存在多通道的检测完成确定信号，则检测流程结束。5.根据权利要求4所述的三维角度传感器校准检测方法，其特征在于，所述获取至少一轴的校准确定信号，包括：确定X轴、Y轴和Z轴的方向以及所述校准参数；在三维角度传感器上电后的预定时间内，确定是否存在需要校准的通道；如果存在需要校准的通道，确定三维角度传感器所在的校准通道；确定所述校准通道后，确定是否获取至少一轴的校准确定信号。6.根据权利要求4所述的三维角度传感器校准检测方法，其特征在于，所述当至少一轴的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周妤，朱颖，吴垠昊，周钰杰，陈平易，梁雪，李照，贺立龙，
申请(专利权)人：西安创联电气科技集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：